TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展

1

作者 陈泽康 沈奕 +2 位作者 翟晨阳 董晨瑶 王双喜 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2024年第11期1463-1476,共14页

液晶显示屏幕的表面缺陷检测是保证TFT-LCD等液晶显示屏质量稳定性的关键。得益于在检测表面缺陷方面高效率、低成本的优势,机器视觉技术目前已经成为TFT-LCD质量检测的主要手段。本文首先概述了液晶屏的发展历程,列举了常见Mura缺陷的... 液晶显示屏幕的表面缺陷检测是保证TFT-LCD等液晶显示屏质量稳定性的关键。得益于在检测表面缺陷方面高效率、低成本的优势,机器视觉技术目前已经成为TFT-LCD质量检测的主要手段。本文首先概述了液晶屏的发展历程,列举了常见Mura缺陷的类型,分别介绍了基于传统图像处理和基于深度学习的Mura缺陷检测方法,概述了图像滤波和图像亮度校正等图像预处理技术的研究动态。本文重点阐述了监督学习、无监督学习和迁移学习等人工智能技术在TFT-LCD表面Mura缺陷检测领域的应用,并对基于机器视觉的TFT-LCD表面Mura缺陷检测的技术发展趋势进行了展望。 展开更多

关键词 tft-lcd mura缺陷 机器视觉 图像处理 深度学习

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基于机器视觉的手机屏幕Mura缺陷检测方法研究

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作者 侯一帆 楼佩煌 +1 位作者 钱晓明 武星 《机械设计与制造工程》 2024年第6期87-90,共4页

通过分析手机屏幕质量检测的重要性以及人工检测的弊端,提出了一种基于机器视觉的手机屏幕Mura缺陷检测方法。首先针对手机屏幕中Mura缺陷对比度低、无明显边界以及背景存在周期性纹理的特点,设计Mura缺陷检测算法,通过图像预处理技术... 通过分析手机屏幕质量检测的重要性以及人工检测的弊端,提出了一种基于机器视觉的手机屏幕Mura缺陷检测方法。首先针对手机屏幕中Mura缺陷对比度低、无明显边界以及背景存在周期性纹理的特点,设计Mura缺陷检测算法,通过图像预处理技术提取感兴趣区域(ROI),设计多尺度多方向的Gabor滤波器组抑制图像重复纹理背景。然后提出基于高斯差分思想的图像增强算法以提高缺陷与背景的对比度,采用局部自适应阈值分割方法对缺陷进行分割,并选取合适的特征参数对Mura缺陷进行量化。试验结果表明,该算法能有效地抑制纹理背景,准确地分割量化缺陷,且算法鲁棒性好,检测准确率≥95%,误检率≤5%,漏检率≤0.5%,检测平均耗时2.3 s,能够满足实际生产中液晶屏缺陷检测的准确度和实时性要求。 展开更多

关键词 机器视觉 mura缺陷 GABOR滤波 纹理背景 缺陷分割

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基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法 被引量：10

3

作者 卢小鹏 李辉 +2 位作者 刘云杰 梁平 李坤 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2014年第1期146-151,共6页

针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓... 针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性。在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高。实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快。 展开更多

关键词 Chan—Vese模型 tft-lcd mura缺陷 水平集 半隐差分格式

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基于自适应局部增强的手机TFT-LCD屏Mura缺陷自动检测 被引量：9

4

作者 廖苗 刘毅志 +3 位作者 欧阳军林 余建勇 肖文辉 彭理 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2018年第6期475-482,共8页

针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏... 针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏幕区域划分为多个不重叠的像素块,并根据每个像素块的灰度分布特征,采用自适应局部增强算法自动识别并定位图像中的Mura区域,最后考虑到Mura缺陷大小的不确定,提出采用多层级分块的方式对屏幕区域进行检测,提高算法鲁棒性。实验结果表明,相较现有多种屏幕缺陷自动检测算法,本文方法能更准确有效地识别手机屏幕中的Mura缺陷,且覆盖率和误检率分别为91.17%和5.84%。 展开更多

关键词 tft-lcd屏 mura 图像增强 缺陷检测

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MATLAB在TFT-LCD屏显示MURA缺陷检测的应用 被引量：10

5

作者 刘毅 郑学仁 +1 位作者 王亚南 梁志明 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2007年第6期731-736,共6页

提出一种以MATLAB为主要工具的TFT-LCD屏显示缺陷检测方案,该方案根据CMOS工业摄像机采集到的数字图像,结合二维图像拟合技术和以韦伯定律为原理的自动阈值获取技术,使用MATLAB作为数字图像分析工具实现对屏幕缺陷的检测。介绍了该方案... 提出一种以MATLAB为主要工具的TFT-LCD屏显示缺陷检测方案,该方案根据CMOS工业摄像机采集到的数字图像,结合二维图像拟合技术和以韦伯定律为原理的自动阈值获取技术,使用MATLAB作为数字图像分析工具实现对屏幕缺陷的检测。介绍了该方案的硬件组成和检测原理,给出了MATLAB算法流程和部分代码、介绍了GUI检测界面的设计和详细的检测步骤及结果,为TFT-LCD液晶屏显示缺陷的检测提供了一种快速有效的方法。 展开更多

关键词 tft-lcd mura MATLAB 缺陷检测

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一种TFT-LCD Vertical Block Mura的研究与改善 被引量：26

6

作者 吴洪江 王威 龙春平 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2007年第4期433-439,共7页

在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block... 在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block Mura进行了大量的实验测试、数据分析和理论研究工作,特别是对其产生的原因创新性地提出了两种方向上的理论观点。通过加强设备科学管理监控,减小耦合电容效应等一系列改善措施,产品质量得到了很大程度的提升,Vertical Block Mura从改善前的26.1%降到了1.3%,从而使Vertical Block Mura得以改善,很大程度地提高了产品的品质,并为今后相关问题的进一步研究和解决奠定了一定的理论基础。 展开更多

关键词 tft-lcd mura 抖动 耦合电容 画面品质

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基于BP神经网络和均值差分的TFT-LCD MURA缺陷检测方法 被引量：4

7

作者 曾毅 郭龙源 罗百通 《湖南理工学院学报（自然科学版）》 CAS 2017年第1期32-38,共7页

TFT-LCD MURA缺陷具有背景整体亮度不均、灰度变化不明显等特点,用基于机器视觉的方法从TFT-LCD图像中分割出缺陷是非常困难的.本文提出一种新的MURA缺陷检测方法,首先在分析TFT-LCD图像中背景与MURA缺陷灰度值差异的基础上,采用均值滤... TFT-LCD MURA缺陷具有背景整体亮度不均、灰度变化不明显等特点,用基于机器视觉的方法从TFT-LCD图像中分割出缺陷是非常困难的.本文提出一种新的MURA缺陷检测方法,首先在分析TFT-LCD图像中背景与MURA缺陷灰度值差异的基础上,采用均值滤波和背景差分法来抑制背景杂波,然后采用灰度约束获取疑似MURA缺陷区域,最后提取疑似区域灰度特征并将其放入训练后的BP神经网络提取缺陷目标.结果显示,本文方法正确检测概率为98.1%,误检率为1.4%,平均检测时间为0.33秒.仿真实验结果表明,本文提出的方法对MURA缺陷的检测非常有效,且算法简单,实时性高,易于实现. 展开更多

关键词 机器视觉 BP神经网络 tft-lcd mura 缺陷检测

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TFT-LCD Mura缺陷机器视觉检测方法 被引量：57

8

作者 毕昕 丁汉 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第12期13-19,共7页

针对液晶显示器(Liquid crystal display,LCD)制程中Mura缺陷检测的重要性和人工检测的弊端,研究TFT-LCD Mura缺陷的机器视觉自动检测方法。基于国际半导体设备与材料组织(Semiconductor Equipment and Materials International,SEMI)... 针对液晶显示器(Liquid crystal display,LCD)制程中Mura缺陷检测的重要性和人工检测的弊端,研究TFT-LCD Mura缺陷的机器视觉自动检测方法。基于国际半导体设备与材料组织(Semiconductor Equipment and Materials International,SEMI)标准中Mura缺陷的测量规范和LCD视觉检测试验平台,针对Mura缺陷边缘模糊、对比度低、图像中存在重复纹理背景和整体的亮度不均匀等特点,分别研究基于实值Gabor小波滤波的纹理背景抑制方法、基于同态变换和独立分量分析的亮度不均匀校正方法、基于主动轮廓模型和水平集方法的缺陷分割以及基于SEMI标准的缺陷量化方法,综合几个方面的研究,建立Mura缺陷自动检测流程。检测试验证明,所提出方法能较好地抑制纹理背景、校正背景亮度不均匀和莫尔条纹,准确的分割缺陷并进行量化评定。该方法适用于Mura缺陷的自动检测,检测方法与人的视觉特性相似,具有较好的鲁棒性。对于50个带有Mura缺陷的LCD样本,有48个样本被成功检测。 展开更多

关键词 mura缺陷 GABOR滤波 独立分量分析 主动轮廓模型 水平集

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TFT-LCD网点Mura的研究和改善 被引量：2

9

作者 张定涛 李文彬 +5 位作者 姚立红 郑云友 李伟 宋泳珍 袁明 张光明 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2013年第6期860-867,共8页

为解决116.8cm(46in)广视角边缘场切换技术4mask面板生产中的阵列工艺中,发生的一种网点色斑缺陷,应用扫描电子显微镜、聚焦离子束、能谱仪、宏观微观观测仪和线宽测量仪等检测设备进行Mura及其结晶物成份分析,比较了TFT膜厚;进行了GI和... 为解决116.8cm(46in)广视角边缘场切换技术4mask面板生产中的阵列工艺中,发生的一种网点色斑缺陷,应用扫描电子显微镜、聚焦离子束、能谱仪、宏观微观观测仪和线宽测量仪等检测设备进行Mura及其结晶物成份分析,比较了TFT膜厚;进行了GI和PVX膜玻璃正反面1%HF酸腐蚀试验、下部电极温度升高10℃试验、工艺ash、n+刻蚀的后处理步骤和有源层BT试验。研究了沟道n+掺杂a-Si层的厚度对于Mura的影响。确定了Mura的发生源和影响因素,结果发现Mura形成机理,一为基板背部划伤,二为接触和不接触电极区域的温差异,三是刻蚀反应的生成物在有源层工艺黏附在基板背部,之后经过多层膜沉积、湿刻和干刻、剥离工艺后促使缺陷进一步放大。最后采用平板粗糙面下部电极、控制剩余a-Si厚度和升高温度的方法,消除了网点Mura,并使得整体Mura发生率降为0.08%。 展开更多

关键词 色斑 薄膜晶体管 非晶硅 缺陷分析

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TFT-LCD工艺中角落白Mura的成因机理研究与改善 被引量：8

10

作者 王绍华 吴飞 +4 位作者 宣津 陈辉 陈超 侯德智 周皇 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2018年第7期583-589,共7页

在新产品导入过程中会突发各种Mura类不良。本文为解决TV机种导入中出现的一种原因未知的角落白Mura,首先进行了大量的排查和推理,初步判定异常来源于成盒工艺(Cell)段,利用气相色谱(GC)、高效液相色谱(HPLC)设备测试并对比了角落白Mur... 在新产品导入过程中会突发各种Mura类不良。本文为解决TV机种导入中出现的一种原因未知的角落白Mura,首先进行了大量的排查和推理,初步判定异常来源于成盒工艺(Cell)段,利用气相色谱(GC)、高效液相色谱(HPLC)设备测试并对比了角落白Mura区域与正常区域的液晶纯度、液晶组份和框胶溶出的差异,最后探讨了其形成的机理。结果表明角落白Mura区域液晶组份发生较大变动,液晶组份挥发是角落白Mura产生的主因。通过优化贴合时的真空抽气时间、真空保持时间、液晶滴下点数、液晶与边框胶距离等一系列的改善措施,使产品的角落白Mura发生率从16.59%降到了0.001%以下管控范围。实验有效解决了角落白Mura异常并为今后类似Mura类不良的对策提供了思路,同时提升了公司的效益和竞争力。 展开更多

关键词 tft-lcd 角落白mura 液晶 边框胶

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TFT-LCD制程中Sand Mura的失效模式分析及改善研究 被引量：1

11

作者 史高飞 沈奇雨 +4 位作者 许徐飞 宋洁 赵娜 韩基挏 李乘揆 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2015年第2期257-262,共6页

在薄膜晶体管液晶显示器件(TFT-LCD)的制作过程中,Mura是一种常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。本文结合生产工艺的实际情况,采用宏观微观检查设备Macro/Micro(M/M)、扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束测试仪(FIB)等设备... 在薄膜晶体管液晶显示器件(TFT-LCD)的制作过程中,Mura是一种常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。本文结合生产工艺的实际情况,采用宏观微观检查设备Macro/Micro(M/M)、扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束测试仪(FIB)等设备进行检测分析,研究了产品开发过程中出现的Sand Mura问题。实验结果表明,Sand Mura发生的主要原因是像素电极ITO在刻蚀过程中由于过刻发生断裂,导致在通电时该处液晶分子偏转发生异常,进而阻挡了光的透过而形成暗点;通过变更ITO薄膜的厚度及刻蚀时间等一系列措施,防止了像素电极在PVX过孔处因过刻引起的断裂,不良发生率降至0.3%,产品质量得到了很大的提高。此外,过孔设计优化方案有助于新产品开发阶段避免该不良的发生,为以后相关问题的研究奠定了一些理论基础。 展开更多

关键词 tft-lcd SAND mura 过刻 厚度 刻蚀时间

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TFT-LCD一种黑Mura机理分析及工艺验证改善 被引量：1

12

作者 王耀杰 杨宗顺 +3 位作者 熊奇 朱建华 熊永 毕芳 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2020年第9期927-932,共6页

TFT-LCD面板生产过程中会出现各种Mura,尤其是电视大尺寸产品,对显示均一性要求很高。Mura现象种类多,原因差异性大,本文分析的Mura属于电视面板的特殊不良。为解决此黑Mura,首先进行了实物分析研究,通过液晶盒特性、表面微观以及电学... TFT-LCD面板生产过程中会出现各种Mura,尤其是电视大尺寸产品,对显示均一性要求很高。Mura现象种类多,原因差异性大,本文分析的Mura属于电视面板的特殊不良。为解决此黑Mura,首先进行了实物分析研究,通过液晶盒特性、表面微观以及电学分析确认实物未见明显异常,为极微观异常。采用目前实际可操作方法很难进行深入分析,需依靠工艺验证来明确,因此通过工艺验证确认到不良为配向膜清洗机相关,而清洗机独立单元繁多。依据不良可能的原因以及实际生产线的运营状况,设计了5项相关可行性实验清洗速度降低,清洗后增加静置时间,紫外光清洗强度提升,毛刷远离基板以及清洗机高压二流体喷淋压力调整。通过以上工艺验证结果,推理出不良形成原因为电荷残留,并提出两个合理可行的改善方向,首先是减少基板在高压二流体喷淋下的停留,其次为增加监控或关闭高压二流体喷淋,使不良从0.94%降低至0.00%,提升了产品品质。 展开更多

关键词 tft-lcd 黑mura 清洗机 工艺验证 电荷残留

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TFT-LCD一种绿Mura机理分析和改善 被引量：1

13

作者 蒋迁 耿晨曦 +2 位作者 刁义林 周鹏 路朝华 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2021年第8期1136-1143,共8页

色斑不良(Mura)是薄膜晶体管液晶显示器常见的显示缺陷,严重影响产品品质。色斑不良表现形式多样,原因也各不相同。本文针对8.5世代线发生于81.28 cm(32 in)产品上的一种固定位置发绿条状Mura,通过实物解析、设备排查和不同工艺条件试验... 色斑不良(Mura)是薄膜晶体管液晶显示器常见的显示缺陷,严重影响产品品质。色斑不良表现形式多样,原因也各不相同。本文针对8.5世代线发生于81.28 cm(32 in)产品上的一种固定位置发绿条状Mura,通过实物解析、设备排查和不同工艺条件试验,对不良机理进行研究。实验结果表明,81.28 cm(32 in)产品彩膜绿像素使用的G-1型光刻胶受光照后性质发生变化是导致该不良的直接原因。进一步确认不良的根本原因为G-1型光刻胶中颜料分子锌酞菁化合物在600~700 nm光波处存在吸收峰,被光照后吸收光子生成自由载流子,形成附加电场,导致该区域液晶偏转异常,显示出宏观绿Mura。从阻隔光照和减少光生载流子产生数量两个方向入手,通过添加高敏感度光起始剂和使用颜色浓度更高的颜料分子,形成两种改善材料,量产导入后,均成功将不良发生率由约20%降低为0,有效提升了产品品质。 展开更多

关键词 tft-lcd 绿mura 光照 光刻胶 附加电场

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LCD Mura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制 被引量：13

14

作者 李坤 李辉 +2 位作者 刘云杰 梁平 卢小鹏 《光电工程》 CAS CSCD 北大核心 2014年第2期33-39,共7页

针对机器视觉检测TFT-LCD Mura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题,提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下,采用双三次B样条曲面拟合算法拟合出背景,并添加光顺项调整拟合精... 针对机器视觉检测TFT-LCD Mura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题,提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下,采用双三次B样条曲面拟合算法拟合出背景,并添加光顺项调整拟合精度,用原始图像减去拟合背景,从而消除亮度不均匀背景对缺陷分割造成的影响。为提高算法速度,对原始图像进行分块拟合,并将双三次B样条函数分解为一元函数求解,减小了计算量,同时避免了对原函数求解时容易出现的病态解问题。实验结果表明,该算法准确、高效。 展开更多

关键词 mura缺陷 亮度不均匀 B样条 曲面拟合 背景抑制

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基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷检测方法 被引量：22

15

作者 钱基德 陈斌 +2 位作者 钱基业 赵恒军 陈刚 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2018年第6期296-300,313,共6页

通过分析液晶屏中缺陷检测的必要性和人工检测的不足,研究一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷在线检测系统。针对液晶屏中的Mura缺陷区域和周围背景对比度低、边缘模糊、形状各异、整体亮度不均等特点,建立模拟人工检测的成像系统。提出... 通过分析液晶屏中缺陷检测的必要性和人工检测的不足,研究一种基于机器视觉的液晶屏Mura缺陷在线检测系统。针对液晶屏中的Mura缺陷区域和周围背景对比度低、边缘模糊、形状各异、整体亮度不均等特点,建立模拟人工检测的成像系统。提出单帧图像背景建模和背景差分方法,该方法能有效解决液晶屏的亮度不均问题,同时增强Mura缺陷的特征信息。然后基于最大稳定极值区域(Maximally Stable Extremal Region,MSER),提出Mura缺陷自适应阈值缺陷分割方法,建立一个全自动缺陷在线检测的视觉系统。实验结果表明,所提检测算法能很好地解决液晶屏亮度不均的问题,准确地对Mura缺陷进行分割定位,算法的鲁棒性好。并且该系统人工干预少,效率高,能实现在线自动检测。 展开更多

关键词 最大稳定极值 背景建模 背景差分 mura缺陷 机器视觉

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灰度与亮度拟合对LCD面板Mura改善的影响 被引量：1

16

作者 屠震涛 樊瑞 +4 位作者 张小宁 梁志虎 黄泰钧 梁鹏飞 王利民 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2016年第5期442-448,共7页

选择有限的采样灰度级准确拟合出整个灰度区间的亮度和灰度关系,是影响LCD面板Mura改善效果、实时性和成本的关键因素。通过迭代方法优化采样灰度级,并采用分段伽马拟合方法研究了采样灰度级对Mura改善的影响。针对1 920×1 080的55... 选择有限的采样灰度级准确拟合出整个灰度区间的亮度和灰度关系,是影响LCD面板Mura改善效果、实时性和成本的关键因素。通过迭代方法优化采样灰度级,并采用分段伽马拟合方法研究了采样灰度级对Mura改善的影响。针对1 920×1 080的55inTFT-LCD模组,6个采样灰度级的优化使拟合亮度曲线与实际亮度曲线的相对误差之和在0～255灰度级从5.64降到3.68,4个采样灰度级的优化使相对误差之和从29.27降到8.98。通过对6个和4个优化采样灰度级的实验结果比较和分析,结果表明,4个优化采样灰度级可以在Mura改善效果、实时性及成本三者之间达到较好的平衡。 展开更多

关键词 液晶显示屏 mura缺陷 分段伽马拟合

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基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测算法

17

作者 林峰 石艳 +4 位作者 陈顺龙 廖映华 赵练 赵黎 周泽民 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2024年第6期790-800,共11页

针对液晶屏显示缺陷中微弱特征缺陷经多次卷积与背景纹理同化导致的检测精度低的问题,提出了一种基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测改进模型YOLO-Mura。首先,在主干网络中引入Involution算子扩大感受野,增强在空间范围内的微弱特征缺... 针对液晶屏显示缺陷中微弱特征缺陷经多次卷积与背景纹理同化导致的检测精度低的问题,提出了一种基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷检测改进模型YOLO-Mura。首先,在主干网络中引入Involution算子扩大感受野,增强在空间范围内的微弱特征缺陷信息,并降低模型的浮点运算次数。其次,采用CARAFE上采样算子优化上采样方式,加强对微弱特征缺陷的关注能力。然后,在颈部网络,通过嵌入BiFormer注意力模块,提升网络在强背景干扰下的特征提取能力。最后,采用BiFPN加权双向金字塔结构,提高不同层级的特征融合利用率。在自制液晶屏Mura缺陷数据集上的实验结果表明,YOLO-Mura模型的精确率、召回率、mAP@0.5分别提高了2.2%、6.6%、2.7%,模型计算量降低了66.5%。通过与主流目标检测算法进行比较,结果表明本文最终改进模型对于液晶屏微弱特征的Mura缺陷有较好的检测性能。 展开更多

关键词 液晶屏 mura缺陷 YOLOv5算法 微弱特征检测

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TFT-LCD缺陷检测系统的研究 被引量：32

18

作者 王新新 徐江伟 +2 位作者 邹伟金 刘永丰 王秀丽 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2014年第3期278-284,共7页

随着TFT-LCD的技术飞速发展及广泛应用,人工检测良品率的方法已不能保证检测效率和检测精度。针对此问题,提出了一种基于机器视觉理论的TFT-LCD缺陷检测系统,用以满足工业自动化的需求。该系统搭建面阵CCD采集图像平台,检测算法包括提... 随着TFT-LCD的技术飞速发展及广泛应用,人工检测良品率的方法已不能保证检测效率和检测精度。针对此问题,提出了一种基于机器视觉理论的TFT-LCD缺陷检测系统,用以满足工业自动化的需求。该系统搭建面阵CCD采集图像平台,检测算法包括提取图像的ROI区域、Gabor滤波、自适应二值化、连通域提取缺陷、计算缺陷的属性特征并标记轮廓线等步骤,最后得出结果。实验结果表明,检测系统对点缺陷、线缺陷的识别率非常高,Mura缺陷针对正视可见的效率良好。提出了一种耦合性好的检测方法,针对不同种类的缺陷采用同一种检测技术,简明、方便、准确地实现了缺陷检测,并可实际应用到工业自动化中。 展开更多

关键词 tft-lcd 算法 GABOR滤波 mura

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基于改进Chan-Vese模型的液晶显示屏Mura缺陷分割 被引量：3

19

作者 陈凌海 姚剑敏 郭太良 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2016年第6期613-620,共8页

液晶显示屏Mura缺陷是一类较难检测的显示缺陷,它具有对比度低、背景亮度不均匀、边缘模糊等特点。针对传统Chan-Vese模型(C-V模型)对其分割时存在误分割及速度慢的问题,本文提出一种改进的C-V模型。首先,依据曲线演化理论,简化了传统C-... 液晶显示屏Mura缺陷是一类较难检测的显示缺陷,它具有对比度低、背景亮度不均匀、边缘模糊等特点。针对传统Chan-Vese模型(C-V模型)对其分割时存在误分割及速度慢的问题,本文提出一种改进的C-V模型。首先,依据曲线演化理论,简化了传统C-V模型的图像数据力驱动项,这样减少了迭代过程中的计算量,提高了分割的速度。其次,为了平衡图像的亮度不均匀,在模型中引入一个新的能量项,该能量项与轮廓曲线内、外部之间的亮度差有关,提高了分割的准确性。最后,在算法的实现过程中引入迭代停止的判别式,通过设定分割的精度可以实现迭代的自动停止,并有利于正确地分割出目标。实验结果表明,本文提出的改进C-V模型能够准确分割背景不均匀的Mura缺陷,并且具有较快的速度。 展开更多

关键词 CHAN-VESE模型 液晶显示屏mura缺陷 亮度不均匀

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B样条曲面拟合在Mura缺陷获取中的应用 被引量：1

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作者 唐剑 王大巍 +3 位作者 李新国 梁珂 闫亮 董友梅 《现代显示》 2008年第6期24-28,共5页

TFT-LCDMura缺陷表现为对比度低、亮度区域不均匀、边界模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适,是一种比较常见的缺陷。长期以来,对Mura缺陷的检测都是由经过训练的专业检验员完成。近年来,研究人员开始研究利用机器来代替人眼... TFT-LCDMura缺陷表现为对比度低、亮度区域不均匀、边界模糊,通常大于一个像素,会给观察者带来视觉不适,是一种比较常见的缺陷。长期以来,对Mura缺陷的检测都是由经过训练的专业检验员完成。近年来,研究人员开始研究利用机器来代替人眼检测,但机器如何获取Mura缺陷一直是行业内公认的难题之一。本文提出了基于B样条曲面拟和的方法来获取Mura缺陷信息,并通过对大量真实Mura缺陷样本的检测验证了该方法具有高的获取准确率。 展开更多

关键词 mura tft-lcd 曲面拟合 B样条

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