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同步全扫描时序电路的TVAC测试方法
1
作者 靳立运 邝继顺 王伟征 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2011年第12期268-269,272,共3页
自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此,研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用,提出2种测试结构,并对ISCAS89电路进行实验。实验结果表明,与加权伪随机方法和循环自测试方法相比,该方法可用较少测试矢量达... 自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此,研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用,提出2种测试结构,并对ISCAS89电路进行实验。实验结果表明,与加权伪随机方法和循环自测试方法相比,该方法可用较少测试矢量达到较高故障覆盖率。 展开更多
关键词 内建自测试 全扫描测试 加权随机测试 循环自测试路径 自反馈测试
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扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计
2
作者 成永升 尤志强 邝继顺 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第4期500-504,共5页
在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值可以显著地减少测试应用时间,但会使测试需要的引脚数和测试响应数据量增大.为了减少扫描树测试结构需要的引脚数以及测试响应数据量,同时克服错误位扩散带来的困难,在异或网络... 在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值可以显著地减少测试应用时间,但会使测试需要的引脚数和测试响应数据量增大.为了减少扫描树测试结构需要的引脚数以及测试响应数据量,同时克服错误位扩散带来的困难,在异或网络的基础上,提出一种适用于扫描树结构的测试响应压缩器.该压缩器由扩散抑制电路和异或网络构成,通过抑制电路消除错误位扩散给测试响应压缩带来的困难.最后,用实验数据从性能上分析了该测试响应压缩器的适用性,对于ISCAS89标准电路,最高将输出压缩74倍,且没有混叠产生. 展开更多
关键词 可测试性设计 全扫描测试 扫描树 测试响应压缩 异或网络
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一种基于IFDR改进的测试激励数据压缩方法 被引量：1
3
作者 尤志强 罗奇钧 《湖南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第2期130-134,共5页
通过改进IFDR码,提出一种基于游程相等编码的改进FDR(ERFDR)方法.首先,该方法不仅能同时对原测试集的0游程和1游程进行编码,而且,当相邻游程相等时还可以用较短的码字来代替,从而进一步提高了压缩率.其次,还提出针对该压缩方法的测试集... 通过改进IFDR码,提出一种基于游程相等编码的改进FDR(ERFDR)方法.首先,该方法不仅能同时对原测试集的0游程和1游程进行编码,而且,当相邻游程相等时还可以用较短的码字来代替,从而进一步提高了压缩率.其次,还提出针对该压缩方法的测试集无关位填充算法,增强提出方法的压缩效果.实验结果表明,与FDR,EFDR,IFDR和ERLC相比较,本文提出的方法获得了更高的压缩率,降低了测试费用. 展开更多
关键词 全扫描测试 测试数据压缩 无关位 FDR编码
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一种基于轮流扫描捕获的低功耗低费用BIST方法
4
作者 王伟征 邝继顺 +1 位作者 尤志强 刘鹏 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2012年第4期864-872,共9页
过高的测试功耗和过长的测试应用时间是基于伪随机内建自测试(BIST)的扫描测试所面临的两大主要问题.提出了一种基于扫描子链轮流扫描捕获的BIST方法.在提出的方法中,每条扫描链被划分成N(N>1)条子链,使用扫描链阻塞技术,同一时刻每... 过高的测试功耗和过长的测试应用时间是基于伪随机内建自测试(BIST)的扫描测试所面临的两大主要问题.提出了一种基于扫描子链轮流扫描捕获的BIST方法.在提出的方法中,每条扫描链被划分成N(N>1)条子链,使用扫描链阻塞技术,同一时刻每条扫描链中只有一条扫描子链活跃,扫描子链轮流进行扫描和捕获,有效地降低了扫描移位和响应捕获期间扫描单元的翻转频率.同时,为检测抗随机故障提出了一种适用于所提出测试方法的线性反馈移位寄存器(LFSR)种子产生算法.在ISCAS89基准电路上进行的实验表明,提出的方案不但降低约(N-1)?N的平均功耗和峰值功耗,而且显著地减少随机测试的测试应用时间和LFSR重播种的种子存储量. 展开更多
关键词 内建自测试 全扫描测试 可测性设计 低功耗测试 低成本测试 LFSR重播种
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一种基于哑元的扩展相容性扫描树方法
5
作者 刘先霞 高清华 +1 位作者 文俊 尤志强 《湖南大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第11期74-78,共5页
尽管扩展相容性扫描树技术可以彻底地降低测试应用时间和平均测试功耗,扫描输出的个数却大大增加.这使得测试响应的数据量增加,从而为测试响应压缩带来困难.本文提出一种基于哑元的扩展相容性扫描树方法.在这种方法里,为了不破坏未移动... 尽管扩展相容性扫描树技术可以彻底地降低测试应用时间和平均测试功耗,扫描输出的个数却大大增加.这使得测试响应的数据量增加,从而为测试响应压缩带来困难.本文提出一种基于哑元的扩展相容性扫描树方法.在这种方法里,为了不破坏未移动的扫描单元之间的关系,在移动扫描单元时一些没有实际意义的扫描单元被加进来.此方法有效地降低了电路的扫描输出个数.从而降低了测试响应数据量,节省了许多数据压缩的硬件.实验结果展示了我们的方法在保持改进的扩展相容性方法的优点的同时,扫描输出的个数比原始的扩展相容性方法有显著的降低,对于ISCAS’89的部分电路,扫描输出的个数最大降低了26.0%. 展开更多
关键词 可测性设计 全扫描测试 扫描树 低功耗测试
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扩展相容性多扫描树的设计 被引量：1
6
作者 刘志华 尤志强 +1 位作者 张大方 成永升 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2008年第22期234-235,238,共3页
针对实际电路具有多个扫描输入的情况,设计出一种新的具有多个扫描输入的扫描树结构,该结构能有效降低测试应用时间和平均测试功耗。实验结果表明,当有两个扫描输入时,测试应用时间最高可降低52.4%,平均功耗最高可降低60.8%。
关键词 多扫描树 可测性设计 全扫描测试
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相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法 被引量：1
7
作者 肖剑锋 尤志强 邝继顺 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2008年第24期241-243,共3页
针对基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法在生成相容类时存在的问题,对其进行3个方面的改进:选取包含X的扫描单元,选取度更小的扫描单元生成异或类,异或类再进行异或生成新的异或类。实验结果表明,该改进算法是有效的。
关键词 全扫描测试 扫描树 测试应用时间 测试数据量
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