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题名串行反馈内置自测试设计的研究
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作者
李晓维
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机构
北京大学计算机科学技术系
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出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
1994年第4期296-301,共6页
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基金
国家自然科学基金
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文摘
本文给出一种串行反馈内置自测试设计结构，分析了它的状态转移图的拓扑结构，并对若干电路做了模拟实验。研究表明：添加反馈线沟通测试图形生成和响应压缩部分，既能提高测试图形的随机性，又可以降低错误特征被漏检的可能性，从而提高故障覆盖率。
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关键词
内置自测试
设计
串行反馈
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Keywords
testing, easily testable design, built- in self- test,State Transition Graph.
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名并行反馈内置自测试设计方案
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作者
李晓维
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机构
北京大学微电子研究所
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出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1994年第1期1-6,共6页
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基金
国家自然科学基金资助项目(69306005)
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文摘
本文提出一种并行反馈式内置自测试设计结构,这是对[1][2]中所述方案的改进。状态转移图的拓扑结构分析结果表明:这是一种有效的自测试结构。文中探讨了输出特征的混淆问题,给出了适用于所述BIST结构、能减小和消除特征混淆的解决方案。
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关键词
内置自测试
并行反馈
设计方案
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Keywords
Testing. Design-for-Testability, Built-in Self-Test, State Transition Graph.
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分类号
TM930.2
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名一种基于包的逻辑内置自测试电路设计方法
被引量：1
- 3
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作者
王益波
严晓浪
王界兵
许志翰
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机构
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
杭州中天微系统有限公司
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2005年第1期156-159,共4页
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文摘
针对网络芯片基于包的传输和串行通讯的特点,本文提出了一种新的逻辑自测试电路设计方法。在我们自行开发的PCIExpress到PCI/PCIX桥中,以较小的硬件代价,实现了数字电路部分的自测试设计,通过这种电路,可以低成本快速实现芯片的全速初测试,从而确定芯片功能是否基本正确。
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关键词
逻辑内置自测试
伪随机重现
回路
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Keywords
Logic built-in self Test, Pseudo random reproduce, Loop back circuit
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名设计中的内置自测试设计与测试专家论内置自测试
- 4
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作者
梁超
时万春
王玉卿
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出处
《国外电子测量技术》
1998年第3期2-7,共6页
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文摘
虽然内置自测试(built-in-self-test简写为BIST)已探讨了近25年,但直到最近使用它的用户才有所增长。过去只有集成系统行业内的公司才觉得有使用BIST的必要,如AT&T和IBM等。现在小一些的公司,象Level One通讯和Stratus计算机公司也已决定采用BIST,而且从事EDA的公司也正着手引入BIST工具。 现有的BIST能满足用户需求吗?有些什么样的解决方案?我们如何使用BIST工具?还希望BIST有什么新的应用?为了回答这些问题,设计与测试杂志于1997年在加州召开了设计自动化会议,邀请了一些工具开发人员、用户和科研人员出席。
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关键词
电子测量
内置自测试
BIST
嵌入技术
设计
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分类号
TM930
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名反馈式内置自测试设计方案对比研究
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作者
李晓维
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机构
北京大学计算机科学技术系 北京
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出处
《装甲兵工程学院学报》
1996年第3期43-49,共7页
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基金
教委博士点科学基金
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文摘
对两种基于反馈的自测试（BIST）方案进行了比较研究,给出了串行反馈和并行反馈BIST方案的设计结构和操作模式。分析了它们的状态转移图的拓扑结构,并对若干电路做了模拟实验。研究表明:添加线沟通测试图生成和响应压缩部分所产生的串行反馈BIST方案性能更好。
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关键词
测试
易测试设计
内置自测试
状态转移图
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Keywords
Tcsting
Testable design
Built-in Sclf-Test
Statc TransitionGraph
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分类号
TN706
[电子电信—电路与系统]
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题名数模混合信号的测试与仿真
被引量：3
- 6
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作者
徐卫林
何怡刚
厉芸
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机构
湖南大学电气与信息工程学院
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出处
《现代电子技术》
2004年第22期80-82,93,共4页
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基金
高校博士学科点专项科研基金 (2 0 0 2 0 532 0 1 6)
湖南省杰出青年基金
+1 种基金
湖南大学撷英计划基金
湖南省科技计划基金 [0 3GKY31 1 5]
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文摘
VL SI的发展特别是 So C的出现 ,对混合信号测试的研究提出了紧迫的要求。结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,本文着重讨论了目前现有的各种测试手段及其各自的特点。
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关键词
片上系统
混合信号
扫描测试
内置自测试
故障仿真
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Keywords
SoC
mixedsignal
scan test
BIST
fault simulation
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分类号
TP352
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名SoC中混合信号的测试
被引量：3
- 7
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作者
刘全喜
何怡刚
刘美容
彭浴辉
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机构
湖南大学电气与信息工程学院
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出处
《现代电子技术》
2006年第3期94-98,共5页
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基金
教育部新世纪优秀人才支持计划
湖南省杰出青年基金(03JJY1010)
+4 种基金
高校博士点基金(20020532016)
湖南省科技计划项目(03GKY3115
04FJ2003
05GK2005)
湖南大学撷英计划资助
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文摘
随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高;这极大促进了SoC中混合信号工艺的运用,但是随之而来的是SoC在测试上遇到了前所未有的难题,因为混合信号电路的集成使他不同于纯数字电路IC的测试。SoC中混合信号的测试是SoC进一步发展的瓶颈,这对研究提出了紧迫的要求。介绍SoC中混合信号测试面临的主要问题,着重讨论了混合信号边界扫描测试,内置自测试方法(BIST)等测试手段及各自的特点。展望了SoC混合信号测试的研究方向。
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关键词
SOC
混合信号
扫描测试
内置自测试
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Keywords
SoC
mixed signal
scan test
BIST
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分类号
TN911.23
[电子电信—通信与信息系统]
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题名DATE ’98反映了设计和测试观念的改变
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作者
魏波
李仕学
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出处
《国外电子测量技术》
1999年第1期2-2,共1页
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文摘
从在巴黎召开的DATE’98会议可以看出,电子工业界的设计观念正从电路级设计向系统级设计转移,测试设计正从可测性设计向内置自测试转移。
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关键词
可测试性
测试设计
内置自测试
电子系统
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分类号
TM930
[电气工程—电力电子与电力传动]
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题名一种有效的八位MCU桶形移位器BIST电路
- 9
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作者
徐新民
洪波
尚丽娜
何乐年
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机构
浙江大学电子线路与信息系统研究所
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
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出处
《电路与系统学报》
CSCD
北大核心
2007年第6期85-88,共4页
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文摘
针对8位微控制器(MCU)数据通道中桶形移位器的可测试性问题,提出了一种新颖的确定性内置自测试(BIST)电路设计方案,并对其进行了验证。该方案采用5个D触发器,在16个测试时钟周期内产生16个测试矢量,可完成对8位桶形移位器100%故障覆盖率测试。本论文的电路设计方案也可应用于一般2N位(N≥4)桶形移位器的可测试设计。
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关键词
桶形移位器
数据通道
确定性内置自测试
可测试设计
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Keywords
barrel shifter
datapath
deterministic BIST
Design for Testability
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名可测性设计最新进展
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作者
姜卫东
察豪
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机构
海军工程大学电子工程学院
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出处
《海军工程大学电子工程学院学报》
2000年第1期62-65,共4页
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文摘
介绍可测性设计基本概念。重点分析两种最新的可测性设计技术：边界扫描测试和内置自测试技术。
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关键词
可测性设计
边界扫描测试
内置自测试
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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