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炸药模拟裂纹宽度的CT检测与测量分析
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作者 王慧 戴斌 +4 位作者 陈华 宫志桢 吴松 刘晨 张才鑫 《无损检测》 CAS 2024年第7期19-24,共6页
炸药作为武器系统的核心部件,其内部结构质量直接关系到武器系统的可靠性,目前CT技术已被用于炸药试件的内部质量检测与评价研究,特别用于炸药试件内部裂纹的定性与定量分析中。然而选择不同的检测工艺参数会造成CT图像质量的变化,直接... 炸药作为武器系统的核心部件,其内部结构质量直接关系到武器系统的可靠性,目前CT技术已被用于炸药试件的内部质量检测与评价研究,特别用于炸药试件内部裂纹的定性与定量分析中。然而选择不同的检测工艺参数会造成CT图像质量的变化,直接影响到后续定量表征的精度。通过在炸药试件表面加工不同宽度的标准尺寸线槽,再将其与相同规格的炸药试件对粘,以实现在炸药试件内部预制标准尺寸裂纹的目的。然后,改变检测参数与工艺条件,得到不同检测参数对试件裂纹宽度测量精度的影响规律,分析讨论了CT测量炸药试件(如尺寸小于10 mm的始发药等)裂纹宽度的最佳检测工艺条件。 展开更多
关键词 CT技术 预制裂纹 尺寸测量 炸药
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基于深度学习的PBX裂纹像素级识别方法
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作者 吕亮亮 张伟斌 +4 位作者 李公平 潘小东 张才鑫 杨亚飞 张催 《含能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第5期545-553,共9页
高聚物粘结炸药(Polymer Bonded Explosive,PBX)内部裂纹对其性能及可靠性具有明显影响,裂纹的精确识别是PBX内部质量检测的关键。针对PBX内部裂纹识别,基于U-Net和SegNet两种像素级图像识别网络,建立了5种深度学习网络,对比研究了网络... 高聚物粘结炸药(Polymer Bonded Explosive,PBX)内部裂纹对其性能及可靠性具有明显影响,裂纹的精确识别是PBX内部质量检测的关键。针对PBX内部裂纹识别,基于U-Net和SegNet两种像素级图像识别网络,建立了5种深度学习网络,对比研究了网络连接方式和预训练模型对裂纹识别的影响。基于CT获取的PBX裂纹图建立了数据集,对5种网络进行了训练,采用准确率(A)、F1值(F1)和平均交并比(MIoU)指标对网络进行了评估,在此基础上选择细节识别性能最优的网络用于PBX裂纹的识别和量化分析。结果表明,针对裂纹像素级识别,U-Net型网络优于Seg-Net型网络,网络中Concatenate操作比Pooling Indices操作保留更多图像细节信息,采用预训练模型MobileNet和ResNet可以提高网络训练速度,但导致其裂纹像素级识别性能降低。利用建立的识别方法开展PBX裂纹识别研究,实现了对PBX裂纹的像素级识别,裂纹检出率0.9570,单像素识别准确率为0.9936,MIoU为0.9873,相对裂纹面积为0.7585。 展开更多
关键词 高聚物粘结炸药(PBX) CT图像 深度学习 像素级裂纹识别
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半导体缺陷的电子结构计算方法研究进展
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作者 李晨慧 张陈 +3 位作者 蔡雪芬 张才鑫 袁嘉怡 邓惠雄 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第6期34-47,共14页
半导体材料的掺杂与缺陷调控是实现其应用的重要前提.基于密度泛函理论的第一性原理缺陷计算为半导体的掺杂与缺陷调控提供了重要的理论指导.本文介绍了第一性原理半导体缺陷计算的基本理论方法的相关发展.首先,介绍半导体缺陷计算的基... 半导体材料的掺杂与缺陷调控是实现其应用的重要前提.基于密度泛函理论的第一性原理缺陷计算为半导体的掺杂与缺陷调控提供了重要的理论指导.本文介绍了第一性原理半导体缺陷计算的基本理论方法的相关发展.首先,介绍半导体缺陷计算的基本理论方法,讨论带电缺陷计算中由周期性边界条件引入的有限超胞尺寸误差,并展示相应的修正方法发展.其次,聚焦于低维半导体中的带电缺陷计算,阐述凝胶模型下带电缺陷形成能随真空层厚度发散的问题,并介绍为解决这一问题所引入的相关理论模型.最后,简单介绍了缺陷计算中的带隙修正方法及光照非平衡条件下掺杂与缺陷调控理论模型.这些工作可以为半导体,特别是低维半导体,在平衡或非平衡条件下的缺陷计算提供指导,有助于后续半导体中的掺杂和缺陷调控工作的进一步发展. 展开更多
关键词 半导体缺陷计算 镜像电荷修正 低维半导体缺陷物理 非平衡掺杂
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造型颗粒统计特征参量CT量化表征方法 被引量:2
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作者 张催 张才鑫 +4 位作者 杨亚飞 戴斌 杜宇 陈华 张伟斌 《含能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第12期1262-1268,共7页
为了量化表征造型颗粒结构统计特征参量,基于显微CT、图像处理与统计分析技术开展了造型颗粒统计特征参量表征方法研究,利用该方法对TATB基造型颗粒统计特征参量进行表征并用筛网筛分实验对表征结果进行了验证,对表征结果的稳定性和重... 为了量化表征造型颗粒结构统计特征参量,基于显微CT、图像处理与统计分析技术开展了造型颗粒统计特征参量表征方法研究,利用该方法对TATB基造型颗粒统计特征参量进行表征并用筛网筛分实验对表征结果进行了验证,对表征结果的稳定性和重复性进行了评估。结果表明,该方法可实现对造型颗粒粒径、形貌、孔隙、密度、堆积特性的量化表征,TATB基造型颗粒的粒径与球形度分别近似服从指数高斯和韦伯分布,本征密度1.35 g·cm^(-3),可见孔隙率2.3%(空间分辨率14.3μm),体积分数0.69。评估实验表明该方法具有较好准确性,表征结果具有较好的稳定性和重复性,粒径表征结果与筛网筛分结果相符,主要统计特征参量在不同时间段的测量结果相对偏差小于1%,形貌和孔隙特性表征结果受样品堆积状态影响相对较大。 展开更多
关键词 造型颗粒 特征参量 显微CT 图像处理 高聚物粘接炸药(PBX)
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基于标定量具的快速锥束CT几何校准方法 被引量:3
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作者 张才鑫 黄魁东 陈华 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第1期175-182,共8页
锥束CT的几何参数不准确会导致重建图像出现伪影,影响分析与判断。为快速可靠地获取锥束CT的几何参数,提出了一种基于标定量具的锥束CT几何参数校准方法。标定量具的基本结构为有机玻璃管内置金属细丝,外嵌金属球;通过获得量具一定幅数... 锥束CT的几何参数不准确会导致重建图像出现伪影,影响分析与判断。为快速可靠地获取锥束CT的几何参数,提出了一种基于标定量具的锥束CT几何参数校准方法。标定量具的基本结构为有机玻璃管内置金属细丝,外嵌金属球;通过获得量具一定幅数的单圆轨迹扫描投影,并将得到的投影图像进行叠加,根据叠加图像的对称特性,进行对称轴拟合,所得对称轴即为旋转轴投影,通过金属球轨迹与旋转轴交点的比例关系求得射束中心的坐标;最后,利用量具平移一定距离后的投影,结合量具外轮廓直径和投影的几何关系,计算出源到旋转中心及探测器的距离。实验结果表明,该方法可以获得可靠的锥束CT几何参数,具有校准速度快、鲁棒性强的特点。 展开更多
关键词 锥束CT 几何参数 校准 边缘检测
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PBX代用材料损伤演化原位CT研究 被引量:6
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作者 许盼盼 陈华 +7 位作者 解社娟 戴斌 刘晨 张才鑫 周海强 陈洪恩 张伟斌 陈振茂 《含能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第10期888-895,共8页
为探究单轴压缩下高聚物黏结炸药(PBX)的损伤演化行为,利用计算机断层扫描(CT)技术对单轴压缩过程中的PBX代用材料进行了原位扫描,获得了不同载荷下试件的原位CT图像。通过分析CT图像的灰度得到了加载过程中试件灰度均值的变化规律,利... 为探究单轴压缩下高聚物黏结炸药(PBX)的损伤演化行为,利用计算机断层扫描(CT)技术对单轴压缩过程中的PBX代用材料进行了原位扫描,获得了不同载荷下试件的原位CT图像。通过分析CT图像的灰度得到了加载过程中试件灰度均值的变化规律,利用数字体积相关(DVC)方法获得了试件内部三维位移场与应变场,结合数字图像相关(DIC)方法与试件表面灰度分析,明确了加载过程中PBX代用材料试件应变变化规律及表面裂纹扩展过程。结果表明,CT图像灰度均值是揭示材料中小于CT分辨率微小损伤变化的重要指标;试件内部应变场及表面灰度变化可以表征加载过程中材料损伤的积累过程。 展开更多
关键词 原位CT 高聚物黏结炸药(PBX)代用材料 损伤演化 数字体积相关(DVC) 数字图像相关(DIC)
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基于CT图像序列的围压TATB基PBX冲击损伤特性 被引量:6
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作者 刘本德 陈华 +2 位作者 张伟斌 张才鑫 刘晨 《含能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第3期196-201,I0003,共7页
为研究高聚物黏结炸药(PBX)在冲击载荷作用下损伤特性,以分离式霍普金森压杆(SHPB)对TATB基PBX进行了动态冲击实验,利用X射线显微层析成像(X?ray Micro?computed tomography,X?μCT)进行了损伤观测表征,基于CT图像序列并结合数字图像处... 为研究高聚物黏结炸药(PBX)在冲击载荷作用下损伤特性,以分离式霍普金森压杆(SHPB)对TATB基PBX进行了动态冲击实验,利用X射线显微层析成像(X?ray Micro?computed tomography,X?μCT)进行了损伤观测表征,基于CT图像序列并结合数字图像处理算法,对损伤裂纹进行了提取与三维重构,并提出一种基于CT图像序列的缺陷体积占比的损伤变量评价方法,对不同子弹冲击速度作用下的损伤变量值进行了计算。结果表明,损伤裂纹沿着与端面约为60°方向由两端向中间延展,裂纹整体呈"沙漏"分布特征,且随着子弹冲击速度增加,裂纹延伸方向基本保持不变,由于炸药初始损伤的存在,损伤变量值并不一直增大,而是先减小再增大,后呈急剧增大趋势。 展开更多
关键词 高聚物粘结炸药(PBX) 冲击损伤 X射线显微层析成像(X-μCT) 损伤变量
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TATB造型粉颗粒单轴压缩力学性能 被引量:3
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作者 马寅翔 刘晨 +3 位作者 王慧 张才鑫 陈华 张伟斌 《含能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第10期960-968,共9页
为掌握三氨基三硝基苯(TATB)造型粉颗粒力学性能,设计了一种适用于X射线微层析成像系统的原位微米力学加载装置,利用X射线微层析成像技术对颗粒细观结构特征进行了无损表征,采用Hertz法向接触模型对单个造型粉颗粒力-位移关系进行了研究... 为掌握三氨基三硝基苯(TATB)造型粉颗粒力学性能,设计了一种适用于X射线微层析成像系统的原位微米力学加载装置,利用X射线微层析成像技术对颗粒细观结构特征进行了无损表征,采用Hertz法向接触模型对单个造型粉颗粒力-位移关系进行了研究,获得了单个TATB造型粉颗粒的杨氏模量、屈服点、接触刚度、破坏荷载等力学参数与颗粒外形、孔隙形态、孔隙分布等结构特征。结果表明,单个TATB造型粉颗粒准静态法向压缩过程表现出弹性变形、弹-塑性变形与破坏崩塌三个阶段,颗粒内部尺寸小且空间结构分散的孔隙在颗粒变形过程中基本不发生变化,颗粒内部尺寸大且平行于加载方向的片状孔隙显著降低颗粒破坏强度,颗粒内部结构的差异对其压缩力学性能影响较大。 展开更多
关键词 三氨基三硝基苯(TATB) 造型粉颗粒 CT原位试验 单轴压缩 力学性能
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基于椭球包围盒的锥束CT三维加权重建算法 被引量:5
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作者 杨亚飞 张定华 +2 位作者 黄魁东 时稳龙 张才鑫 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第11期2563-2571,共9页
提高锥束CT大锥角圆轨道扫描下的重建图像质量一直是CT成像技术的重要研究方向。分析了圆轨道扫描下Radon空间的Z向数据缺失特点和FDK算法的灰度下降规律,提出了一种基于椭球包围盒的锥束CT三维加权重建算法。该算法无需重排,只需利用... 提高锥束CT大锥角圆轨道扫描下的重建图像质量一直是CT成像技术的重要研究方向。分析了圆轨道扫描下Radon空间的Z向数据缺失特点和FDK算法的灰度下降规律,提出了一种基于椭球包围盒的锥束CT三维加权重建算法。该算法无需重排,只需利用投影数据获取重建物体的最小包围盒,并根据其内接椭球的大小和空间位置自动生成三维加权函数,在反投影阶段加入该加权函数即可实现。该算法不会引入其他伪影,计算量增加很小,并且在中心层与FDK算法等价。仿真扫描实验表明,该算法显著提高了FDK算法的准确性,减小了锥角伪影。 展开更多
关键词 FDK算法 数据缺失 灰度下降 椭球包围盒
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基于光子计数能谱CT的含能材料等效原子序数测量方法 被引量:2
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作者 杨亚飞 张才鑫 +4 位作者 陈华 张伟斌 田勇 张定华 黄魁东 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2022年第5期1400-1406,共7页
双能CT或能谱CT可以测量材料的等效原子序数,对含能材料的成分检测和生产工艺改进具有重要意义,但现有方法存在复杂度高、设备要求高等缺点。为提高等效原子序数的测量精度,并降低设备要求和算法复杂度,提出了一种基于新型CeTe光子计数... 双能CT或能谱CT可以测量材料的等效原子序数,对含能材料的成分检测和生产工艺改进具有重要意义,但现有方法存在复杂度高、设备要求高等缺点。为提高等效原子序数的测量精度,并降低设备要求和算法复杂度,提出了一种基于新型CeTe光子计数探测器的等效原子序数测量方法。该方法利用材料的衰减特性,重新推导了两个能量区间线性衰减系数之比与等效原子序数的关系。该方法不依赖于双能CT或能谱CT的专业知识,只需利用光子计数探测器对三种已知材料进行能谱CT扫描与重建,即可得到等效原子序数的标定曲线,并对未知材料进行等效原子序数测量。在实际应用中,只需保证标定实验和测量实验在相同条件下进行,即可将重建误差、探测器响应误差、射束硬化效应和散射效应等影响因素纳入到标定曲线(相当于重新对NIST数据进行了特定扫描条件下的标定),并抑制上述因素对最终结果的影响。相较于其他方法,该方法鲁棒性和通用性较强,且大幅降低了设备要求和算法复杂度。同时,该方法允许相对较宽的能量区间,可以较充分的利用X射线源所发出的光子,使检测效率满足了工业检测和医学成像的需要,具有良好的商业应用前景。实验结果表明,在当前标定范围(等效原子序数6~13)和扫描条件下,该方法测量的等效原子序数相对误差小于2%,具有较高的可靠性。在实际含能材料生产检测中,该方法在不破坏含能材料的情况下对高衰减杂质成分进行了有效判断,指出了高衰减杂质是实际生产过程中混入的高原子序数杂质,而不是高密度的含能材料。这表明该方法能够有效解决含能材料生产中的成分检测难题,并有望促进含能材料生产工艺的改进,具有重要的工程意义。 展开更多
关键词 光子计数能谱CT 含能材料 等效原子序数 杂质识别
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PBX稀疏CT投影PICCS图像重建算法
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作者 张建伟 张才鑫 +3 位作者 陈华 张韬 刘晨 刘丰林 《含能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第5期464-469,共6页
为了解决CT检测高聚物粘结炸药时,传统的滤波反投影重建算法(FBP)需要采集大量投影导致检测效率低以及从不完备投影重建图像噪声大、伪影严重、细节模糊等问题,选取稀疏投影CT扫描方式提高检测效率,采用先验图像约束的压缩感知重建算法(... 为了解决CT检测高聚物粘结炸药时,传统的滤波反投影重建算法(FBP)需要采集大量投影导致检测效率低以及从不完备投影重建图像噪声大、伪影严重、细节模糊等问题,选取稀疏投影CT扫描方式提高检测效率,采用先验图像约束的压缩感知重建算法(PICCS)抑制噪声,减少伪影,利用准静态单轴压缩三氨基三硝基苯(TATB)基高聚物黏结炸药(PBX)的损伤试件验证采用的CT扫描方式和重建算法,并将完备投影集FBP重建结果与稀疏投影集联合代数重建算法(SART)、PICCS两种算法重建结果进行主观和客观的对比评价。实验结果表明,PICCS用1/3稀疏投影集重建结果与完备投影集FBP重建结果相近,在满足对检测物体缺陷和内部结构观察、判断的前提下可以提高2倍左右检测效率,而且与SART重建图像相比,PICCS重建的图像伪影少,噪声小,细节清晰。 展开更多
关键词 高聚物黏结炸药(PBX) CT重建 滤波反投影重建算法(FBP) 不完备投影 PICCS算法
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First-Principles Study of Intrinsic Point Defects of Monolayer GeS
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作者 Chen Qiu Ruyue Cao +7 位作者 Cai-Xin Zhang Chen Zhang Dan Guo Tao Shen Zhu-You Liu Yu-Ying Hu Fei Wang and Hui-Xiong Deng 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2021年第2期57-61,共5页
The properties of six kinds of intrinsic point defects in monolayer GeS are systematically investigated using the“transfer to real state”model,based on density functional theory.We find that Ge vacancy is the domina... The properties of six kinds of intrinsic point defects in monolayer GeS are systematically investigated using the“transfer to real state”model,based on density functional theory.We find that Ge vacancy is the dominant intrinsic acceptor defect,due to its shallow acceptor transition energy level and lowest formation energy,which is primarily responsible for the intrinsic p-type conductivity of monolayer GeS,and effectively explains the native p-type conductivity of GeS observed in experiment.The shallow acceptor transition level derives from the local structural distortion induced by Coulomb repulsion between the charged vacancy center and its surrounding anions.Furthermore,with respect to growth conditions,Ge vacancies will be compensated by fewer n-type intrinsic defects under Ge-poor growth conditions.Our results have established the physical origin of the intrinsic p-type conductivity in monolayer GeS,as well as expanding the understanding of defect properties in lowdimensional semiconductor materials. 展开更多
关键词 VACANCY CONDUCTIVITY DEFECT
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Spontaneous ferromagnetism and magnetoresistance hysteresis in Ge_(1–x)Sn_(x)alloys
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作者 Ben-Chuan Lin Xing-Guo Ye +10 位作者 Nan Wang Cai-Xin Zhang Hui-Xiong Deng Jing-Zhi Fang Hao-Nan Cui Shuo Wang Jian Liu Zhongming Wei Dapeng Yu Zhi-Min Liao Chunlai Xue 《Science Bulletin》 SCIE EI CSCD 2021年第14期1375-1378,M0003,共5页
Introducing ferromagnetism into non-magnetic systems without the participation of magnetic elements is promising for all-electric spintronic devices[1,2].Many approaches have been pursued,such as non-magnetic defects ... Introducing ferromagnetism into non-magnetic systems without the participation of magnetic elements is promising for all-electric spintronic devices[1,2].Many approaches have been pursued,such as non-magnetic defects induced magnetization in layered materials[3–5]or the inversion symmetry breaking induced magnetization in magic-angle bilayer graphene[6–8],etc.However,these approaches have to tackle with the localization effects or the inevitable precise control of twist angle,which hinders the future application into large-scale spintronic information devices.Theorists also predicted that the spontaneous ferromagnetism could emerge in the quasi-2D crystals[9]like GaSe,but no experimental results have been reported.Here,we report the spontaneous ferromagnetism induced by van Hove singularity[9–13]in non-magnetic groupⅣGe_(1–x)Sn_(x)alloys grown by the molecular beam epitaxy(MBE)technique.Our findings experimentally open up an opportunity to realize spintronics in groupⅣsemiconductors. 展开更多
关键词 半导体领域 自发磁化 分子束外延生长 反演对称性 磁化特性 原子排列 布里渊区 自旋电子学
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