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题名减少自反馈测试硬件代价的两种方法
被引量：1
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作者
邝继顺
靳立运
王伟征
尤志强
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机构
湖南大学计算机与通信学院
湖南大学软件学院
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出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2012年第4期880-886,共7页
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基金
国家自然科学基金项目(60773207
60673085)
中国科学院计算机系统结构重点实验室开放性课题基金项目
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文摘
由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节点"反馈"连接到电路的输入端,被测电路可以在由外部加载初始测试向量之后,利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量.对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进,提出一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法.对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明,这些方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率.
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关键词
集成电路测试
测试向量
故障效率
内建自测试
路径搜索
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Keywords
IC testing
test pattern
fault efficiency
built-in self-test
path search
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分类号
TP302
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名同步全扫描时序电路的TVAC测试方法
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作者
靳立运
邝继顺
王伟征
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机构
湖南大学计算机与通信学院
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出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第12期268-269,272,共3页
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基金
国家自然科学基金资助项目(60773207)
中国科学院计算机系统结构重点实验室基金资助项目
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文摘
自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此,研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用,提出2种测试结构,并对ISCAS89电路进行实验。实验结果表明,与加权伪随机方法和循环自测试方法相比,该方法可用较少测试矢量达到较高故障覆盖率。
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关键词
内建自测试
全扫描测试
加权随机测试
循环自测试路径
自反馈测试
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Keywords
Built-in Self-test（BIST）
full scan test
weighted-random test
Circular Self-test Path（CSTP）
self-feedback test
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分类号
TP302
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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