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题名同轴探头测量电磁参数的变频率法研究
被引量：6
- 1
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作者
王守军
钮茂德
徐得名
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机构
上海大学通信与信息工程学院
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出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第12期52-56,共5页
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基金
国防科工委基金
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文摘
基于频率是反射系数的独立变量和材料电磁参数本身是频率的函数的事实，本文利用扫频插值思想提出了同轴探头测量介电常数和磁导率的变频率法新技术。推导了反射系数的谱域全波模型，从实验上验证了变频率法的可行性。该方法只需要一次扫频反射测量，可以减少误差因素，简化测量手续，从而实现现场宽带快速测量。
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关键词
同轴探头
变频率法
介电常数
磁导率
电磁参数
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分类号
TM936.012
[电气工程—电力电子与电力传动]
TM934.33
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名导体表面有耗介质层中垂直电偶极子激励的场
被引量：2
- 2
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作者
颜锦奎
钮茂德
徐得名
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机构
上海大学通信信息工程学院
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出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
1997年第2期114-120,113,共8页
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文摘
本文推导了有耗介质层内垂直电偶极子激励场的表达式，通过积分路径变换的方法，对表达式中的索末菲积分进行了数值计算。计算了激励场在介质层内外的分布曲线，并分析了介质损耗及厚度对场分布的影响。
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关键词
垂直电偶极子
有耗介质
激励场
电磁场
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Keywords
VED, Lossy dielectric, Sommerfeld integral
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分类号
O441.4
[理学—电磁学]
TM15
[电气工程—电工理论与新技术]
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题名同轴探头测量材料电磁参数变频率法的改进
被引量：6
- 3
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作者
董宇
陈春平
钮茂德
徐得名
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机构
上海大学通信与信息工程学院
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出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2003年第1期66-71,共6页
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基金
解放军总装"九五"预研项目
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文摘
本文针对我们实验室早期提出的用开口同轴探头变频率法同时测量雷达吸波材料的介电常数和磁导率技术〔6,7〕在实用中遇到的问题 ,提出应用线性插值技术来修正电磁参数随频率的变化 ,使用拟合技术来克服测得反射系数的随机误差对电磁参数提取的影响 ,建立多频率点上电磁参数的矛盾方程方法来减少参数提取时所产生的伪根等改进技术 ,从而有效地克服原方法所存在的问题 ,使之能够用于实际测量。
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关键词
同轴探头
测量
变频率法
介电常数
磁导率
雷达
吸波材料
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Keywords
Open ended coaxial probe, Frequency varying method, Permittivity, Permeability
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分类号
TM937
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名用开口波导反射法测量材料电磁特性的新技术
被引量：5
- 4
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作者
苏勇
钮茂德
徐得名
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机构
上海大学
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1998年第1期53-58,共6页
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基金
国家自然基金
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文摘
本文提出用开口波导反射法同时测量高损耗材料电磁参数εr、μr的新技术。用开口波导作传感器．测量样品加载时的复反射系数，并与以εr、μr为变量的理论计算值相比较，运用优化技术求得待测材料的电磁参数。文中对测量理论进行了讨论，建立了3cm和8mm波段的六端口复反射计及测量用的开口波导传感器，并对多种样品进行了测量。测量结果与传统传输／反射法的测量结果以及样品生产厂家提供的数据相吻合。该方法适合于片状或涂覆材料以及毫米波段测量。
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关键词
开波导
反射法
介电常数
磁导率
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Keywords
Open-ended waveguide
Reflect method
Permittivity
Permeablity
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分类号
TM936.4
[电气工程—电力电子与电力传动]
TM934.33
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名晶体管检波的六端口测量系统整体校准技术
被引量：2
- 5
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作者
张琳
钮茂德
徐得名
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机构
上海大学通信与信息工程学院
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2000年第4期34-39,共6页
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文摘
本文提出了用肖特基低势垒二极管检波器检测功率的六端口测量系统整体校准的新方法。根据六端口相对功率理论即对某一负载各端口相对功率比值不随输入功率变化 ,由最小二乘法得到检波器的特征参数 ,结合四标准法 ,确定六端口网络的系统常数。与拟合校准方法的比较证实了该方法的有效性。测量结果表明 ,该测试系统达到了与采用热敏电阻进行功率检测的测量系统相当的测量精度。
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关键词
肖特基低势垒二极管
六端口
整体校准
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Keywords
Low barrier Schottky diode detector
Six port
Complete calibration
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分类号
TM933.3
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名开口同轴探头测量微波集成电路基片的复介电常数
被引量：5
- 6
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作者
张 思
钮茂德
徐得名
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机构
上海大学通信与信息工程学院
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出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2002年第1期57-63,共7页
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文摘
本文论述了开口同轴（无外加法兰）非破坏测量微波集成电路基片复介电常数的方法。文中阐明了开口同轴FDTD法的建模与测量原理。由于FDTD法建模是一种全波分析方法，出此该模型相当准确。在S和X波段测量了聚四氟乙烯材料和另一种介质基片的复介电常数，所得结果与它们的典型值非常吻合。开口同轴法测量具有非破坏性，适于现场测量，而且具有设备简单、操作方便、测量精度高等优点。
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关键词
开口同轴法
微波集成电路基片
非破坏测量
复介电常数
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Keywords
Key words: Open-ended coaxial probe, Microwave integrated circuit substrate, Nondestructive measurement,Complex permittivity
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分类号
TN454
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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