针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题,基于克里金插值的变异函数,构造电离层插值的粗差剔除统计量,实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证,得出以下结论:①粗差剔除统计量能...针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题,基于克里金插值的变异函数,构造电离层插值的粗差剔除统计量,实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证,得出以下结论:①粗差剔除统计量能有效剔除粗差,保证插值精度与样本精度相当;②基于2014年太阳活动高年样本,克里金插值的精度RMS为1.0~5.0 TECU(total electron content unit)。展开更多
分析研究了常规电离层总电子含量TEC(Total Electric Content)提取的精度评估问题。提出了基于临近穿刺点偏差和相邻天邻近历元跳变分析的综合电离层TEC提取精度评估方法;并采用MGEX和iGMAS部分测站实测数据,验证了该方法的有效性。与...分析研究了常规电离层总电子含量TEC(Total Electric Content)提取的精度评估问题。提出了基于临近穿刺点偏差和相邻天邻近历元跳变分析的综合电离层TEC提取精度评估方法;并采用MGEX和iGMAS部分测站实测数据,验证了该方法的有效性。与传统方法相比,采用该方法给出的评估结果更加细化,可用于小区域电离层的活动程度分析。展开更多
文摘针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题,基于克里金插值的变异函数,构造电离层插值的粗差剔除统计量,实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证,得出以下结论:①粗差剔除统计量能有效剔除粗差,保证插值精度与样本精度相当;②基于2014年太阳活动高年样本,克里金插值的精度RMS为1.0~5.0 TECU(total electron content unit)。
文摘分析研究了常规电离层总电子含量TEC(Total Electric Content)提取的精度评估问题。提出了基于临近穿刺点偏差和相邻天邻近历元跳变分析的综合电离层TEC提取精度评估方法;并采用MGEX和iGMAS部分测站实测数据,验证了该方法的有效性。与传统方法相比,采用该方法给出的评估结果更加细化,可用于小区域电离层的活动程度分析。