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一种基于EDT的低功耗可测性设计技术研究
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作者 陈首智 王小力 张先娆 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2013年第11期159-164,共6页
本文介绍了一种基于EDT的低功耗可测性设计技术,并提出该技术在设置功耗阈值时的优化方案.该低功耗可测性设计技术通过对测试图形进行0填充,使电路在测试过程中的WSA得到有效降低,从31.55%优化到了25.12%.通过设置功耗阈值,降低了测试... 本文介绍了一种基于EDT的低功耗可测性设计技术,并提出该技术在设置功耗阈值时的优化方案.该低功耗可测性设计技术通过对测试图形进行0填充,使电路在测试过程中的WSA得到有效降低,从31.55%优化到了25.12%.通过设置功耗阈值,降低了测试功耗峰值,实验电路的LST最大值从49.76%优化到21.21%,RST最大值从45.73%优化到25.00%,并使WSA和SET的最大值得到相应优化.理论研究和实验表明,缩短扫描链长度能够有效提高设置功耗阈值时的测试覆盖率. 展开更多
关键词 EDT 低功耗可测性设计 WSA 功耗阈值
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