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面向IP核测试复用的测试环设计 被引量：8
1
作者 陆思安 严晓浪 +2 位作者 李浩亮 沈海斌 何乐年 《浙江大学学报（工学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第1期93-97,共5页
提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决了测试环扫描链在扫描移位过程中的安全移位问题,同时还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗;在分... 提出了一种改进的测试环单元设计.它在传统的P1500测试环单元基础上添加一个多路器,实现了对测试环单元的功能数据路径测试,并解决了测试环扫描链在扫描移位过程中的安全移位问题,同时还可以降低扫描移位过程中产生的动态测试功耗;在分析了两种典型测试环P1500测试环以及飞利浦TestShell测试环的基础上,提出了一种三态测试环结构.该结构允许共用同一条测试总线的不同IP核直接连接到测试总线上. 展开更多
关键词 IP核测试复用 设计 改进测试环单元 三态测试环 系统芯片 半导体制造技术
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