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基于电子元器件低频噪声特性和相关测试技术 被引量:1
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作者 张卫 《数码设计》 2021年第10期114-114,共1页
为了说明基于电子元器件低频噪声特性和相关测试技术发展的方向,首先,说明基于电子元器件低频噪声特性,其次说明几种常用的测试技术,最后对这些测试技术的应用进行归纳,说明基于电子元器件低频噪声特性和相关测试技术未来发展趋势。对... 为了说明基于电子元器件低频噪声特性和相关测试技术发展的方向,首先,说明基于电子元器件低频噪声特性,其次说明几种常用的测试技术,最后对这些测试技术的应用进行归纳,说明基于电子元器件低频噪声特性和相关测试技术未来发展趋势。对电子元器件低频噪声特性进行全程紧迫,并精确测试结果,就是这一技术未来发展的方向。 展开更多
关键词 电子元器件 低频噪声特性 测试技术
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硅基N沟道VDMOS不同偏置下总剂量效应研究
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作者 李潇 崔江维 +4 位作者 郑齐文 李鹏伟 崔旭 李豫东 郭旗 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2023年第5期450-455,共6页
通过^(60)Coγ射线辐照试验,研究了不同栅极和漏极偏置下硅基N沟道VDMOS器件的总剂量效应,获得了器件的电学特性与低频噪声特性随辐射总剂量的变化规律。试验结果表明:受辐射诱生的氧化物陷阱电荷与界面陷阱电荷的影响,在栅极偏置为+20 ... 通过^(60)Coγ射线辐照试验,研究了不同栅极和漏极偏置下硅基N沟道VDMOS器件的总剂量效应,获得了器件的电学特性与低频噪声特性随辐射总剂量的变化规律。试验结果表明:受辐射诱生的氧化物陷阱电荷与界面陷阱电荷的影响,在栅极偏置为+20 V时,器件的电学特性随累积剂量的增大而退化明显。通过退火试验发现,相比于导通电阻和正向压降,阈值电压、漏电流、亚阈值摆幅和输出电容对于总剂量辐射更加敏感。而在低频噪声特性方面,辐照后器件的沟道电流归一化噪声功率谱密度与正栅极偏置呈现正相关性,与负栅极偏置呈现负相关性。在不同漏极偏置条件下,辐照后器件的沟道电流归一化噪声功率谱密度降低,且基本重合。依据噪声模型,认为N沟道VDMOS内部局域电场分布对辐射感生陷阱电荷的形成影响显著,导致器件Si/SiO_(2)界面或者附近的载流子与陷阱交换引起的沟道电流波动不同,成为低频噪声主要来源。研究结果可为N沟道VDMOS器件的辐射效应评估、筛选和抗辐射加固设计提供参考。 展开更多
关键词 总剂量效应 N沟道VDMOS 偏置效应 电学特性 低频噪声特性
原文传递
Design of Low-Voltage Low Noise Amplifiers with High Linearity 被引量:2
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作者 曹克 杨华中 汪蕙 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第11期1364-1369,共6页
A CMOS radio frequency low noise amplifier with high linearity and low operation voltage of less than 1.0V is presented.In this circuit,an auxiliary MOSFET in the triode region is used to boost the linearity.Simulatio... A CMOS radio frequency low noise amplifier with high linearity and low operation voltage of less than 1.0V is presented.In this circuit,an auxiliary MOSFET in the triode region is used to boost the linearity.Simulation shows that this method can boost the input-referred 3rd-order intercept point with much less power dissipation than that of traditional power/linearity tradeoff solution which pays at least 1dB power for 1dB linearity improvement.It is also shown that the size of the common-gate PMOS transistor needs to be optimized to reduce its loaded input impedance so as not to degrade the linearity due to high voltage gain at its source terminal.The simulation is carried out with TSMC 0.18μm RF CMOS technology and SpectreRF. 展开更多
关键词 LOW-VOLTAGE radio frequency CMOS low noise amplifier LINEARITY
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