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基于AspenPlus的污泥干化-热解耦合工艺模拟及放大实验 被引量：1
1
作者 秦利鹏 吴少基 +3 位作者 王智瑾 李杰 刘运权 叶跃元 《生物质化学工程》 CAS 2023年第2期12-20,共9页
针对污泥干化能耗高的问题,提出了污泥干化-热解耦合新工艺。通过采用Aspen Plus软件进行模拟,分析了可燃气传热量的影响因素(热解温度和杨木屑添加率)以及升温速率对热解产物和系统能耗的影响。结果表明:当采用杨木屑和污泥进行共热解... 针对污泥干化能耗高的问题,提出了污泥干化-热解耦合新工艺。通过采用Aspen Plus软件进行模拟,分析了可燃气传热量的影响因素(热解温度和杨木屑添加率)以及升温速率对热解产物和系统能耗的影响。结果表明:当采用杨木屑和污泥进行共热解时,杨木屑添加率须达43.5%,才能维持系统正常稳定地运行。当热解温度为550℃时,作为可燃气主要成分的热解油得率达到最大,为51.7%,此时系统有最大的供热量12.619 MJ/h。此外,发现随着升温速率的增加,固体残渣的得率下降,而热解油和可燃气的总得率上升;当升温速率降低时,热解油和可燃气的得率也降低。中试放大实验研究表明,当污泥进料量为3 kg/h时,停留时间必须≥45 min、通气流量40 L/min,才能达到预期的干化目标。 展开更多
关键词 污泥处理 Aspen Plus模拟 能量衡算 工艺优化 放大实验
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水热法合成SnO_2微球的酒敏特性研究 被引量：2
2
作者 徐甲强 秦利鹏 +2 位作者 董晓雯 向群 潘庆谊 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2007年第7期1461-1463,共3页
采用分析纯的SnCl4.5H2O和NaOH为起始原料,在160℃温度条件下水热法反应12 h得到SnO2微球.利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)对合成材料的结构、尺寸和形态进行了表征;采用静态配气法测试了材料的气敏性能.研究结果表明:在160℃水热... 采用分析纯的SnCl4.5H2O和NaOH为起始原料,在160℃温度条件下水热法反应12 h得到SnO2微球.利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)对合成材料的结构、尺寸和形态进行了表征;采用静态配气法测试了材料的气敏性能.研究结果表明:在160℃水热条件下一步合成了均分散的SnO2微球,粒径大约为200 nm.用其制作的旁热式气敏元件在5 V工作电压下对0.005%的C2H5OH的灵敏度为8.7,达到了口腔酒精气体浓度检测限度0.008%的要求,并且响应-恢复特性良好. 展开更多
关键词 氧化锡 气体传感器 酒精传感器 水热反应
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RTK模式测量线路图根控制点高程的方式与方法
3
作者 秦利鹏 《石油知识》 2011年第5期30-31,共2页
一、利用RTK模式对原油输送管道赤壁－长岭管段线路进行测绘 GPS实时动态RTK测量技术以其独特的实时显示定位结果，可以实时了解定位精度。该技术作业时间短，效率高，逐渐在地形地籍测量、工程测量等方面得到了推广应用。
关键词 测量线路 RTK 图根控制点 高程 原油输送管道 实时显示 测量技术 定位精度
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改善晶圆边缘有效芯片缺陷的新焦距补偿方法研究 被引量：1
4
作者 秦利鹏 《中国集成电路》 2019年第6期60-63,66,共5页
良率(yield)是反应集成电路产品成品率的一项关键参数,在实际生产中由于晶圆边缘的平整度等与晶圆中心存在很大的差异,导致晶圆边缘有效芯片(die)的良率很容易受多种因素的影响,造成良率损失,因此提高晶圆边缘有效die的良率是光刻工艺... 良率(yield)是反应集成电路产品成品率的一项关键参数,在实际生产中由于晶圆边缘的平整度等与晶圆中心存在很大的差异,导致晶圆边缘有效芯片(die)的良率很容易受多种因素的影响,造成良率损失,因此提高晶圆边缘有效die的良率是光刻工艺的一个研究重点。本文通过对比分析正常和异常die中对聚焦值(focus)变化影响较敏感的光阻稀疏沟槽图形(ISO trench image)差异,在明确了散焦(defocus)程度和产生原因的前提下,提出了一种新的结合晶圆载物台倾斜(wafer stage tilt)加上曝光区域(shot)聚焦值调整来补正晶圆边缘有效die聚焦值的方法。新方法与旧方法相比,对同一shot内其他die的影响明显降低,有显著的使用优势。从新方法的补正结果来看,较好的解决了晶圆边缘有效die的defocus问题,避免了缺陷的产生。 展开更多
关键词 晶圆边缘 散焦缺陷 新焦距补偿方法 载物台倾斜
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共享手臂型涂胶显影机特殊T形缺陷成因及解决办法研究 被引量：1
5
作者 秦利鹏 《中国集成电路》 2019年第4期66-69,共4页
随着光刻图形尺寸越来越小,缺陷(任何对目标图形的偏离)对产品良率影响越来越大。在各种各样的缺陷产生原因中,显影缺陷是影响产品良率的一种主要的缺陷来源。本文通过对T map缺陷所经过涂胶与显影单元次数分析,在仔细研究显影单元构造... 随着光刻图形尺寸越来越小,缺陷(任何对目标图形的偏离)对产品良率影响越来越大。在各种各样的缺陷产生原因中,显影缺陷是影响产品良率的一种主要的缺陷来源。本文通过对T map缺陷所经过涂胶与显影单元次数分析,在仔细研究显影单元构造,推论出显影nozzle回到起始位置过程中,显影液偷滴到所经过显影单元内正在旋干的spin wafer上造成了T map缺陷,并通过实验验证了推论结论。在明确成因的基础上,进一步给出了显影nozzle回吸调整方法,避免了T map再次发生造成的产品报废,给行业内解决同类缺陷提供了参考。 展开更多
关键词 光刻 缺陷 Tmap 回吸
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关于对地震勘探工作的研究与讨论
6
作者 秦利鹏 《中国石油和化工标准与质量》 2013年第20期101-101,共1页
"地震勘测"是指通过人工激发地震波的方法,利用底下介质密度和弹性的差异,通过观测和分析,发现并研究出地震波在地层中的传播情况。以此来查明地下的地质构造,力求寻找石油、天然气等非可再生资源或其它勘探目的服务的一种物... "地震勘测"是指通过人工激发地震波的方法,利用底下介质密度和弹性的差异,通过观测和分析,发现并研究出地震波在地层中的传播情况。以此来查明地下的地质构造,力求寻找石油、天然气等非可再生资源或其它勘探目的服务的一种物理勘探方法。为了适应地震勘探工作各种不同种类的要求,我国的地震勘探工作者推出了一系列研究此类工作的方式方法,用来解决地震勘测过程所遇到的问题。 展开更多
关键词 数学近似问题 计算机的辅助功能 信号降噪处理技术 数据获取系统
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外供氢与现场制氢加氢站的氢气成本分析 被引量：16
7
作者 李妍 常皓明 +2 位作者 林世响 秦利鹏 刘运权 《煤气与热力》 2022年第3期V0026-V0029,共4页
介绍全球加氢站发展现状和加氢站建设的制约因素。对不同供氢能力的外供氢加氢站与现场制氢加氢站(制氢方法包括电解水制氢、甲醇重整制氢和天然气重整制氢)的建设成本、年均成本及氢使用成本进行分析。
关键词 加氢站 现场制氢 外供氢 氢气成本
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