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远距离热成像系统的光谱匹配因数 被引量：3
1
作者 赵举廉 褚云汉 +3 位作者 赵进豪 李茜 顾里平 杨俊霞 《红外技术》 CSCD 1996年第1期16-18,共3页
本文导出了远距离热成像系统的光谱匹配因数：并证明了红外系统的最大作用距离．
关键词 远距离 热成像系统 光谱匹配因数 最大作用距离
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红外探测器探测度D（T，f）探讨 被引量：2
2
作者 赵举廉 杨俊霞 +2 位作者 褚云汉 顾里平 赵进豪 《红外技术》 CSCD 1995年第6期1-3,7,共4页
本文导出了红外探测器探测度Ｄ＊（Ｔ，ｆ，ｌ）与光谱匹配因数α（ωλＴ，ｒλ）之间的关系，对Ｄ＊（５００Ｋ，ｆ，ｌ）值进行了探讨。由于实际应用中目标温度差别很大，Ｄ＊（５００Ｋ，ｆ，ｌ）值与实际探测结果并不一致。笔者导... 本文导出了红外探测器探测度Ｄ＊（Ｔ，ｆ，ｌ）与光谱匹配因数α（ωλＴ，ｒλ）之间的关系，对Ｄ＊（５００Ｋ，ｆ，ｌ）值进行了探讨。由于实际应用中目标温度差别很大，Ｄ＊（５００Ｋ，ｆ，ｌ）值与实际探测结果并不一致。笔者导出了一个重要的关系式：Ｄ＊（Ｔ，ｆ，ｌ）＝Ｋ（Ｔ，ｒλ）Ｄ＊（５００Ｋ，ｆ，ｌ）。给出了ＨｇＣｄＴｅ、Ｉｎｓｂ和ＰｂＳ红外探测器的一种Ｋ—Ｔ曲线。提出了迅速简便获得Ｄ＊（Ｔ，ｆ，ｌ）值的修正系数法，从而得到与实际应用结果相一致的Ｄ＊（Ｔ，ｆ，ｌ）值。 展开更多
关键词 红外探测器 探测度 光谱匹配因数 修正系数法
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红外系统光谱匹配因数 被引量：2
3
作者 赵举廉 顾里平 +1 位作者 杨俊霞 诸云汉 《红外技术》 EI CSCD 1995年第1期23-26,共4页
本文从最基本的红外系统──探测器对辐射源的响应出发，导出了辐射源组合系统的光谱匹配因数表达式。并在１～１４μｍ波段范围内计算了常用红外探测器ＨｇＣｄＴｅ、ＩｎＳｂ、ＰｂＳ对３００Ｋ、５００Ｋ、８００Ｋ、１０００Ｋ黑体... 本文从最基本的红外系统──探测器对辐射源的响应出发，导出了辐射源组合系统的光谱匹配因数表达式。并在１～１４μｍ波段范围内计算了常用红外探测器ＨｇＣｄＴｅ、ＩｎＳｂ、ＰｂＳ对３００Ｋ、５００Ｋ、８００Ｋ、１０００Ｋ黑体辐射的光谱匹配因数。总结了这些红外探测器对不同温度黑体辐射光谱匹配因数的变化规律，可供红外系统设计者参考。 展开更多
关键词 红外系统 探测器 辐射源 光谱匹配因数
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热成像温差分辨率与微分光谱匹配因数的关系 被引量：1
4
作者 赵举廉 李茜 +3 位作者 赵进豪 诸云汉 顾里平 杨俊霞 《红外技术》 CSCD 1996年第3期12-13,共2页
由近距离低温面目标热成像系统的信号方程和噪声等效温差ＮＥＴＤ的定义，导出了ＮＥＴＤ∝１／Ｍ，并由此得到ＭＲＴＤ∝１／Ｍ，ＭＤＴＤ∝１／Ｍ从而证明了热成像系统的温差分辨率：ＮＥＴＤ、ＭＲＴＤ、ＭＤＴＤ均要求微分光谱匹配... 由近距离低温面目标热成像系统的信号方程和噪声等效温差ＮＥＴＤ的定义，导出了ＮＥＴＤ∝１／Ｍ，并由此得到ＭＲＴＤ∝１／Ｍ，ＭＤＴＤ∝１／Ｍ从而证明了热成像系统的温差分辨率：ＮＥＴＤ、ＭＲＴＤ、ＭＤＴＤ均要求微分光谱匹配因数Ｍ要大。这为选用光谱匹配因数Ｍ和Ｍ作为热成像系统的综合评价参数奠定了理论基础。 展开更多
关键词 温差分辨率 微分光谱 匹配因数 热成像 红外技术
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热成象系统的综合评价参数——光谱匹配因数
5
作者 赵进豪 顾里平 +2 位作者 褚云汉 杨俊霞 赵举廉 《红外技术》 CSCD 北大核心 1997年第6期11-12,共2页
论证了红外探测器和热成象系统的所有评价参数：响应度Ｒ、探测度Ｄ、信号Ｖｓ、信噪比Ｖｓ／Ｖｎ、最大作用距离／ｍａｘ及温差分辨率ＮＥＴＤ、ＭＲＴＤ、ＭＤＴＤ等，无一例外，均要求光谱匹配因数要大。光谱匹配因数能定量反映热... 论证了红外探测器和热成象系统的所有评价参数：响应度Ｒ、探测度Ｄ、信号Ｖｓ、信噪比Ｖｓ／Ｖｎ、最大作用距离／ｍａｘ及温差分辨率ＮＥＴＤ、ＭＲＴＤ、ＭＤＴＤ等，无一例外，均要求光谱匹配因数要大。光谱匹配因数能定量反映热成象系统中不同光谱响应的红外探测器，在不同天气和不同光学系统光谱透过率下，对不同温度目标辐射光谱分布的光谱匹配，因此它是能真实、客观、全面、系统、综合、定量反映热成象系统探测效果的最佳综合评价参数。 展开更多
关键词 热成象系统 评价系数 光谱匹配因数 红外探测器
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近距离热成像系统的光谱匹配因数──微分光谱匹配因数
6
作者 赵举廉 赵进豪 +3 位作者 李茜 杨俊霞 顾里平 褚云汉 《红外技术》 CSCD 1996年第2期20-22,共3页
导出了适用于近距离面目标热成像系统的微分光谱匹配因数（亦称质量因数）且。当Ｔ≈３００Ｋ、λ＝８～１４μｍ时，当Ｔ≈１０００Ｋ，λ＝３～５μｍ时，决定热成像系统的温度分辨率：ＮＥＴＤ，ＭＲＴＤ，ＭＤＴＤ。
关键词 红外技术 热成像系统 微分 光谱匹配因数
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一种测定MCT单晶表面损伤层厚度的方法——MCT多晶化形变研究之二
7
作者 唐家钿 杨雄超 +4 位作者 顾里平 朱惜辰 阚家德 袁波 莫威 《红外技术》 CSCD 1990年第5期36-39,共4页
介绍在对碲镉汞单晶片进行表面损伤的研究中观察到研磨会导致单晶片的多晶化和形变织构。应用X射线与单晶和多晶体的互作用原理,测定了多晶化形交层的厚度。
关键词 碲镉汞 表面损伤 厚度 测定 MCT
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用无火焰原子吸收法分析HgCdTe中痕量铜
8
作者 顾里平 杨恒族 《四川兵工学报》 CAS 1990年第2期119-124,共6页
关键词 铜 痕量 原子吸收法 HGCDTE
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