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太阳成像仪镜筒舱内压力控制技术研究
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作者 崔致和 孙冬花 +4 位作者 周明 陈联 齐润泽 李棉峰 成永军 《真空科学与技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第3期191-195,共5页
文章阐述了太阳成像仪镜筒舱内压力控制技术研究,主要包括限流小孔机械尺寸理论分析、慢速泄压阀设计、镜筒压力控制模拟测试等内容。目前,所研制的慢速泄压阀已顺利交付使用,并随46.5 nm极紫外太阳成像仪在中科院空间新技术试验卫星上... 文章阐述了太阳成像仪镜筒舱内压力控制技术研究,主要包括限流小孔机械尺寸理论分析、慢速泄压阀设计、镜筒压力控制模拟测试等内容。目前,所研制的慢速泄压阀已顺利交付使用,并随46.5 nm极紫外太阳成像仪在中科院空间新技术试验卫星上进行了搭载,实现了在轨顺利开机,验证了太阳成像仪镜筒舱内压力控制手段的正确性。 展开更多
关键词 镜筒 太阳成像仪 压力控制 在轨搭载
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河湟地区生态脆弱性时空演变及影响因素研究 被引量:1
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作者 齐润泽 潘竟虎 《干旱区研究》 CSCD 北大核心 2023年第6期1002-1013,共12页
基于暴露度-敏感性-适应力生态脆弱性概念模型构建评价指标体系,利用投影寻踪模型和遗传算法确定指标权重,计算了河湟地区生态脆弱性指数,采用时空扫描探究生态脆弱性空间聚集特征及时空变化规律,借助地理探测器研究生态脆弱性的影响因... 基于暴露度-敏感性-适应力生态脆弱性概念模型构建评价指标体系,利用投影寻踪模型和遗传算法确定指标权重,计算了河湟地区生态脆弱性指数,采用时空扫描探究生态脆弱性空间聚集特征及时空变化规律,借助地理探测器研究生态脆弱性的影响因素。结果表明:2000—2020年河湟地区生态脆弱性以轻度脆弱与中度脆弱为主,空间分布存在明显的地域差异。生态脆弱性存在明显的时间聚集性与局部的空间聚集特征,高值集聚与低值集聚共存,空间集聚主要分布于甘肃省境内。2000—2020年生态脆弱度整体呈降低趋势,53.36%的土地生态脆弱性有所降低。对生态脆弱性影响最大的因子是植被覆盖度,其次是沙漠化指数、植被净初级生产力、干旱指数、生境质量指数、海拔等。 展开更多
关键词 生态脆弱性 黄河流域生态保护 时空扫描 地理探测器 影响因素 河湟地区
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高性能大尺寸X射线多层膜反射元件研制进展 被引量:1
3
作者 黄秋实 齐润泽 +6 位作者 张哲 李文斌 蒋励 张云学 庄野琪 张众 王占山 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第21期2793-2804,共12页
X射线多层膜是同步辐射与自由电子激光、天文观测、等离子体诊断等大科学装置和实验室分析仪器的重要光学元件,能高效率反射X射线并实现单色和偏振化等调控。本课题组在近二十年的工作中对X射线多层膜的设计、制备和表征方法开展了系统... X射线多层膜是同步辐射与自由电子激光、天文观测、等离子体诊断等大科学装置和实验室分析仪器的重要光学元件,能高效率反射X射线并实现单色和偏振化等调控。本课题组在近二十年的工作中对X射线多层膜的设计、制备和表征方法开展了系统深入的研究,研制了一系列工作在软X射线和硬X射线不同波段的高性能多层膜,反射率达到国际先进水平;基于磁控溅射技术建立了大尺寸掠入射X射线多层膜的镀制平台,最大镀膜尺寸达1.2 m,均匀性优于0.5%(均方根值),制备的硬X射线多层膜反射镜成功应用在国内外大科学装置中;通过将多层膜与反射光栅相结合,创新发展了超高效率韧X射线多层膜光栅元件,相比传统单层膜光栅,该元件能将韧X射线衍射效率最高提升40倍。本文将简要介绍课题组在X射线多层膜元件领域的研究进展。 展开更多
关键词 X射线多层膜 反射率 大尺寸反射元件 多层光栅
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等离子体诊断用多层膜X射线成像光学研究进展 被引量:1
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作者 伊圣振 黄秋实 +2 位作者 齐润泽 张众 王占山 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第21期2783-2792,共10页
发展精密X射线诊断技术对于惯性约束聚变(ICF)物理过程的研究具有重要意义。本文对同济大学精密光学工程技术研究所在高性能多层膜掠入射X射线光学方面的最新进展进行了较全面的介绍。针对ICF高时空分辨、能谱分辨和高集光效率诊断需求... 发展精密X射线诊断技术对于惯性约束聚变(ICF)物理过程的研究具有重要意义。本文对同济大学精密光学工程技术研究所在高性能多层膜掠入射X射线光学方面的最新进展进行了较全面的介绍。针对ICF高时空分辨、能谱分辨和高集光效率诊断需求,从多通道掠入射X射线成像技术、多层膜掠入射X射线成像技术及应用效果几个方面,对目前研究进展进行了系统介绍。在多通道掠入射X射线成像方面主要介绍高分辨多通道KB成像系统及其高精度在线装调技术。在实现空间分辨优于5μm、十六通道成像的基础上,采用“物-诊断物镜-像”的高复位精度集成指示技术,有效保障了多通道KB系统的装置应用效果。在多层膜掠入射X射线成像方面,本文主要介绍多层膜分光器件的能谱调控和制备技术以及系统的精密瞄准技术。目前,多套基于多层膜阵列器件的多能谱X射线诊断设备已在激光装置上得到广泛应用,空间分辨率在3~5μm,诊断能点达到4个,技术指标显著优于国外同类器件,为国内ICF诊断提供了有力支撑。 展开更多
关键词 惯性约束聚变 等离子体诊断 多层膜 Kirkpatrick-Baez显微镜 高时空分辨
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eXTP望远镜用W/Si多层膜 被引量:1
5
作者 齐润泽 黄秋实 +2 位作者 杨洋 张众 王占山 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第11期2796-2802,共7页
针对增强型X射线时变与偏振探测卫星(eXTP)项目中嵌套式聚焦成像望远镜对柱面镜片上W/Si多层膜的要求,在掠入射角为0.5°,工作波段为1~30keV条件下,设计了非周期W/Si多层膜并优化了薄膜制备工艺。首先,利用分隔板和掩模板对溅射粒... 针对增强型X射线时变与偏振探测卫星(eXTP)项目中嵌套式聚焦成像望远镜对柱面镜片上W/Si多层膜的要求,在掠入射角为0.5°,工作波段为1~30keV条件下,设计了非周期W/Si多层膜并优化了薄膜制备工艺。首先,利用分隔板和掩模板对溅射粒子进行准直,同时优化了本底真空度和溅射工作气压,提升了薄膜的成膜质量;然后,通过调整分隔板间距和公转速率提升了在柱面基底上薄膜的沉积均匀性;最后,利用幂指数算法设计了非周期多层膜,并在北京同步辐射光源上进行了多能点反射率测试,得到了与理论设计基本吻合的测试结果。基于优化的制备工艺制备了周期数为80,周期为3.8nm和W膜层厚度占比为0.47的W/Si周期多层膜,其界面粗糙度仅为0.29nm,柱面镜薄膜厚度误差可控制在3%以内,基本满足了eXTP项目中嵌套式掠入射望远镜镜片用多层膜对于成膜质量、沉积厚度均匀性和能谱响应宽度的需求。 展开更多
关键词 eXTP项目 界面粗糙度 薄膜厚度均匀性 柱面镜 非周期多层膜
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同济大学精密光学工程技术研究所二十年创新历程
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作者 王占山 张众 +30 位作者 程鑫彬 沈正祥 李文斌 王晓强 马彬 焦宏飞 张锦龙 魏泽勇 王昆 黄秋实 蒋励 伊圣振 邓晓 顿雄 江涛 齐润泽 欧凯 施宇智 黄迪 余俊 顾振杰 骆文锦 董思禹 朱静远 谢凌云 何涛 张哲 盛鹏峰 钮信尚 陈玲燕 李同保 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第21期2555-2567,共13页
同济大学精密光学工程技术研究所成立二十年来,以探索前沿科学问题、突破核心关键技术、服务国家重要应用为目标,形成了理论与模拟相结合、科学问题解决与关键技术突破相结合、基础研究与重要应用相结合的特色,形成了研究所的发展理念,... 同济大学精密光学工程技术研究所成立二十年来,以探索前沿科学问题、突破核心关键技术、服务国家重要应用为目标,形成了理论与模拟相结合、科学问题解决与关键技术突破相结合、基础研究与重要应用相结合的特色,形成了研究所的发展理念,打造了高水平研究平台,在X射线器件与系统、强激光薄膜与应用、光学纳米计量与测试、微纳光学与智能感知四个研究方向上取得了突出的研究成果,已成为高层次人才培养和高水平科学研究的重要基地。 展开更多
关键词 发展理念 研究平台 研究成果 研究基地
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极紫外-真空紫外光学薄膜元件的研究进展
7
作者 齐润泽 张锦龙 +2 位作者 黄秋实 张众 王占山 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第21期2639-2654,共16页
极紫外-真空紫外高性能薄膜光学元件的发展对天文、材料、物理等学科具有重要意义。本文主要介绍了同济大学精密光学工程技术研究所在高性能极紫外-真空紫外薄膜光学元件的最新进展。展示了极紫外-真空紫外波段(10~200nm)用薄膜反射镜... 极紫外-真空紫外高性能薄膜光学元件的发展对天文、材料、物理等学科具有重要意义。本文主要介绍了同济大学精密光学工程技术研究所在高性能极紫外-真空紫外薄膜光学元件的最新进展。展示了极紫外-真空紫外波段(10~200nm)用薄膜反射镜、薄膜单色器和薄膜起偏器的研究成果。为适应不同的使用需求和环境,开展薄膜内部微结构的综合表征及其物理化学机制的研究,形成了一套完备的极紫外-真空紫外薄膜光学元件表征、优化、制备技术体系,有效提升了均匀性、反射效率、带宽、稳定性和偏振度等薄膜元件核心性能。高性能的极紫外-真空紫外薄膜光学元件研制技术将为我国大型地面科学装置及空间天文观测设备提供强有力的支撑。 展开更多
关键词 极紫外-真空紫外 薄膜元件 均匀性 窄带宽 稳定性 高反射效率
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低温退火的X射线W/Si多层膜应力和结构性能 被引量:1
8
作者 张金帅 黄秋实 +5 位作者 蒋励 齐润泽 杨洋 王风丽 张众 王占山 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第8期281-287,共7页
W/Si多层膜反射镜在硬X射线天文望远镜中有重要应用.为减小其应力对反射镜面形和望远镜分辨率的影响,同时保证较高的反射率,采用150,175和200°C的低温退火工艺对采用磁控溅射镀制的W/Si周期多层膜进行后处理.利用掠入射X射线反射... W/Si多层膜反射镜在硬X射线天文望远镜中有重要应用.为减小其应力对反射镜面形和望远镜分辨率的影响,同时保证较高的反射率,采用150,175和200°C的低温退火工艺对采用磁控溅射镀制的W/Si周期多层膜进行后处理.利用掠入射X射线反射测试和样品表面面形测试对退火前后W/Si多层膜的应力和结构进行表征.结果表明,在150°C退火3 h后,多层膜1级峰反射率和膜层结构几乎没有发生变化,应力减少约27%;在175°C退火3 h后,多层膜膜层结构开始发生变化,应力减少约50%;在200°C退火3 h后,多层膜应力减小超过60%,但1级布拉格峰反射率相对下降17%,且膜层结构发生了较大变化.W,Si界面层的增大和相互扩散加剧是应力和反射率下降的主要原因. 展开更多
关键词 X射线 W/Si多层膜 退火 应力
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Si间隔层对Al(1wt.%Si)/Zr极紫外多层膜热稳定的作用研究(英文) 被引量:1
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作者 李嘉 朱杰 +3 位作者 张众 齐润泽 钟奇 王占山 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2015年第4期1335-1342,共8页
为了提升Al/Zr多层膜的热稳定性,采用直流磁控溅射方法制备了18个带有不同厚度Si间隔层的Al(1 wt.%Si)/Zr多层膜,并将这些样品分别进行了不同温度(100-500℃)的真空退火,退火时间为1 h。利用X射线掠入射反射(GIXR)和X射线衍射(XR... 为了提升Al/Zr多层膜的热稳定性,采用直流磁控溅射方法制备了18个带有不同厚度Si间隔层的Al(1 wt.%Si)/Zr多层膜,并将这些样品分别进行了不同温度(100-500℃)的真空退火,退火时间为1 h。利用X射线掠入射反射(GIXR)和X射线衍射(XRD)的方法来研究Si间隔层对Al/Zr多层膜热稳定性的作用。GIXR测量结果表明:随着Si间隔层厚度的增大,Al膜层的粗糙度减小,而Zr膜层的粗糙度增大;XRD测量结果表明:Al和Zr膜层粗糙度的变化是由于退火后膜层中晶粒尺寸不同造成的。相比于没有Si间隔层的Al/Zr多层膜,引入厚度为0.6 nm的Si间隔层可以有效提升Al/Zr多层膜的热稳定性。 展开更多
关键词 Al/Zr多层膜 热稳定性 Si间隔层 合金界面层模型
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涂硼中子探测器用B4C薄膜的应力和粘附力研究(英文) 被引量:1
10
作者 冯秦旭 齐润泽 +4 位作者 李文斌 倪航剑 黄秋实 张众 王占山 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2019年第S2期74-80,共7页
涂硼中子探测器作为3He中子探测器的替代技术,已经成为了当今研究的焦点。对于涂硼中子探测器而言,B4C薄膜的应力需要减小,与铝基底间的粘附力需要增大。为了增大B4C薄膜与铝基底间的粘附力,该实验使用直流磁控溅射技术在不使用基底加... 涂硼中子探测器作为3He中子探测器的替代技术,已经成为了当今研究的焦点。对于涂硼中子探测器而言,B4C薄膜的应力需要减小,与铝基底间的粘附力需要增大。为了增大B4C薄膜与铝基底间的粘附力,该实验使用直流磁控溅射技术在不使用基底加热的前提下制备应力较小的B4C薄膜,同时在铝基底和B4C薄膜之间添加Mg-Al合金层。该实验主要研究了沉积过程中溅射气压对B4C薄膜应力的影响,以及Mg-Al合金层及其溅射气压和厚度对B4C薄膜粘附力的影响。实验结束后采用扫描电镜和透射电镜对薄膜的微观结构进行了表征和分析。实验结果表明,当沉积过程中溅射气压增大时,B4C薄膜的应力减小并趋于稳定。超薄多孔的Mg-Al合金层与B4C、Al2O3有着明显的反应,能够在不使用基底加热的前提下有效地增大B4C薄膜与铝基底间的粘附力。 展开更多
关键词 涂硼中子探测器 应力 Mg-Al合金薄膜 粘附力
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不同本底真空制备的Yb/Al多层膜结构和反射率研究 被引量:2
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作者 肖两省 齐润泽 +4 位作者 来搏 黄秋实 吴佳莉 余越 辛子华 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第11期271-278,共8页
为研究本底真空对Yb/Al多层膜微结构和光学性能的影响,使用直流磁控溅射设备,在本底真空度分别为4×10^(-5)Pa、8×10^(-5)Pa、1×10^(-4)Pa、2×10^(-4)Pa和4×10^(-4)Pa条件下,制备了一组结构相同的SiC/(Yb/Al)_... 为研究本底真空对Yb/Al多层膜微结构和光学性能的影响,使用直流磁控溅射设备,在本底真空度分别为4×10^(-5)Pa、8×10^(-5)Pa、1×10^(-4)Pa、2×10^(-4)Pa和4×10^(-4)Pa条件下,制备了一组结构相同的SiC/(Yb/Al)_(3)周期多层膜。使用X射线掠入射反射、原子力显微镜及大角X射线衍射等方法表征了样品表面和内部结构,结果表明:当本底真空度从4×10^(-4)Pa提高至4×10^(-5)Pa时,Yb/Al多层膜的平均界面宽度从2.15 nm减小到1.82 nm;表面粗糙度从1.87 nm减小到1.43 nm;膜层内有Yb、Yb2O3和Al结晶,结晶尺寸随真空度略有增加。SiC/(Yb/Al)_(3)周期多层膜为张应力,当本底真空度从4×10^(-4)Pa提升至4×10^(-5)Pa时,应力从85 MPa增大到142 MPa。测试了本底真空度为4×10^(-5)Pa时制备的多层膜样品的反射率,在波长为73.6 nm、入射角为5°时,反射率为31.3%。 展开更多
关键词 紫外辐射 真空沉积 多层膜 反射 磁控溅射
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Stress, Roughness and Reflectivity Properties of Sputter-Deposited B4C Coatings for X-Ray Mirrors 被引量:2
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作者 吴佳莉 齐润泽 +3 位作者 黄秋实 冯宇飞 王占山 辛子华 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2019年第12期17-21,共5页
Boron carbide(B4C)coatings have high reflectivity and are widely used as mirrors for free-electron lasers in the x-ray range.However,B4C coatings fabricated by direct-current magnetron sputtering show a strong compres... Boron carbide(B4C)coatings have high reflectivity and are widely used as mirrors for free-electron lasers in the x-ray range.However,B4C coatings fabricated by direct-current magnetron sputtering show a strong compressive stress of about-3 GPa.By changing the argon gas pressure and nitrogen-argon gas mixing ratio,we are able to reduce the intrinsic stress to less than-1 GPa for a 50-nm-thick B4C coating.It is found that the stress in a coating deposited at 10 m Torr is-0.69 GPa,the rms roughness of the coating surface is 0.53 nm,and the coating reflectivity is 88%,which is lower than those of coatings produced at lower working pressures.When the working gas contains 8%nitrogen and 92%argon,the B4 C coating shows not only-1.19 GPa stress but also a low rms roughness of 0.16 nm,and the measured reflectivity is 93%at the wavelength of 0.154 nm. 展开更多
关键词 coating STRESS CARBIDE
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大尺寸高性能X射线双通道多层膜反射镜研制
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作者 张云学 黄秋实 +9 位作者 朱一帆 张哲 齐润泽 黄瀚丹 王玉柱 何玉梅 罗红心 祝万钱 张众 王占山 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第2期265-273,共9页
为满足同步辐射装置中X射线单色器的需求,在直线式磁控溅射设备上制备了W/Si和Ru/C双通道多层膜反射镜。制备的W/Si多层膜和Ru/C多层膜的周期厚度均为3 nm,平均界面宽度分别为0.30 nm和0.32 nm。在320 mm长度范围和20 mm宽度范围内,W/S... 为满足同步辐射装置中X射线单色器的需求,在直线式磁控溅射设备上制备了W/Si和Ru/C双通道多层膜反射镜。制备的W/Si多层膜和Ru/C多层膜的周期厚度均为3 nm,平均界面宽度分别为0.30 nm和0.32 nm。在320 mm长度范围和20 mm宽度范围内,W/Si多层膜膜厚误差的均方根值分别为0.30%和0.19%,Ru/C多层膜膜厚误差的均方根值分别为0.39%和0.20%。对制备的样品进行了表面形貌测试和非镜面散射测试,对比了W/Si多层膜和Ru/C多层膜的表面和界面粗糙度大小。硬X射线反射率测试结果表明,W/Si多层膜和Ru/C多层膜在8.04 keV能量点处的一级布拉格峰测试反射率分别为63%和62%,角分辨率均为2.6%。基于以上研究,在尺寸为350 mm×60 mm的高精度Si平面镜表面镀制了W/Si和Ru/C双通道多层膜,并且其被成功应用于上海同步辐射光源线站中。 展开更多
关键词 X射线光学 双通道多层膜 磁控溅射 均匀性 反射率
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40~90 nm波段极紫外多层膜研究进展
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作者 来搏 蒋励 +1 位作者 齐润泽 王占山 《光学精密工程》 EI CAS 2024年第9期1293-1306,共14页
极紫外多层膜反射镜在许多科学与技术领域,如极紫外光刻、天体物理学、等离子体诊断、阿秒物理和自由电子激光等方面有重要应用。多层膜使极紫外波段反射镜在正入射条件下具有高反射率和窄带宽成为可能。多层膜反射镜是极紫外成像和光... 极紫外多层膜反射镜在许多科学与技术领域,如极紫外光刻、天体物理学、等离子体诊断、阿秒物理和自由电子激光等方面有重要应用。多层膜使极紫外波段反射镜在正入射条件下具有高反射率和窄带宽成为可能。多层膜反射镜是极紫外成像和光谱应用的重要器件,多层膜构成的极紫外成像系统已成功完成多个太阳单一谱线的成像观测。本文综述了40~90 nm波段最有前景的多层膜的研究进展。首先简要介绍了多层膜的基本原理,叙述了40~90 nm波段材料光学常数的测量,总结了Mg基、Sc基和镧系材料以及其他材料组成多层膜的进展,给出了目前达到的最佳反射率和带宽,阐明了多层膜的时间稳定性,从而为40~90 nm波段多层膜制备提供了技术指导。 展开更多
关键词 光学薄膜 极紫外 多层膜 窄带 高反射
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极紫外、X射线和中子薄膜光学元件与系统 被引量:8
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作者 王占山 黄秋实 +5 位作者 张众 伊圣振 李文斌 沈正祥 齐润泽 余俊 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第1期430-448,共19页
极紫外、X射线和中子光学为现代科学的发展提供了高精度的观测手段,但这些手段的实现需要大量高性能薄膜光学元件和系统的支撑。由于短波长和材料光学常数的限制,短波光学元件的结构、性能和制作技术明显区别于长波光学元件。近二十年来... 极紫外、X射线和中子光学为现代科学的发展提供了高精度的观测手段,但这些手段的实现需要大量高性能薄膜光学元件和系统的支撑。由于短波长和材料光学常数的限制,短波光学元件的结构、性能和制作技术明显区别于长波光学元件。近二十年来,同济大学精密光学工程技术研究所建立了以短波反射镜为基底的精密加工检测平台,发展了超薄薄膜界面生长调控方法和大尺寸薄膜镀制技术,提出了高效率/高分辨率多层膜微纳结构的衍射理论和制备方法,初步阐明了短波辐照损伤的物理机制,形成了短波薄膜和晶体聚焦成像系统的高精度全流程研制技术,并将该技术成功应用于国内和国际短波光子大科学装置中。本文简要介绍本课题组在上述短波元件和系统领域中的研究进展。 展开更多
关键词 极紫外、X射线、中子射线 薄膜 光栅 聚焦成像系统 加工 损伤
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激光惯性约束聚变X射线诊断用多通道Kirkpatrick-Baez成像系统研究进展 被引量:6
16
作者 伊圣振 司昊轩 +5 位作者 黄秋实 张众 蒋励 齐润泽 张哲 王占山 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第11期102-113,共12页
在激光惯性约束聚变(ICF)研究中,涉及X射线时间、空间和能谱信息的等离子体诊断能够为数值模拟提供关键的实验数据支撑,有效推进对ICF关键物理问题的认识。以Kirkpatrick-Baez(KB)结构为代表的多通道掠入射系统是实现高分辨X射线时空成... 在激光惯性约束聚变(ICF)研究中,涉及X射线时间、空间和能谱信息的等离子体诊断能够为数值模拟提供关键的实验数据支撑,有效推进对ICF关键物理问题的认识。以Kirkpatrick-Baez(KB)结构为代表的多通道掠入射系统是实现高分辨X射线时空成像的重要手段,在ICF诊断研究中有着广泛的应用。主要介绍了高分辨多通道KB成像系统的发展历史,梳理和分析了KB系统研制的瓶颈问题,在此基础上重点展示了国内近年来在基于多层膜光学的多通道KB诊断系统研制方面取得的研究进展。随着精密薄膜器件和掠入射X射线光学集成等关键技术的突破,多通道多层膜KB成像系统已经在我国ICF诊断研究中得到广泛应用,有力保障了国内ICF研究单位相关物理实验的开展。 展开更多
关键词 X射线光学 激光惯性约束聚变 等离子体诊断 X射线成像 Kirkpatrick-Baez显微镜 多通道 X射线多层膜
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极紫外-真空紫外薄膜光学元件研究 被引量:1
17
作者 齐润泽 张锦龙 +4 位作者 吴佳莉 李双莹 黄秋实 张众 王占山 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第11期40-50,共11页
极紫外-真空紫外高性能薄膜光学元件大幅提升了高精度观测能力,助力了天文、材料、物理等学科发展。同济大学精密光学工程技术研究所根据不同应用需求以及薄膜材料自身的物理化学特性,开展了针对高性能极紫外-真空紫外薄膜光学元件的广... 极紫外-真空紫外高性能薄膜光学元件大幅提升了高精度观测能力,助力了天文、材料、物理等学科发展。同济大学精密光学工程技术研究所根据不同应用需求以及薄膜材料自身的物理化学特性,开展了针对高性能极紫外-真空紫外薄膜光学元件的广泛深入研究,成功研制了诸如Mg/SiC、Sc/Si、Yb/Al、Al+LiF+eMgF_(2)、LaF_(3)/MgF_(2)等多种高性能薄膜反射镜,以满足极紫外-真空紫外(25~200 nm)全波段的应用需求,这些高性能薄膜反射镜已在诸多国内大型地面科学装置及空间天文观测设备中得到应用。简要介绍同济大学精密光学工程技术研究所在极紫外-真空紫外薄膜光学元件研制工作中取得的进展。 展开更多
关键词 X射线光学 极紫外-真空紫外 薄膜元件 窄带宽 稳定性 高反射率
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同步辐射用Au-Pt多层薄膜反射镜
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作者 陈加琪 齐润泽 +2 位作者 冯宇飞 黄秋实 王占山 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2019年第3期1-5,共5页
同步辐射广泛使用Au薄膜作为反射镜膜层,降低Au薄膜的粗糙度以减小散射信号仍是难点。基于国内外对Au薄膜的研究,本文采用在Au薄膜中插入Pt间隔层的方法,制备了新型Au-Pt薄膜。原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)测试结果表明:... 同步辐射广泛使用Au薄膜作为反射镜膜层,降低Au薄膜的粗糙度以减小散射信号仍是难点。基于国内外对Au薄膜的研究,本文采用在Au薄膜中插入Pt间隔层的方法,制备了新型Au-Pt薄膜。原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)测试结果表明:采用1 nm厚的Au膜层和1 nm厚的Pt间隔层交替制备的方法所获得的新型Au-Pt薄膜,粗糙度小于0.3 nm,明显小于传统Au薄膜的粗糙度;通过X射线衍射(X-ray Diffractometer,XRD)测试可以发现,Pt间隔层的插入能够有效抑制Au膜结晶。随着Pt间隔层插入间隔的减小,Au膜结晶程度显著降低。根据AFM测试结果,使用IMD软件计算了传统Au薄膜以及新型Au-Pt薄膜的反射率,发现新型Au-Pt薄膜反射率比传统Au薄膜略有提高,同时新型Au-Pt薄膜的表面粗糙度更小,降低了散射强度,提升了反射镜的实际性能。本文为用于同步辐射的高传输效率、高反射率的Au-Pt薄膜反射镜的制备提供了参考。 展开更多
关键词 同步辐射 磁控溅射 Au-Pt薄膜 表面粗糙度 反射率
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