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硅基PbSe/BaF_2/CaF_2薄膜及其光电特性 被引量:4
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作者 金进生 吴惠桢 +3 位作者 常勇 寿翔 X.M.Fang p.j.mccann 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期154-156,共3页
采用分子束外延方法在 Si(111)衬底上生长了 Pb Se/ Ba F2 / Ca F2 薄膜 ,扫描电镜和 X-光衍射分析显示 ,通过生长 Ba F2 / Ca F2 缓冲层的方法 ,在 Si(111)衬底上外延的 Pb Se薄膜晶体质量高 ,Pb Se表面光亮 ,无开裂现象发生 ,X-光衍... 采用分子束外延方法在 Si(111)衬底上生长了 Pb Se/ Ba F2 / Ca F2 薄膜 ,扫描电镜和 X-光衍射分析显示 ,通过生长 Ba F2 / Ca F2 缓冲层的方法 ,在 Si(111)衬底上外延的 Pb Se薄膜晶体质量高 ,Pb Se表面光亮 ,无开裂现象发生 ,X-光衍射峰峰宽窄 (15 3arcs) .外延生长的 Pb Se薄膜被应用于制作光电二极管 ,首次采用热蒸发金属铝膜在 Pb Se表面形成 Al- Pb Se肖特基结光电二极管 ,获得了比 Pb- Pb Se肖特基结更为稳定和理想的电流 展开更多
关键词 PbSe薄膜 BaF2/CaF2缓冲层 肖特基结 I-V特性 分子束外延 光电二极管 SI(111)
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Raman Scattering Study of PbSe Grown on(111)BaF_(2) Substrate
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作者 YANG Ai-ling WU Hui-Zhen +5 位作者 LI Zhi-Feng QIU Dong-Jiang CHANG Yong LI Jian-Feng p.j.mccann X.M.Fang 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2000年第8期606-608,共3页
PbSe films were grown on(111)-oriented BaF_(2)substrates by using molecular beam epitaxy.High resolution x-ray diffraction characterization showed good crystalline quality of PbSe films.Both longitudinal optical phono... PbSe films were grown on(111)-oriented BaF_(2)substrates by using molecular beam epitaxy.High resolution x-ray diffraction characterization showed good crystalline quality of PbSe films.Both longitudinal optical phonon at 135cm^(-1)and transverse optical phonon at 47.6cm-1 were observed by Raman scattering measurements.The Raman tensor calculation demonstrates that both transverse-optical and longitudinal-optical(LO)phonons in PbSe crystal are Raman active on(111)-oriented surface,Furthermore,2LO phonon at about 270cm^(-1)and polaron at about 800cm^(-1)in PbSe,were also observed.The observed Raman frequencies are in good agreement with theoretical calculations using point ion model. 展开更多
关键词 SCATTERING TRANSVERSE PHONON
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