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一种A/D转换器静态参数的低成本测试方法 被引量:4
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作者 李坤 冯建华 +1 位作者 李素君 赵雪莲 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第12期1563-1568,共6页
在IC产业链中,测试是必不可少的环节之一,而如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于伺服环方法和权位点测试法提出了一种A/D转换器静态参数的低成本测试方法,并在自主开发的JC-3196A集成电路测试系统上实现。该方法具有... 在IC产业链中,测试是必不可少的环节之一,而如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于伺服环方法和权位点测试法提出了一种A/D转换器静态参数的低成本测试方法,并在自主开发的JC-3196A集成电路测试系统上实现。该方法具有普遍的适用性,对降低数模混合信号集成电路的测试成本具有重要意义。 展开更多
关键词 模数转换器 静态参数 伺服环 权位点 低成本测试
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一种基于轮流扫描捕获的低功耗低费用BIST方法
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作者 王伟征 邝继顺 +1 位作者 尤志强 刘鹏 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2012年第4期864-872,共9页
过高的测试功耗和过长的测试应用时间是基于伪随机内建自测试(BIST)的扫描测试所面临的两大主要问题.提出了一种基于扫描子链轮流扫描捕获的BIST方法.在提出的方法中,每条扫描链被划分成N(N>1)条子链,使用扫描链阻塞技术,同一时刻每... 过高的测试功耗和过长的测试应用时间是基于伪随机内建自测试(BIST)的扫描测试所面临的两大主要问题.提出了一种基于扫描子链轮流扫描捕获的BIST方法.在提出的方法中,每条扫描链被划分成N(N>1)条子链,使用扫描链阻塞技术,同一时刻每条扫描链中只有一条扫描子链活跃,扫描子链轮流进行扫描和捕获,有效地降低了扫描移位和响应捕获期间扫描单元的翻转频率.同时,为检测抗随机故障提出了一种适用于所提出测试方法的线性反馈移位寄存器(LFSR)种子产生算法.在ISCAS89基准电路上进行的实验表明,提出的方案不但降低约(N-1)?N的平均功耗和峰值功耗,而且显著地减少随机测试的测试应用时间和LFSR重播种的种子存储量. 展开更多
关键词 内建自测试 全扫描测试 可测性设计 功耗测试 低成本测试 LFSR重播种
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