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基于CMGA的SoC测试多目标优化研究
1
作者
谈恩民
琚兆学
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2016年第5期111-114,共4页
针对传统群体智能算法在解决SoC测试多目标优化问题上存在的缺陷,将改进的Tent混沌映射引入到多目标遗传算法中.建立以测试时间和测试功耗为目标的优化模型,在测试访问机制合理划分基础上,利用算法对该数学模型进行求解.选取典型的ITC...
针对传统群体智能算法在解决SoC测试多目标优化问题上存在的缺陷,将改进的Tent混沌映射引入到多目标遗传算法中.建立以测试时间和测试功耗为目标的优化模型,在测试访问机制合理划分基础上,利用算法对该数学模型进行求解.选取典型的ITC’02基准电路为验证对象,实验结果表明此算法的实用性和优越性.
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关键词
混沌映射
多目标遗传
测试访问机制
测试功耗
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职称材料
题名
基于CMGA的SoC测试多目标优化研究
1
作者
谈恩民
琚兆学
机构
桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2016年第5期111-114,共4页
文摘
针对传统群体智能算法在解决SoC测试多目标优化问题上存在的缺陷,将改进的Tent混沌映射引入到多目标遗传算法中.建立以测试时间和测试功耗为目标的优化模型,在测试访问机制合理划分基础上,利用算法对该数学模型进行求解.选取典型的ITC’02基准电路为验证对象,实验结果表明此算法的实用性和优越性.
关键词
混沌映射
多目标遗传
测试访问机制
测试功耗
Keywords
chaos map
multi-objective algorithm
TAM
test power
分类号
TP31 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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题名
作者
出处
发文年
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1
基于CMGA的SoC测试多目标优化研究
谈恩民
琚兆学
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2016
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