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GaN HEMT器件^(60)Co-γ辐照效应研究
1
作者
邵国键
赵玉峰
+4 位作者
王金
周书同
陈韬
景少红
钟世昌
《固体电子学研究与进展》
CAS
北大核心
2023年第3期277-280,286,共5页
研究了总剂量4 Mrad(Si)^(60)Co-γ辐照对AlGaN/GaN HEMT器件的影响,器件在辐照过程中采用不同的加电方式。辐照过程会增加器件的栅泄漏电流,但辐照终止后电流快速恢复至初始状态。对比辐照前后的直流性能,器件的肖特基势垒高度、阈值...
研究了总剂量4 Mrad(Si)^(60)Co-γ辐照对AlGaN/GaN HEMT器件的影响,器件在辐照过程中采用不同的加电方式。辐照过程会增加器件的栅泄漏电流,但辐照终止后电流快速恢复至初始状态。对比辐照前后的直流性能,器件的肖特基势垒高度、阈值电压、漏电流、跨导等未出现退化问题。实验结果表明,基于自主开发的GaN标准工艺平台所制备AlGaN/GaN HEMT器件,具有稳定可靠的^(60)Co-γ抗辐照能力。
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关键词
氮化镓高电子迁移率晶体管
辐照效应
总剂量辐照
辐照退化
肖特基势垒
阈值电压
跨导
原文传递
P波段超大功率50V GaN HEMT
被引量:
3
2
作者
陈韬
刘柱
+6 位作者
王琪
顾黎明
景少红
杨兴
李忠辉
彭大青
陈堂胜
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第6期439-441,共3页
报道了0.5μm工艺千瓦级GaN HEMT器件在P波段应用。通过采用AlN插入层,大幅降低了器件在大功率工作时的漏电,同时大幅提高器件输出功率密度。同时通过对背势垒结构缓冲层的优化,提高了器件击穿电压,从而提高器件抗失配比(VSWR)至5∶1。G...
报道了0.5μm工艺千瓦级GaN HEMT器件在P波段应用。通过采用AlN插入层,大幅降低了器件在大功率工作时的漏电,同时大幅提高器件输出功率密度。同时通过对背势垒结构缓冲层的优化,提高了器件击穿电压,从而提高器件抗失配比(VSWR)至5∶1。GaN HEMT器件设计采用双场板结构,采用0.5μm栅长工艺制作。器件工作电压为50V,在P波段峰值输出功率1 500 W,漏极效率72%。
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关键词
氮化镓
微波功率管
场板
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职称材料
L波段1.1 kW GaN射频功率放大器设计
被引量:
4
3
作者
景少红
钟世昌
+1 位作者
饶翰
曹建强
《固体电子学研究与进展》
CAS
北大核心
2019年第5期324-328,共5页
基于南京电子器件研究所0.5μm GaN HEMT工艺平台,设计了一款SiC衬底的1.2~1.4 GHz 1.1 kW GaN功率放大器。以管芯S参数和负载牵引测试结果进行匹配电路设计,采用双胞55 mm GaN管芯实现大功率输出。功率放大器内部采用预匹配网络设计,...
基于南京电子器件研究所0.5μm GaN HEMT工艺平台,设计了一款SiC衬底的1.2~1.4 GHz 1.1 kW GaN功率放大器。以管芯S参数和负载牵引测试结果进行匹配电路设计,采用双胞55 mm GaN管芯实现大功率输出。功率放大器内部采用预匹配网络设计,外部匹配网络采用多级高低阻抗微带线结构。该功率放大器在1.2~1.4 GHz频带内,漏电压60 V、脉冲宽度100μs、占空比10%测试条件下,输出功率达到1.1 kW,功率增益大于15.5 dB,功率附加效率大于70%。
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关键词
GAN高电子迁移率晶体管
SIC衬底
负载牵引
L波段
高功率
高效率
原文传递
题名
GaN HEMT器件^(60)Co-γ辐照效应研究
1
作者
邵国键
赵玉峰
王金
周书同
陈韬
景少红
钟世昌
机构
南京电子器件研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
北大核心
2023年第3期277-280,286,共5页
基金
装备发展部型谱项目(2209WW0002)。
文摘
研究了总剂量4 Mrad(Si)^(60)Co-γ辐照对AlGaN/GaN HEMT器件的影响,器件在辐照过程中采用不同的加电方式。辐照过程会增加器件的栅泄漏电流,但辐照终止后电流快速恢复至初始状态。对比辐照前后的直流性能,器件的肖特基势垒高度、阈值电压、漏电流、跨导等未出现退化问题。实验结果表明,基于自主开发的GaN标准工艺平台所制备AlGaN/GaN HEMT器件,具有稳定可靠的^(60)Co-γ抗辐照能力。
关键词
氮化镓高电子迁移率晶体管
辐照效应
总剂量辐照
辐照退化
肖特基势垒
阈值电压
跨导
Keywords
GaN high-electron-mobility transistors(GaN HEMTs)
irradiation effect
total dose irradiation
radiation degradation
Schottky barrier
threshold voltage
transconductance
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
P波段超大功率50V GaN HEMT
被引量:
3
2
作者
陈韬
刘柱
王琪
顾黎明
景少红
杨兴
李忠辉
彭大青
陈堂胜
机构
南京电子器件研究所
中电科技德清华莹电子有限公司
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第6期439-441,共3页
文摘
报道了0.5μm工艺千瓦级GaN HEMT器件在P波段应用。通过采用AlN插入层,大幅降低了器件在大功率工作时的漏电,同时大幅提高器件输出功率密度。同时通过对背势垒结构缓冲层的优化,提高了器件击穿电压,从而提高器件抗失配比(VSWR)至5∶1。GaN HEMT器件设计采用双场板结构,采用0.5μm栅长工艺制作。器件工作电压为50V,在P波段峰值输出功率1 500 W,漏极效率72%。
关键词
氮化镓
微波功率管
场板
Keywords
GaN
microwave power transistor
field plate
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
L波段1.1 kW GaN射频功率放大器设计
被引量:
4
3
作者
景少红
钟世昌
饶翰
曹建强
机构
南京电子器件研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
北大核心
2019年第5期324-328,共5页
文摘
基于南京电子器件研究所0.5μm GaN HEMT工艺平台,设计了一款SiC衬底的1.2~1.4 GHz 1.1 kW GaN功率放大器。以管芯S参数和负载牵引测试结果进行匹配电路设计,采用双胞55 mm GaN管芯实现大功率输出。功率放大器内部采用预匹配网络设计,外部匹配网络采用多级高低阻抗微带线结构。该功率放大器在1.2~1.4 GHz频带内,漏电压60 V、脉冲宽度100μs、占空比10%测试条件下,输出功率达到1.1 kW,功率增益大于15.5 dB,功率附加效率大于70%。
关键词
GAN高电子迁移率晶体管
SIC衬底
负载牵引
L波段
高功率
高效率
Keywords
GaN HEMT
SiC substrate
load-pull
L-band
high power
high efficiency
分类号
TN323.4 [电子电信—物理电子学]
TN385 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
GaN HEMT器件^(60)Co-γ辐照效应研究
邵国键
赵玉峰
王金
周书同
陈韬
景少红
钟世昌
《固体电子学研究与进展》
CAS
北大核心
2023
0
原文传递
2
P波段超大功率50V GaN HEMT
陈韬
刘柱
王琪
顾黎明
景少红
杨兴
李忠辉
彭大青
陈堂胜
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2016
3
下载PDF
职称材料
3
L波段1.1 kW GaN射频功率放大器设计
景少红
钟世昌
饶翰
曹建强
《固体电子学研究与进展》
CAS
北大核心
2019
4
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