题名 一种低电源电压灵敏度RC振荡器的设计
被引量：10
1
作者
刘超 李昌红 于臻 冯纯益 张军 于奇
机构
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第1期30-33,共4页
文摘
基于传统RC振荡器的理论分析,采用电阻串分压提供参考电压的方式,设计了一种低电源电压灵敏度的振荡器。基于HHNEC 0.5μm BiCMOS工艺,完成了HSPICE仿真。仿真结果显示,该振荡器输出一个频率为63kHz、占空比为50%的方波信号,当电源电压在4.5～5.5V之间变化时,频率变化范围在±0.52%内,有效降低了电源电压对振荡频率的影响。该振荡器可应用于开关电源芯片。
关键词
低电源电压灵敏度 RC振荡器 电阻串
Keywords
Low supply voltage sensitivity RC oscillator Resistor string
分类号
TN752
[电子电信—电路与系统]
题名 一种全MOS低温漂电压基准源的研究
被引量：1
2
作者
宋文青 于奇 冯纯益 张军 朱波 郑杰
机构
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第2期210-212,217,共4页
基金
中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(ZYGX2010J040)
文摘
通过利用改进型低压Tracking-VGS结构的栅源电压差ΔVGS,对NMOS晶体管的阈值电压进行补偿,提出一种全MOS低温漂电压基准源结构,获得了电源抑制特性较好的低温漂基准电压。基于2.5V65nm标准CMOS工艺,对电路进行HSPICE仿真验证。结果显示:在-40℃～125℃温度范围内,基准电压为1.1V,温度系数为1.6×10-5/℃,电源抑制比为-51dB。
关键词
Tracking-VGS 温度补偿 NMOS栅源电压 电压基准源
Keywords
Tracking-VGS Temperature compensation NMOS gate-source voltage Voltage reference source
分类号
TN432
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TN453
[电子电信—微电子学与固体电子学]
题名 一种采用电阻串复用结构的12位SAR ADC
被引量：3
3
作者
关允超 宁宁 张军 杜翎 吴克军 范洋 冯纯益
机构
电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第3期311-314,共4页
基金
国家教育部博士点基金(200806141100)
文摘
针对带数字校准功能的逐次逼近模/数转换器(SAR ADC),提出将主DAC、校准DAC和基准电压产生电路的电阻串进行复用,从而显著减少了芯片面积,降低了功耗。相比6+6两段电容结构DAC,采用电阻电容混合结构的主DAC和校准DAC节约了37%的版图面积。在0.18μm CMOS工艺下,通过Hspice仿真,SAR ADC的DNL和INL均小于0.4LSB,SNR为75dB。系统正常工作时,总功耗为3.1mW,比不采用电阻串复用的结构减少0.9mW。
关键词
模/数转换器 电阻串复用 逐次逼近寄存器 数字校准
Keywords
A/D converter Resister string sharing Successive approximation register Digital calibration
分类号
TN432
[电子电信—微电子学与固体电子学]
题名 0.35μm高速真随机数芯片设计
4
作者
侯二林 朱翔 冯纯益 张建国 王云才
机构
太原理工大学新型传感器与智能控制教育部和山西省重点实验室 成都三零嘉微电子有限公司
出处
《太原理工大学学报》
CAS
北大核心
2019年第6期842-846,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(61475111,61775158) 山西省回国留学人员科研资助项目(2017-重点2)
文摘
设计了一种基于混合布尔网络的混沌真随机数发生器,其熵源由18节点自治布尔网络构成,用于产生高幅值(~3V)、大带宽(~780 MHz)的布尔混沌;利用同步布尔网络对布尔混沌进行采样、量化,最终实现了实时速率为100 Mbps的真随机数产生。同时完成了真随机数发生器的ASIC芯片设计,芯片采用中芯国际SMIC 0.35μm 3.3 V CMOS标准工艺,核心电路面积0.02 mm^2.利用Cadence Spectre仿真器,对芯片版图进行了后端仿真验证。仿真结果表明,该芯片可以在100 MHz时钟下输出满足随机性检测标准的真随机数序列。
关键词
ASIC 布尔混沌 随机数发生器 随机性测试 自治布尔网络
Keywords
ASIC boolean chaos random number generator random test autonomous boolean network
分类号
TN249
[电子电信—物理电子学]
题名 一种用于安全芯片的光检测防护电路
5
作者
朱翔 范伟力 冯纯益 何卫国
机构
成都三零嘉微电子有限公司 保密通信重点实验室
出处
《通信技术》
2017年第7期1581-1586,共6页
文摘
安全芯片自身的安全性非常重要。它受到众多的安全威胁和攻击,其中光攻击是一种重要的攻击手段。因此,提出了一种用于安全芯片的光检测防护电路,可有效实现对光攻击的检测和防护,从而提升安全芯片的安全性。电路采用基于电流比较的结构实现,无需使用大电阻和运放,降低了电路复杂度,减小了电路面积,同时增加了暗电流消除功能,可有效减少温度等环境条件的干扰。电路采用标准CMOS工艺实现,可直接集成在安全芯片中使用,具有较好的实用价值。
关键词
安全芯片 光攻击 光检测与防护 电流比较
Keywords
security chip light attack light detection and protection current comparison
分类号
TP309
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
题名 基于一款安全SoC芯片的物理验证方案
6
作者
程福军 冯纯益 朱翔
机构
成都三零嘉微电子有限公司
出处
《中国集成电路》
2020年第12期54-58,62,共6页
文摘
物理验证是集成电路设计流程中的一个重要步骤。本文介绍了一款安全SoC(System on chip)芯片物理验证方案,所验证的SoC芯片为300万门量级,包括LDO、OSC、SRAM、eFlash等电路模块。采用Mentor公司的Calibre工具进行物理验证,包括DRC(Design rule check)、ANT(Antenna rule check)、LVS(Layout versus schematic),并对存在的问题做了分析处理。Calibre提供丰富的脚本命令和可视化界面,能够快速、高效的定位问题,提高工作效率,缩短了芯片设计的周期。
关键词
物理验证 可视化界面 SOC芯片 FLASH 电路模块 定位问题 脚本命令
分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
