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日立高新技术可进行稳定纳米级分析的透射式电子显微镜上市
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《现代仪器》 2007年第4期74-74,共1页
2007年5月14日，日立高新技术（HitachiHighTechnologies）推出新型场发射型透射式电子显微镜（FE—TEM）“HF-3300型”，分辨率为0．1nm、能够以纳米级别的分辨率稳定地分析原子水平的极微小材料。
关键词 透射式电子显微镜 日立高新技术 纳米级 上电子显微镜上市
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