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题名红外透镜组中心偏差低温测试研究
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作者
徐琳
谢春
孙闻
莫德峰
李雪
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机构
同济大学
中国科学院上海技术物理研究所
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出处
《红外》
CAS
2022年第4期20-24,共5页
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文摘
红外透镜组的中心偏差是影响光学系统成像质量的重要因素之一。当红外探测器组件在低温环境中工作时,预先常温装配和测试的红外透镜组将产生装配精度失准现象。提出了一种在低温环境中测试红外透镜组中心偏差的方法。通过设计的低温测试系统解决了透镜组低温位置精度测量困难的问题。测试结果表明,该方法可以有效实现红外透镜组中心偏差的低温测试且测试误差优于2μm。此研究对于高性能红外探测器组件研制具有一定的实际意义。
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关键词
红外透镜组
中心偏差
低温测试
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Keywords
infrared multi-lens
centering error
cryogenic testing
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分类号
TN216
[电子电信—物理电子学]
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题名红外焦平面组件封装中的皮秒激光划片工艺(下)
被引量：1
- 2
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作者
张忆南
莫德峰
洪斯敏
李雪
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机构
中国科学院上海技术物理研究所
中国科学院红外成像材料与器件重点实验室
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出处
《红外》
CAS
2019年第11期13-16,共4页
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文摘
在对皮秒激光划片加工所涉及的基本原理和设备进行简单介绍的基础上,对红外焦平面组件封装中常涉及的一些材料的特点及其与皮秒激光束的作用机理进行了梳理。通过优化激光参数设置提高了划片效率并保证了划片质量;通过改进工夹具避免了金属层损伤且改善了操作方便性。
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关键词
激光划片
皮秒脉冲激光器
红外焦平面阵列
组件封装
材料特性
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Keywords
laser dicing
picosecond pulse laser
infrared focal plane array
module packaging
material property
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分类号
TB942
[机械工程—测试计量技术及仪器]
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题名红外焦平面组件封装中的皮秒激光划片工艺(上)
被引量：1
- 3
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作者
张忆南
莫德峰
洪斯敏
李雪
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机构
中国科学院上海技术物理研究所
中国科学院红外成像材料与器件重点实验室
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出处
《红外》
CAS
2019年第10期1-7,共7页
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文摘
在对皮秒激光划片加工所涉及的基本原理和设备进行简单介绍的基础上,对红外焦平面组件封装中常涉及的一些材料的特点及其与皮秒激光束的作用机理进行了梳理。通过优化激光参数设置提高了划片效率并保证了划片质量;通过改进工夹具避免了金属层损伤且改善了操作方便性。
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关键词
激光划片
皮秒脉冲激光器
红外焦平面阵列
组件封装
材料特性
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Keywords
laser dicing
picosecond pulse laser
infrared focal plane array
module packaging
material property
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分类号
TB942
[机械工程—测试计量技术及仪器]
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题名T250马氏体时效钢晶粒尺寸对时效析出的影响
被引量：1
- 4
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作者
胡正飞
王春旭
莫德峰
张斌
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机构
同济大学材料科学与工程学院
上海材料研究所
钢铁研究总院
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出处
《钢铁研究学报》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第8期25-29,共5页
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基金
国家自然科学基金资助项目(50871076)
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文摘
在840℃1 h固溶退火+480℃4 h时效处理条件下,不同晶粒度的T250马氏体时效钢力学性能比较试验表明,材料的性能和晶粒尺寸关系并不表现出明显的依存关系。相应的XRD和显微结构比较研究显示,马氏体时效钢的时效行为和晶粒尺寸相关。晶粒细小的马氏体钢时效时形成更多体积分数的逆转奥氏体,以膜状分布在晶界和亚晶界起到软化作用而有利于材料塑韧性的提高;同时产生更为细小弥散的沉淀相起到更为明显的强化作用。这可能是材料的力学性能和晶粒尺寸关系不明显的组织结构原因。
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关键词
马氏体时效钢
晶粒尺寸
显微结构
沉淀析出
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Keywords
maraging steel
grain size
microstructure
precipitate
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分类号
TG142.2
[金属学及工艺—金属材料]
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题名红外探测器的高频测试
被引量：2
- 5
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作者
张亚妮
汪洋
贺香荣
莫德峰
王妮丽
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机构
中科院上海技术物理研究所
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出处
《光学与光电技术》
2014年第2期19-22,共4页
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文摘
研究了长波8～15μm波段，阻值大于440QMCT光导红外探测器，探测率在10kHZ，14μm大于4×10如CiTI·Hz^1／2／W，在1kHZ和10kHz中心频率下的噪声测试，中波5～8μm红外光伏型InSb器件，探测率在25kHz，8．26μm大于l×10ucm·Hz1/2／W，在1kHZ和255kHZ中心频率下的噪声测试，并对器件信号进行了测试。信号和噪声测试是在124A锁相放大器测试系统测试，对124A测试系统的不确定度进行了分析，并与动态信号分析仪35670A对器件在0～50kHZ频谱范围的噪声进行了测试和比较。实验结果表明，高阻值的光导器件在1kHz和10kHz中心频率下噪声相差约1．4倍，光伏型InSb器件在1kHZ和15kHz中心频率下噪声相差约1．5倍，信号测试结果在1kHZ下和3kHz中心频率下变化不超过3％。通过测试和比较，对高频下的测试给出了建议。
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关键词
红外探测器
噪声测试
高频测试
动态信号分析仪
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Keywords
infrared detector
noise test
high frequency test, dynamic signal analyzer
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分类号
TN362
[电子电信—物理电子学]
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