摘要
由于卤化银颗粒有特殊的光敏感性 ,使得对其表面精细结构的观察受到很大的限制。AFM的问世解决了这个问题。综合叙述了国内外应用AFM对卤化银照相乳剂中的晶体形貌的观察。
The observation of the morphology of the silver halide crystal surface was limited because of the light sensitivity of silver halide grains. However the AFM provides a powerful method to solve this problem.The application to observing the crystals is reviewed briefly.
出处
《信息记录材料》
2004年第1期45-50,共6页
Information Recording Materials
基金
国家自然科学基金资助项目 (2 0 0 73 0 13 )
