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题名流态化过渡状态描述
被引量：4
- 1
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作者
刘得金
李洪钟
李连轩
张建国
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机构
中国科学院化工冶金研究所多相开放实验室
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出处
《化工学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1994年第3期334-341,共8页
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基金
中国石油化学工业总公司发展部资助项目.
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文摘
用模糊集合描述流化床的状态,从流化床空隙率脉动谱归纳出其不均匀度作为模糊集合的隶属函数.流化床在任何状态下的不均匀度或聚式化度都可用0～l之间的1个数值表示.对液固流态化和气固流态化实验进行观测和描述说明,模糊数学方法能够反映流化床两相结构的存在、漂移和转化,也能体现密度、粘度、粒度和表面性质的因素对流态化状态的影响.
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关键词
模糊集合
流态化
空隙
流化床
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Keywords
fuzzy sets,fluidization patterns,voidage spectrum
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分类号
TQ051.13
[化学工程]
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题名固体表面活性对液固流态化的影响
被引量：2
- 2
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作者
刘得金
李洪钟
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机构
中国科学院化工冶金研究所多相开放实验室
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出处
《化工冶金》
CSCD
北大核心
1994年第2期183-186,共4页
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基金
中国石油化学工业总公司发展部的大力资助
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文摘
用硅烷化试剂对改性聚苯醚（PPO）颗粒进行表面脱活性处理，发现其流化性能得到改善，同时水在颗粒间流动的阻力略有减小。
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关键词
表面能
表面活性
液固流态化
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Keywords
Surface energy, Surface activation, Liquid fluidization homogeneity
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分类号
TB126
[理学—工程力学]
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题名用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程
- 3
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作者
刘得金
史峥
胡龙跃
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机构
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
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出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
2014年第2期314-316,共3页
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基金
国家自然科学基金资助项目"面向28-14nm的高空间分辨率工艺偏差在线检测关键技术研究"(61204111)
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文摘
在工艺开发包的验证过程中,需要手动地在版图编辑器中对参数化单元进行实例化和摆放绕线,由此产生大量测试芯片。为此,提出一种用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程,采用软件接口产生Skill脚本和工艺开发包交互,以获取工艺开发包的信息、发送命令对工艺开发包进行操作的方法,能自动地对参数化单元予以实例化,自动地摆放绕线,并实现测试芯片版图的布局规划。用该软件接口针对某代工厂的40 nm半导体工艺开发包开发一套测试芯片,产生一条测试芯片的平均时间为5.2 s左右,结果证明该方法是有效的,能缩短工艺开发包的验证时间。
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关键词
工艺开发包
测试芯片
参数化单元
实验数据设计
可制造性设计
电子设计自动化
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Keywords
process development
test chip
parameterized cell
design of experimental data
design of manufacturability
electronicdesign automation
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分类号
TP331
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名组合式快速流态化床的初步研究
- 4
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作者
刘得金
郑传根
李洪钟
郭慕孙
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机构
中国科学院化工冶金研究所多相开放实验室
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出处
《化工冶金》
CSCD
北大核心
1993年第1期63-67,共5页
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文摘
1 前言常规快速流化床(见图1)的基本流动规律已经得到了广泛的研究,近年来,CFB 的结构如固体入口和产品出口等对流动的影响也见报导.尽管还没有足够的数据对 CFB 进行详细的定量分析,但常规 CFB 的固有缺点,如进出口的不对称以及在高温过程中各组件不同的热膨胀,引发了将其四个主要部分组合于单柱中的思想,这就产生了组合式快速流化床(ICFB).如图2所示,ICFB 具有同心套管式结构,环隙为快速流化床,中心管为内旋风分离器的下料腿。从快速流化床扬析的固体颗粒被多入口旋风分离器(MIC)分离后,下降到流态化下料腿中,然后经圆周形 V 型阀(CV)排入环隙快速床中重新循环.两管的流化气体分别通入,使下料腿在临界流态化速度或稍高的气速下流化.
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关键词
快速流化床
旋风分离器
V型阀
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Keywords
Circulating
fluidized bed
Multiple inlet cyclone
Circular V-valve
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分类号
TF061
[冶金工程—冶金物理化学]
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题名高效率集成电路测试芯片设计方法
被引量：2
- 5
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作者
胡龙跃
史峥
刘得金
邵康鹏
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机构
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
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出处
《计算机工程与应用》
CSCD
2013年第11期54-57,共4页
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基金
国家自然科学基金(No.61204111)
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文摘
对生成测试芯片效率进行研究,提出了一种采用版图编辑器作图和批量参数化建模设计方法。缩短了设计周期,降低了设计难度。依据该方法,开发了一套针对工艺开发包的测试芯片,实验结果验证了其高效性。
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关键词
超大规模集成电路
测试芯片
开尔文结构
工艺开发包
组件描述格式
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Keywords
Very Large Scale Integrated circuits （VLSI）
test chip
Kelvin structure
Process Design Kit （PDK）
Component Description Format（CDF）
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分类号
TP311.1
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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