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表面栅BSIT的栅源低击穿问题研究

Research on the gate-source breakdown of the planar gate BSIT
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摘要 通过对DX0231型BSIT栅源低击穿问题的分析,讨论了设计、材料、环境、设备等因素对表面栅BSIT栅源击穿的影响,指出了提高栅源击穿的努力方向。 By analyzing the reason of decreasing the Gate-Source breakdown voltage of planargate BSIT(Bipolar-mode Static Induction Transistor),the factor to effect the performance of Gate-Source junction is enumerated, such as design, material, environment, operation, equipment, etc.The way to improve the Gate-Source breakdown voltage is indicated.
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第10期78-81,共4页 Semiconductor Technology
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参考文献3

  • 1BJ巴利伽 王正元 刘长吉译.硅功率场控器件和功率集成电路[M].北京:机械工业出版社,1986..
  • 2西泽润一 等.双极型SIT (BSIT)[J].(日)电子材料,1978,17(12):51-51.
  • 3BJ巴利伽 王正元 刘长吉译.硅功率场控器件和功率集成电路[M].北京:机械工业出版社,1986..

共引文献1

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