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一种用于可编程逻辑的阵列的单粒子翻转试验系统设计研究
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作者 包朝伟 温长清 +1 位作者 杨振华 王佩宁 《科学技术与工程》 北大核心 2014年第29期212-214,248,共4页
单粒子翻转(SEU)试验是测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的重要方法。提出了一种用于测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的试验系统;该系统通过比对待测FPGA芯片输出数据序列和正确数据来判断是否发生数据翻转。如果发生数据翻转,则进一步统计... 单粒子翻转(SEU)试验是测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的重要方法。提出了一种用于测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的试验系统;该系统通过比对待测FPGA芯片输出数据序列和正确数据来判断是否发生数据翻转。如果发生数据翻转,则进一步统计翻转次数和翻转性质,从而能够较全面的测试FPGA芯片的抗单粒子翻转性能。运用该试验系统对某款FPGA芯片进行了单粒子翻转试验,测试结果显示该试验系统能够正确评估被测芯片的抗单粒子翻转性能。 展开更多
关键词 单粒子翻转 可编程逻辑的阵列 试验系统
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基于离散傅里叶变换的数字高速测频 被引量：4
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作者 王峰 傅有光 +1 位作者 夏映玲 常惠玲 《数据采集与处理》 CSCD 北大核心 2007年第3期370-373,共4页
为了克服传统的过零检测等数字测频方法的缺点,设计了一种基于离散傅里叶变换(DFT)的快速频率测量电路,满足无源定位系统中低信噪比、高脉冲密度环境的实时频率测量的需求。阐述了基于可编程门阵列的DFT算法的实现方法及谱峰的搜索方法... 为了克服传统的过零检测等数字测频方法的缺点,设计了一种基于离散傅里叶变换(DFT)的快速频率测量电路,满足无源定位系统中低信噪比、高脉冲密度环境的实时频率测量的需求。阐述了基于可编程门阵列的DFT算法的实现方法及谱峰的搜索方法,给出了硬件结构形式。该算法电路结构比采用快速傅里叶变换(FFT)的算法硬件结构具有更快的测频速度。 展开更多
关键词 无源定位 瞬时测频 离散傅里叶变换 可编程的阵列
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基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术研究 被引量：5
3
作者 陈锐 门永平 +1 位作者 杨文强 丁宗杰 《空间电子技术》 2017年第1期38-42,共5页
提出了一种基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术。该技术基于标准UVM架构,实现了一种软硬件联合仿真验证平台。该技术的实现包含PC主控机、PCI接口驱动总线、被测FPGA和FPGA目标测试硬件平台以及软硬件联合仿真管理软件。该系统具有层... 提出了一种基于UVM的FPGA软硬件联合仿真验证技术。该技术基于标准UVM架构,实现了一种软硬件联合仿真验证平台。该技术的实现包含PC主控机、PCI接口驱动总线、被测FPGA和FPGA目标测试硬件平台以及软硬件联合仿真管理软件。该系统具有层次化验证环境、随机配置测试用例及自动化测试结果判读和覆盖率统计及加速仿真验证特点。文中还结合具体设计,进行了该项技术的实现过程和运行测试说明。 展开更多
关键词 通用验证方法学 现场可编程的阵列 软硬件联合仿真验证
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