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超大规模集成电路快速热处理技术 被引量:3
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作者 钱佩信 侯东彦 +1 位作者 林惠旺 徐立 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第11期1-11,共11页
本文介绍了快速热处理技术的研究成果.包括:RHT设备,高剂量注入硅的RTA机理与最佳RTA条件选择,以及浅PN结制造,硅化物形成,BPSG回流和薄氧化层的快速氮化等RTP技术.
关键词 集成电路 热处理 退火
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UHV/CVD硅锗膜的Raman光谱分析 被引量:7
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作者 朱培喻 陈培毅 +4 位作者 黎晨 罗广礼 贾宏勇 刘志农 钱佩信 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第4期464-467,共4页
本文提出一种用Raman光谱测量SiGe合金膜中的锗组分及应变的方法 ,方法是非破坏的。并用这一方法测量了几种不同锗组分和膜厚度的SiGe合金样品 ,它们都是用UHV/CVD设备生长的。其中两个样品还与X 射线双晶衍射的结果作了比较 ,两种方法... 本文提出一种用Raman光谱测量SiGe合金膜中的锗组分及应变的方法 ,方法是非破坏的。并用这一方法测量了几种不同锗组分和膜厚度的SiGe合金样品 ,它们都是用UHV/CVD设备生长的。其中两个样品还与X 射线双晶衍射的结果作了比较 ,两种方法的结果十分一致 ,这说明本文提出的方法是准确可靠的。这些样品用于制作SiGe/Si异质结PMOSFET ,对 0 5 μm沟长器件 ,跨导达 112ms·mm-1。 展开更多
关键词 Raman SIGE合金 UHV/CVD 弛豫 应变 硅锗膜 拉曼光谱分析 半导体薄膜
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电子辐照SiGe HBT和SiBJT的直流特性分析 被引量:7
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作者 黄文韬 王吉林 +4 位作者 刘志农 陈长春 陈培毅 钱佩信 孟祥提 《核技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期213-216,共4页
研究了 1 MeV 不同剂量电子辐照前后 SiGe 异质结晶体管(HBT)的直流特性,并与 Si 双极晶体管(BJT)进行了比较。结果表明辐照后 SiGe HBT 的 IB基本不变,IC和β 都下降;随电子辐照剂量的增加,Ic和β 都减小。对 Si BJT 而言,IB和 IC与在... 研究了 1 MeV 不同剂量电子辐照前后 SiGe 异质结晶体管(HBT)的直流特性,并与 Si 双极晶体管(BJT)进行了比较。结果表明辐照后 SiGe HBT 的 IB基本不变,IC和β 都下降;随电子辐照剂量的增加,Ic和β 都减小。对 Si BJT 而言,IB和 IC与在相同辐照剂量辐照后的 SiGe HBT 相比都增大很多,β 下降幅度也很大。这说明 SiGe HBT 具有比 Si BJT 更好的抗辐照性能。对电子辐照后器件电学性能的变化机制进行了初步分析。 展开更多
关键词 电子辐照 SiGe异质结晶体管(HBT) Si双极晶体管(BJT) 电学特性
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HV/CVD系统Si、SiGe低温掺杂外延 被引量:4
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作者 刘志农 贾宏勇 +3 位作者 罗广礼 陈培毅 林惠旺 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第3期317-321,共5页
研究了硼烷 (B2 H6 )掺杂锗硅外延和磷烷 (PH3)掺杂硅外延的外延速率和掺杂浓度与掺杂气体流量的关系 .B浓度与 B2 H6 流量基本上成正比例关系 ;生长了 B浓度直至 10 1 9cm- 3的多层阶梯结构 ,各层掺杂浓度均匀 ,过渡区约 2 0 nm,在整... 研究了硼烷 (B2 H6 )掺杂锗硅外延和磷烷 (PH3)掺杂硅外延的外延速率和掺杂浓度与掺杂气体流量的关系 .B浓度与 B2 H6 流量基本上成正比例关系 ;生长了 B浓度直至 10 1 9cm- 3的多层阶梯结构 ,各层掺杂浓度均匀 ,过渡区约 2 0 nm,在整个外延层 ,Ge组分 (x=0 .2 0 )均匀而稳定 .PH3掺杂外延速率随 PH3流量增加而逐渐下降 ;P浓度在 PH3流量约为 1.7sccm时达到了峰值 (约 6× 10 1 8cm- 3) .分别按 PH3流量递增和递减的顺序生长了多层结构用以研究 PH3掺杂 展开更多
关键词 HV/CVD系统 锗化硅 低温掺杂外延
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弛豫SiGe外延层的UHV/CVD生长 被引量:5
5
作者 罗广礼 林小峰 +4 位作者 刘志农 陈培毅 林惠旺 钱佩信 刘安生 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第7期682-685,共4页
利用自制的冷壁石英腔 UHV/CVD设备 ,60 0℃条件下 ,通过 Ge组分渐变缓冲层技术 ,在 Si( 1 0 0 )衬底上成功地生长出完全弛豫、无穿透位错的 Si0 .83Ge0 .17外延层 ,并在其上获得了具有张应变的 Si盖帽层 .另外 ,还在 550℃下生长了同... 利用自制的冷壁石英腔 UHV/CVD设备 ,60 0℃条件下 ,通过 Ge组分渐变缓冲层技术 ,在 Si( 1 0 0 )衬底上成功地生长出完全弛豫、无穿透位错的 Si0 .83Ge0 .17外延层 ,并在其上获得了具有张应变的 Si盖帽层 .另外 ,还在 550℃下生长了同样结构的样品 ,发现此样品厚度明显变薄 ,组分渐变层的应变释放不完全 ,位错网稀疏而且不均匀 ,其上的 Si0 .83Ge0 . 展开更多
关键词 外延层 UHV/CVD 锗化硅
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P^+-Ge_xSi_(1-x)/P—Si异质结红外探测器性能的提高 被引量:5
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作者 王瑞忠 陈培毅 +3 位作者 钱佩信 罗广礼 周均铭 刘安生 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 1997年第6期362-365,共4页
通过采用层叠结构、增加SiO2介质腔和铝反射镜、背面蒸镀SiO抗反射层等措施,使P+-GexSi1-x/p—Si异质结内光发射红外探测器在77K下的性能提高到在不加偏置电压的条件下响应范围2~8μm,D(5.5,1000,1)=1.1×1010cmHz1/... 通过采用层叠结构、增加SiO2介质腔和铝反射镜、背面蒸镀SiO抗反射层等措施,使P+-GexSi1-x/p—Si异质结内光发射红外探测器在77K下的性能提高到在不加偏置电压的条件下响应范围2~8μm,D(5.5,1000,1)=1.1×1010cmHz1/2/W,量子效率可达4%。其Dp已达到实用的PtSi红外探测器的量级。另外,在器件的结构设计中,我们采用了一种改进的电极结构,以提高器件的性能和可靠性。 展开更多
关键词 层叠结构 介质腔 异质结 红外探测器
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二次电子成分衬度成像方法在异质结半导体材料和器件的微结构研究中的应用 被引量:3
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作者 刘安生 邵贝羚 +5 位作者 安生 王敬 刘峥 徐军 王瑞忠 钱佩信 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第6期401-405,共5页
阐述了高分辨二次电子成分衬度像的成像原理、成像条件和实验方法,介绍了一种新的试样制备方法,讨论了各种制样方法的特点。以多层P+Si1-xGex/pSi异质结内光发射红外探测器为例,介绍了二次电子成分衬度像观察技术... 阐述了高分辨二次电子成分衬度像的成像原理、成像条件和实验方法,介绍了一种新的试样制备方法,讨论了各种制样方法的特点。以多层P+Si1-xGex/pSi异质结内光发射红外探测器为例,介绍了二次电子成分衬度像观察技术在异质结半导体材料和器件微结构研究中的应用。将这种技术与通常的透射电子衍射衬度方法进行了比较,讨论了它在异质结半导体材料和器件中的应用前景。 展开更多
关键词 二次电子 成分衬度像 半导体 电子显微术 微结构
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一种新型的SiGe超高真空化学气相沉积系统 被引量:8
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作者 罗广礼 陈培毅 +2 位作者 林惠旺 刘志农 钱佩信 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2000年第5期355-357,共3页
研制成功了一台超高真空化学气相沉积系统。该系统采用扁平石英管作为生长室 ,扁平石墨加热器进行加热。系统真空度用分子泵维持 ,本底真空度可达 2× 10 -6Pa。利用该系统所生长的SiGe外延层晶体质量良好 ,界面清晰平直 ;
关键词 超高真空化学气相沉积 SIGE 低温外延
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一种适合制作CMOS的SiGePMOSFET 被引量:3
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作者 黎晨 朱培喻 +2 位作者 罗广礼 陈培毅 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第7期929-932,共4页
在通常适合于制作埋沟 Si Ge NMOSFET的 Si/弛豫 Si Ge/应变 Si/弛豫 Si Ge缓冲层 /渐变 Ge组分层的结构上 ,制作成功了 Si Ge PMOSFET.这种 Si Ge PMOSFET将更容易与 Si Ge NMOSFET集成 ,用于实现 Si Ge CMOS.实验测得这种结构的 Si Ge... 在通常适合于制作埋沟 Si Ge NMOSFET的 Si/弛豫 Si Ge/应变 Si/弛豫 Si Ge缓冲层 /渐变 Ge组分层的结构上 ,制作成功了 Si Ge PMOSFET.这种 Si Ge PMOSFET将更容易与 Si Ge NMOSFET集成 ,用于实现 Si Ge CMOS.实验测得这种结构的 Si Ge PMOSFET在栅压为 3.5 V时最大饱和跨导比用作对照的 Si PMOS提高约 2倍 ,而与常规的应变 Si 展开更多
关键词 RMOSFET CMOS 锗化硅 场效应晶体管
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不同偏置电压下SiGe HBT Early电压的理论研究 被引量:3
10
作者 钱伟 金晓军 +3 位作者 张炯 林惠旺 陈培毅 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第4期261-266,共6页
Early电压VA和直流增益β是双极器件在模拟电路中应用的重要参数,本文研究了在器件不发生大注入效应和雪崩倍增效应的条件下,SiGeHBT中基区Ge含量以及VCE对器件的Early电压VA的影响,并用数值计算的方法得... Early电压VA和直流增益β是双极器件在模拟电路中应用的重要参数,本文研究了在器件不发生大注入效应和雪崩倍增效应的条件下,SiGeHBT中基区Ge含量以及VCE对器件的Early电压VA的影响,并用数值计算的方法得到了在其它参数相同的情况下,器件的Early电压VA随基区中Ge含量和偏置电压VCE的变化规律,表明Early电压VA是随VCE和Ge含量的增加而增加的.这些结果对SiGeHBT在模拟集成电路中的设计和应用提供了指导. 展开更多
关键词 锗化硅 HBT 应变层 Early电压
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适合硅微机械系统(MEMS)的集成驱动结构──铝硅双金属膜片 被引量:3
11
作者 战长青 罗台秦 +1 位作者 刘理天 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第6期441-447,共7页
双金属效应是一种基本的物理效应,这一效应在硅微机械装置上的应用,有力地弥补了硅材料不具备压电效应,电信号难以直接转换为机械驱动力的缺陷。本文将介绍我们研制的铝硅双金属膜片.膜片尺寸为4mm×4mm×(20μm单晶硅+10... 双金属效应是一种基本的物理效应,这一效应在硅微机械装置上的应用,有力地弥补了硅材料不具备压电效应,电信号难以直接转换为机械驱动力的缺陷。本文将介绍我们研制的铝硅双金属膜片.膜片尺寸为4mm×4mm×(20μm单晶硅+10μm金属铝).实验和分析结果表明,铝硅双金属膜片具有优越的力学特性,能提供足够大的动力和位移。这种集成的单片驱动结构不仅在材料及工艺上与IC工艺完全兼容,而且通过调整有关结构参数及工艺参数,可使该结构在5伏电压下稳定工作,为实现硅微机械系统(MEMS)奠定了基础.这种驱动方式是目前制造微阀门、微流量泵等需要大动力、大位移的硅微机械及其系统的理想驱动结构. 展开更多
关键词 微机械系统 MEMS 集成驱动结构 双金属效应
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一种测量外延层厚度及掺杂浓度的改进方法 被引量:2
12
作者 刘志农 熊小义 +3 位作者 付玉霞 张伟 陈培毅 钱佩信 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第11期26-28,共3页
在双台面SiGeHBT加工工艺过程中,采用RIE工艺刻蚀发射极台面时,为了避免等离子轰击对外基区表面造成损伤,同时为了防止过刻到基区,必须严格控制发射极台面的高度,从而必须准确知道未刻蚀前的厚度和刻蚀后的厚度。现有的许多对材料厚度... 在双台面SiGeHBT加工工艺过程中,采用RIE工艺刻蚀发射极台面时,为了避免等离子轰击对外基区表面造成损伤,同时为了防止过刻到基区,必须严格控制发射极台面的高度,从而必须准确知道未刻蚀前的厚度和刻蚀后的厚度。现有的许多对材料厚度及掺杂浓度的分析方法,具有各自的优缺点。本文提出了一种可以同时检测外延层的厚度及掺杂浓度分布的方法,这种方法具有简单、高效、低成本的优点。 展开更多
关键词 EFL 线性拟合 RIE工艺刻蚀 四探针 外延层厚度 掺杂浓度 测量 SiGe-HBT加工工艺 双极性晶体管
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微波低噪声SiGe HBT的研制 被引量:3
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作者 钱伟 张进书 +2 位作者 贾宏勇 林惠旺 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期445-450,共6页
利用 3μm工艺条件制得 Si Ge HBT( Heterojunction Bipolar Transistor) ,器件的特征频率达到 8GHz.60 0 MHz工作频率下的最小噪声系数为 1 .0 4 d B,相关功率增益为 1 2 .6d B,1 GHz工作频率下的最小噪声系数为 1 .9d B,相关功率增益... 利用 3μm工艺条件制得 Si Ge HBT( Heterojunction Bipolar Transistor) ,器件的特征频率达到 8GHz.60 0 MHz工作频率下的最小噪声系数为 1 .0 4 d B,相关功率增益为 1 2 .6d B,1 GHz工作频率下的最小噪声系数为 1 .9d B,相关功率增益为 9d B。 展开更多
关键词 微波 低噪声 锗化硅 HBT 晶体管
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多晶发射极双台面微波功率SiGe HBT(英文) 被引量:3
14
作者 刘志农 熊小义 +8 位作者 黄文韬 李高庆 张伟 许军 刘志弘 林惠旺 许平 陈培毅 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第9期897-902,共6页
研制成功了可商业化的 75mm单片超高真空化学气相淀积锗硅外延设备SGE50 0 ,并生长了器件级SiGeHBT材料 .研制了具有优良小电流特性的多晶发射极双台面微波功率SiGeHBT器件 ,其性能为 :β =60 @VCE/IC=9V/ 30 0 μA ,β=1 0 0 @5V/ 50mA... 研制成功了可商业化的 75mm单片超高真空化学气相淀积锗硅外延设备SGE50 0 ,并生长了器件级SiGeHBT材料 .研制了具有优良小电流特性的多晶发射极双台面微波功率SiGeHBT器件 ,其性能为 :β =60 @VCE/IC=9V/ 30 0 μA ,β=1 0 0 @5V/ 50mA ,BVCBO=2 2V ,ft/ fmax=5 4GHz/ 7 7GHz @1 0指 ,3V/ 1 0mA .多晶发射极可进一步提供直流和射频性能的折衷 ,该工艺总共只有 6步光刻 ,与CMOS工艺兼容且 (因多晶发射极 )无需发射极外延层的生长 ,这些优点使其适合于商业化生产 .利用 60指和 1 2 0指的SiGeHBT制作了微波锗硅功率放大器 .60指功放在 90 0MHz和 3 5V/ 0 2A偏置时在 1dB压缩点给出P1dB/Gp/PAE =2 2dBm/ 1 1dB/ 2 6 1 % .1 2 0指功放 90 0MHz工作时给出了Pout/Gp/PAE =33 3dBm (2 1W ) / 1 0 3dB/ 33 9% @1 1V/ 0 52A . 展开更多
关键词 锗硅 异质结双极晶体管 微波功率放大器
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用Raman光谱分析MBE生长GexSi1-x膜的组分及应变 被引量:3
15
作者 陈培毅 王瑞忠 +1 位作者 杨景铭 钱佩信 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第5期43-45,共3页
对MBE生长的GexSi1-x合金膜用Raman光谱分析了其中的组分和应力,发现较厚的GeSi膜应变较小,说明随着膜厚的增加,合金膜内原子排列发生了弛豫。20nm厚的Ge0.4Si0.6样品经过RHT处理(1000℃... 对MBE生长的GexSi1-x合金膜用Raman光谱分析了其中的组分和应力,发现较厚的GeSi膜应变较小,说明随着膜厚的增加,合金膜内原子排列发生了弛豫。20nm厚的Ge0.4Si0.6样品经过RHT处理(1000℃、10s),应变减小为原始膜的1/4~1/5。说明退火后膜几乎被完全弛豫,同时引入大量的穿通位错缺陷。用退火前后20nm样品制作了GeSi/Si异质结内光发射红外探测器件。在77K下测量,退火前样品的异质结反向电阻达500kΩ以上,而退火后样品只有1kΩ左右,根本无法在77K下工作。我们提出的方法可以同时确定膜的Ge组分及膜内应力,方法是非破坏性的。 展开更多
关键词 锗硅合金 应变 RAMAN光谱 外延生长
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SOI MOSFETI-V特性的计算机模拟 被引量:2
16
作者 王煜 张鹏飞 +2 位作者 侯东彦 钱佩信 罗台秦 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第2期30-34,共5页
本文研究了SOIMOSFET的I-V特性,建立了一套模拟SOI器件工作特性的解析模型,适用于不同的SOI膜厚和各种前、背栅的偏置情况,在各种不同情况下由计算机自动选择适当模型进行拟合,该模型物理意义明确,计算简便快速... 本文研究了SOIMOSFET的I-V特性,建立了一套模拟SOI器件工作特性的解析模型,适用于不同的SOI膜厚和各种前、背栅的偏置情况,在各种不同情况下由计算机自动选择适当模型进行拟合,该模型物理意义明确,计算简便快速,所用参数易于提取。 展开更多
关键词 计算机模拟 SOI/MOS器件 I-V特性 场效应晶体管
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TiSi_2在微波低噪声SiGe HBT中的应用 被引量:2
17
作者 张伟 王玉东 +5 位作者 熊小义 许军 单一林 李希有 刘爱华 钱佩信 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第1期40-43,共4页
通过在SiGe HBT外基区和多晶发射极上制作TiSi2,从而使器件的高频噪声系数得到进一步降低。以PD=200mW的SiGe HBT为例,采用TiSi2工艺的噪声系数典型值为F=1.6dB@1.1GHz,明显低于无TiSi2工艺SiGe HBT的2.0dB@1.1GHz,且频率越高,二者差别... 通过在SiGe HBT外基区和多晶发射极上制作TiSi2,从而使器件的高频噪声系数得到进一步降低。以PD=200mW的SiGe HBT为例,采用TiSi2工艺的噪声系数典型值为F=1.6dB@1.1GHz,明显低于无TiSi2工艺SiGe HBT的2.0dB@1.1GHz,且频率越高,二者差别越大。 展开更多
关键词 锗硅异质结双极晶体管 二硅化钛 微波 低噪声
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一种改进的便于实现的红外焦平面阵列不均匀性校正算法 被引量:3
18
作者 王瑞忠 陈培毅 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第12期916-920,共5页
本文提出了一种适合对光敏元的响应特性为非线性的红外焦平面阵列进行不均匀性校正的改进算法,与现有的算法相比,该法具有便于用软件和硬件实现的优点。同时,通过对改进前后的算法进行理论分析和软件模拟结果比较,证明二者的校正精... 本文提出了一种适合对光敏元的响应特性为非线性的红外焦平面阵列进行不均匀性校正的改进算法,与现有的算法相比,该法具有便于用软件和硬件实现的优点。同时,通过对改进前后的算法进行理论分析和软件模拟结果比较,证明二者的校正精度无本质差别,校正效果基本相同。 展开更多
关键词 红外焦平面陈列 不均匀性 校正算法 光敏元
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一种硅基集成微晃动马达 被引量:2
19
作者 孙曦庆 谢会开 +2 位作者 刘理天 李志坚 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第2期149-152,共4页
本文介绍一种硅基集成微晃动马达.该微马达的制作工艺非常简单,主要包括四次光刻(共三块版)、两次LPCVD多晶硅膜淀积和两次LTOSiO2膜淀积.微马达转子和定子由厚度为4.2μm的多晶硅膜形成,转子与定子之间的空气间... 本文介绍一种硅基集成微晃动马达.该微马达的制作工艺非常简单,主要包括四次光刻(共三块版)、两次LPCVD多晶硅膜淀积和两次LTOSiO2膜淀积.微马达转子和定子由厚度为4.2μm的多晶硅膜形成,转子与定子之间的空气间隙为2.0—2.5μm,转子的半径为40—50μm.初步测量结果表明,微晃动马达的最低驱动电压为49V,最高转速估计可达600rpm。 展开更多
关键词 微晃动马达 马达 硅基 集成
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全耗尽SOI MOSFET的阈电压的解析模型 被引量:2
20
作者 付军 田立林 +1 位作者 钱佩信 罗台秦 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第5期48-52,共5页
本文在近似求解全耗尽SOIMOSFET所满足的二维泊松方程的基础上,建立了阈电压的解析模型。通过与PISCES的模拟结果以及相应的实验数据的比较,证明本模型的误差较小。此外,本模型还具有计算简便、快速,形式直观,物理... 本文在近似求解全耗尽SOIMOSFET所满足的二维泊松方程的基础上,建立了阈电压的解析模型。通过与PISCES的模拟结果以及相应的实验数据的比较,证明本模型的误差较小。此外,本模型还具有计算简便、快速,形式直观,物理意义明确等优点。本模型的建立对于全耗尽SOIMOSFET电路模拟、器件物理特性研究及相关的工艺设计是很有意义的。 展开更多
关键词 全耗尽 SOI MOSFET 阈电压 场效应器件
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