黄金首饰K值的XRF测定 被引量：2

1

作者 魏成连 李道伦 +2 位作者 胡金生 范钦敏 刘亚文 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1992年第9期531-535,共5页

利用散射线作“内标”,对黄金首饰进行黄金含量K值的无损定量分析。用放射性同位素^(241)Am环状源激发样品,源强18.5GBq,测量最佳准确度为0.29％。

关键词 X荧光分析 黄金首饰 K值 含金量

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纳克级全反射X射线荧光分析 被引量：6

2

作者 范钦敏 刘亚雯 +2 位作者 李道伦 魏成连 胡金生 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1990年第6期64-67,58,共5页

本文报道了由高能物理所自行研制的全反射X射线荧光分析装置,在X射线荧光分析中,应用这个装置,将使入射X射线束产生的散射本底大大降低,从而显著地改善了X射线荧光分析的检测限与灵敏度。在初始束路程上,由于能量切割反射体的应用,使初... 本文报道了由高能物理所自行研制的全反射X射线荧光分析装置,在X射线荧光分析中,应用这个装置,将使入射X射线束产生的散射本底大大降低,从而显著地改善了X射线荧光分析的检测限与灵敏度。在初始束路程上,由于能量切割反射体的应用,使初始谱的低能部分本底也明显下降。文中还给出了全反射条件下六种元素的检测限。 展开更多

关键词 纳克级 全反射 X射线 荧光分析

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硅中掺杂元素砷的三维微分析 被引量：3

3

作者 刘亚雯 范钦敏 +2 位作者 吴应荣 魏成连 肖辉 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第4期96-99,共4页

用同步辐射Ｘ光微区分析和全反射Ｘ射线荧光分析技术测定了硅中掺杂元素砷浓度的三维分布。其中深度剖面分布的测定结果与二次离子质谱进行了对照，两者的一致性是比较满意的。

关键词 X射线荧光分析 硅半导体 砷掺杂 三维分布

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全反射X射线荧光分析法测定微量硒 被引量：3

4

作者 刘亚雯 范钦敏 +1 位作者 李道伦 魏成连 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1993年第3期69-72,68,共5页

本文叙述了用全反射X荧光分析方法测定溶液中微量硒的实验装置、制样技术和测定方法。介绍了ng/mL级硒的测定结果,并对全反射X荧光分析技术中的一些问题进行了讨论。

关键词 全反射 X射线 荧光分析 硒

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青铜器的X-荧光不破坏分析方法研究 被引量：4

5

作者 胡金生 李道伦 +3 位作者 魏成连 刘亚文 范饮敏 李虎侯 《文物保护与考古科学》 1993年第2期13-17,共5页

不破坏分析法是文物保护和考古研究中最有希望的一种方法。X-荧光不破坏分析法已广泛用于多种合金的分析,但在国内把这种技术应用在古青铜的分析还不多,已发表的工作还是以放射源激发为主。由于放射源强度的限制,对小含量组分(例如含量... 不破坏分析法是文物保护和考古研究中最有希望的一种方法。X-荧光不破坏分析法已广泛用于多种合金的分析,但在国内把这种技术应用在古青铜的分析还不多,已发表的工作还是以放射源激发为主。由于放射源强度的限制,对小含量组分(例如含量为千分之一以下)分析还存在一定困难。X 射线管激发可进行小岔量组分的分析.但由于轫致辐射引起的高本底.影响了灵敏度的提高.采用 X-射线结合二次靶激发,通过对青铜标样的研究.以降低本底.提高方法灵敏度.并与放射源激发的结果进行了比较。 展开更多

关键词 X 射线荧光 不破坏分析 青铜

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用同步辐射X射线荧光微区分析技术测定单晶硅中的掺杂元素As 被引量：2

6

作者 吴强 刘亚雯 +3 位作者 魏成连 袁汉章 朱腾 闻莺 《核技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第8期476-480,共5页

利用同步辐射Ｘ射线微区分析技术，研究了单晶硅中掺杂元素Ａｓ浓度的定量分布，并对结果进行了讨论。

关键词 同步辐射 X射线荧光 硅 杂质

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Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索 被引量：1

7

作者 彭良强 魏成连 +2 位作者 刘亚雯 张天保 吴强 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第1期98-100,共3页

采用放射源２４１Ａｍ５９．６ｋｅＶγ射线分别激发金属Ｃｒ、Ｃｒ２Ｏ３和Ｋ２ＣｒＯ４，用Ｓｉ（Ｌｉ）谱仪比较测量其Ｋｘ射线的能量。实验表明Ｋ２ＣｒＯ４中ＣｒＫβ能峰相对于金属Ｃｒ有２．１２±０．２７ｅＶ的位移。

关键词 化学位移 X射线荧光 CrKβ谱线 铬

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油中金属元素的能量色散X射线荧光分析——Ⅱ.油分析中水标样的应用 被引量：1

8

作者 刘亚雯 李道伦 +1 位作者 范钦敏 魏成连 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第6期91-92,112,共3页

油中微量金属元素的分析在工业、环境、石油、地化等许多领域中都具有重要的意义。在上文“油中金属元素的能量色散X射线荧光分析Ⅰ”中,我们介绍了一种用氧化镁吸收油然后进行热分解的制样方法,采用能量色散X荧光分析技术进行微量元素... 油中微量金属元素的分析在工业、环境、石油、地化等许多领域中都具有重要的意义。在上文“油中金属元素的能量色散X射线荧光分析Ⅰ”中,我们介绍了一种用氧化镁吸收油然后进行热分解的制样方法,采用能量色散X荧光分析技术进行微量元素的测定。该方法避免了复杂的基体效应校正问题,得到了满意的浓度与荧光强度的线性关系。但在油的定量分析中,配制油的系列标准样品是个困难问题。在国内,目前尚无系列有机金属标准可利用。 展开更多

关键词 油 金属元素 能量色散 X射线荧光

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用XRF微探针研究掺杂元素锗在单晶硅中的分布 被引量：1

9

作者 吴强 刘亚雯 +1 位作者 魏成连 袁汉章 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1995年第2期99-102,共4页

用同步辐射及Ｘ光管激发Ｘ射线荧光微区分析技术研究了单晶硅中掺杂元素Ｇｅ的定性分布，为半导体材料中掺杂元素行为的研究提供了一种新的方法。

关键词 杂质 半导体材料 单晶硅 XRF 锗

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古铜镜赝品的表面组分研究 被引量：1

10

作者 李道伦 魏成连 +2 位作者 范钦敏 刘亚雯 李虎侯 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1989年第1期32-36,共5页

本文系统地比较了汉镜和赝品的表面组分、均匀度和杂质。实验结果表明赝品表面含锡量低,杂质含量高。为判别真假青铜镜提供了有用的信息。

关键词 古代青铜镜 赝品 表面组分

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油中金属元素的能量色散X射线荧光分析 Ⅰ.氧化镁吸收油热分解制样法

11

作者 刘亚雯 李道伦 +2 位作者 胡金生 范钦敏 魏成连 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第4期83-88,共6页

本文介绍了用氧化镁吸收油热分解的制样方法,而后用能量色散X射线荧光分析法测定油中微量元素。该方法避免了复杂的基体效应校正,作者用此方法测定了油中七种元素,其探测限为几个μg/g。

关键词 制样法 探测限 油金属元素 XRFA

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用同步辐射XRF和基本参数法分析

12

作者 吴强 刘亚雯 魏成连 《核技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第4期224-226,共3页

利用同步辐射Ｘ荧光分析技术，采用基本参数法，定量分析了单晶硅中掺杂元素Ｇｅ的含量。程序用标样进行了检验，误差小于１２％．

关键词 单晶硅 杂质 锗 X射线荧光分析 基本参数法

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100keV金属表面改性离子注入与混合两用机

13

作者 陈鉴璞 邱宏 +8 位作者 舒传玉 梁笳鸣 李继纲 姜福友 郁庆长 杜锡九 竺仁全 沈本蔚 魏成连 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 1994年第1期37-41,共5页

叙述了１００ｋｅＶ金属表面改性离子注入与混合两用机的总体结构及各主要部件的技术参数．该机经过调试各项主要指标已达到设计要求．工作稳定可靠，已开始金属材料表面改性实验。

关键词 离子注入 金属 表面改性 离子源

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MONTE　CARLO　CALCULATION　FOR　CALIBRATION　FUNCTIONS　IN　TOTAL　REFLECTION　X－RAY　FLUORESCENCE　SPECTROMETR

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作者 范钦敏 刘亚雯 魏成连 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 1995年第1期14-17,共4页

ＭＯＮＴＥ　ＣＡＲＬＯ　ＣＡＬＣＵＬＡＴＩＯＮ　ＦＯＲ　ＣＡＬＩＢＲＡＴＩＯＮ　ＦＵＮＣＴＩＯＮＳ　ＩＮ　ＴＯＴＡＬ　ＲＥＦＬＥＣＴＩＯＮ　Ｘ－ＲＡＹ　ＦＬＵＯＲＥＳＣＥＮＣＥ　ＳＰＥＣＴＲＯＭＥＴＲＹＦａｎＱｉｎｍ... ＭＯＮＴＥ　ＣＡＲＬＯ　ＣＡＬＣＵＬＡＴＩＯＮ　ＦＯＲ　ＣＡＬＩＢＲＡＴＩＯＮ　ＦＵＮＣＴＩＯＮＳ　ＩＮ　ＴＯＴＡＬ　ＲＥＦＬＥＣＴＩＯＮ　Ｘ－ＲＡＹ　ＦＬＵＯＲＥＳＣＥＮＣＥ　ＳＰＥＣＴＲＯＭＥＴＲＹＦａｎＱｉｎｍｉｎ（范钦敏）；ＬｉｕＹａｗｅｎ（... 展开更多

关键词 X射线荧光 总反射 MONTECARLO模拟

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用同步辐射XRF研究单晶硅中掺杂元素As的分布 被引量：1

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作者 刘亚雯 吴强 +4 位作者 胡金生 魏成连 袁汉章 朱腾 闻莺 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第21期1949-1951,共3页

半导体材料中掺入少量杂质元素可以改变材料性能,掺杂元素在晶体中的含量和分布直接影响材料的质量。电子技术的发展需要批量生产出高质量的各种掺杂的硅单晶材料,这就要求建立一种快速准确的分析测试手段与之相适应。 同步辐射X射线荧... 半导体材料中掺入少量杂质元素可以改变材料性能,掺杂元素在晶体中的含量和分布直接影响材料的质量。电子技术的发展需要批量生产出高质量的各种掺杂的硅单晶材料,这就要求建立一种快速准确的分析测试手段与之相适应。 同步辐射X射线荧光(SRXRF)是80年代发展起来的一种新技术。 展开更多

关键词 同步辐射 XRF 硅 掺杂元素 砷

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几种古代银器的X射线荧光分析 被引量：4

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作者 李虎候 魏成连 +2 位作者 李道伦 范钦敏 刘亚雯 《考古》 1988年第1期85-88,共4页

银和金一样,是不论社会制度、民族种姓、宗教信仰等各方面差别不同的人们都一致重视的物质,化学家把它归之于贵金属。大约距今五千年前,人类已经认识了银这一贵金属,从现有的考古发掘来看,长沙出土的楚怀王二十九年的银器,满城的中山靖... 银和金一样,是不论社会制度、民族种姓、宗教信仰等各方面差别不同的人们都一致重视的物质,化学家把它归之于贵金属。大约距今五千年前,人类已经认识了银这一贵金属,从现有的考古发掘来看,长沙出土的楚怀王二十九年的银器,满城的中山靖王刘胜墓中的随葬品中有一付单流银盒,这些都是我国早期使用银制器物的实物证据。但是,它们都还晚于两河流域古巴比伦王国的一只银瓶。用贵金属制成的器物,当然要以它的稀与贵来显示它的尊严,因此。 展开更多

关键词 荧光分析 贵金属 射线 银器 古巴比伦王国 测量标准 元素 基本参数法 铜合金 宗教信仰

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