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具有多MO喷嘴垂直MOCVD反应腔外延层厚度均匀性的优化理论及应用
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作者 李建军 崔屿峥 +3 位作者 付聪乐 秦晓伟 李雨畅 邓军 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第4期245-255,共11页
金属有机物化学气相淀积(metal organic chemical vapor deposition,MOCVD)作为异质结半导体材料外延的关键手段,其外延层厚度均匀性会直接影响产品的良率.本文将理论与实验相结合,针对3个MO源喷嘴的垂直反应腔MOCVD,将各MO源喷嘴等效... 金属有机物化学气相淀积(metal organic chemical vapor deposition,MOCVD)作为异质结半导体材料外延的关键手段,其外延层厚度均匀性会直接影响产品的良率.本文将理论与实验相结合,针对3个MO源喷嘴的垂直反应腔MOCVD,将各MO源喷嘴等效为蒸发面源,并引入一等效高度来涵盖MOCVD的相关外延参数,建立外延层厚度与各MO源喷嘴流量间的定量关系,设计并利用EMCORE D125 MOCVD系统外延生长了AlGaAs谐振腔结构,根据实验测得的外延层厚度分布结果,利用最小二乘法对模型参数进行了拟合提取,基于提取的模型参数,给出了优化外延层厚度均匀性的方法.4 in(1 in=2.54 cm)外延片mapping反射谱的统计结果为,腔模的平均波长为651.89 nm,标准偏差为1.03 nm,厚度均匀性达到0.16%.同时外延生长了GaInP量子阱结构,4 in外延片mapping荧光光谱的统计结果为,峰值波长平均值为653.3 nm,标准偏差仅为0.46 nm,厚度均匀性达到0.07%.本文提出的调整外延层厚度均匀性的方法具有简单、有效、快捷的特点,且可以进一步推广至具有4个MO喷嘴以上的垂直反应腔MOCVD系统. 展开更多
关键词 外延生长 最小二乘拟合 薄膜均匀性 金属有机物化学气相沉积
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碳化硅同质外延质量影响因素的分析与综述
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作者 郭钰 刘春俊 +5 位作者 张新河 沈鹏远 张博 娄艳芳 彭同华 杨建 《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2024年第2期210-217,共8页
碳化硅(SiC)外延质量会直接影响器件的性能和使用寿命,在SiC器件应用中起到关键作用。SiC外延质量一方面受衬底质量的影响,例如衬底的堆垛层错(SF)会贯穿到外延层中形成条状层错(BSF),螺位错(TSD)会贯穿到外延层中形成坑点或Frank型层错... 碳化硅(SiC)外延质量会直接影响器件的性能和使用寿命,在SiC器件应用中起到关键作用。SiC外延质量一方面受衬底质量的影响,例如衬底的堆垛层错(SF)会贯穿到外延层中形成条状层错(BSF),螺位错(TSD)会贯穿到外延层中形成坑点或Frank型层错(Frank SF)等。另一方面受到外延工艺的影响,如在外延过程中衬底的基平面位错(BPD)受应力等条件作用会滑移形成Σ形基平面位错(Σ-BPD),衬底的TSD或刃位错(TED)会衍生为腐蚀坑(Pits),以及新产生SF和硅滴等。因此,获得高质量的SiC外延晶片需要从优选SiC衬底和优化外延工艺两方面入手。本文对外延生长过程中晶体缺陷如何转化并影响器件性能进行了系统分析和综述,并基于北京天科合达半导体股份有限公司量产的高质量6英寸SiC衬底,探讨了常见缺陷,如BPD、层错、硅滴和Pits等的形成机理及其控制技术,并对Σ-BPD的产生机理和消除方法进行研究,最终获得了片内厚度和浓度均匀性良好、缺陷密度低的外延产品,完成了650和1 200 V外延片产品的开发和产业化工作。 展开更多
关键词 碳化硅 同质外延 外延生长 缺陷 位错 小坑
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乡村振兴背景下农业科普教育的内涵与外延
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作者 乔莉娟 焦云红 +2 位作者 廖智慧 程青梅 王红军 《现代农村科技》 2024年第4期109-110,共2页
新时代新征程全面推进乡村振兴,让更多的人关注农业、农村、农民,投身“三农”,加强农业科普教育是重要途径之一。农业科普教育是科普教育的一个分支,但其概念容易与农民教育、农村教育、农业教育等概念混淆。本文主要阐述了农业科普教... 新时代新征程全面推进乡村振兴,让更多的人关注农业、农村、农民,投身“三农”,加强农业科普教育是重要途径之一。农业科普教育是科普教育的一个分支,但其概念容易与农民教育、农村教育、农业教育等概念混淆。本文主要阐述了农业科普教育的概念、内涵、功能外延等,并展望了其发展前景,说明了乡村振兴背景下规范和开展农业科普教育的必要性。 展开更多
关键词 农业科普教育 内涵 外延
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ASM E2000硅外延片异常背圈现象研究与分析
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作者 徐卫东 肖健 +1 位作者 何晶 袁夫通 《电子与封装》 2024年第1期51-55,共5页
ASM E2000外延炉在生产硅外延片的过程中,晶圆背面有时会出现异常背圈的现象,包括背圈大小异常、背圈形状异常、背圈偏心等。经研究发现,背圈现象只会在非二氧化硅背封的晶圆上出现。针对异常背圈的产生,进行了滑片、气流、温度、时间... ASM E2000外延炉在生产硅外延片的过程中,晶圆背面有时会出现异常背圈的现象,包括背圈大小异常、背圈形状异常、背圈偏心等。经研究发现,背圈现象只会在非二氧化硅背封的晶圆上出现。针对异常背圈的产生,进行了滑片、气流、温度、时间等相关参数的实验验证,得到背圈形成的原因及异常背圈产生的原因。晶圆经900℃烘烤60 s就会形成背圈,这是外延过程中的正常现象,但是不规则的背圈通常伴随着其他外延工艺参数的同步变差,异常背圈可以通过调整工艺参数、设备滑片、跳片以及更换石墨件来解决。 展开更多
关键词 外延缺陷 背圈 晶圆背圈 ASM E2000外延
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极性、半极性和非极性InN薄膜的MOCVD外延生长与表征
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作者 赵见国 殷瑞 +7 位作者 徐儒 倪海彬 陶涛 庄喆 严羽 谢自力 刘斌 常建华 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第2期204-210,共7页
利用金属有机化合物化学气相沉积(MOCVD)技术,在不同晶面的蓝宝石(Al2O3)衬底上实现了极性(0002)面、半极性(11-22)面和非极性(11-20)面InN薄膜的外延生长,并通过多种表征手段对三个不同极性面InN薄膜的结构和光学特性进行了系统研究。... 利用金属有机化合物化学气相沉积(MOCVD)技术,在不同晶面的蓝宝石(Al2O3)衬底上实现了极性(0002)面、半极性(11-22)面和非极性(11-20)面InN薄膜的外延生长,并通过多种表征手段对三个不同极性面InN薄膜的结构和光学特性进行了系统研究。X射线衍射(XRD)曲线展示了(0002)、(11-22)和(11-20)面InN较强的衍射峰,表明InN薄膜具有较高的成膜质量。通过扫描电子显微镜(SEM)表面图发现,极性(0002)面InN的表面形貌较光滑,而半极性和非极性InN表面均存在未完全合并的孔洞。光致发光(PL)光谱展示,不同极性面InN的峰值能量在0.63 eV附近,并从极性、半极性到非极性逐渐红移。此外,可见-红外分光光度计测得的透射谱显示,极性(0002)面InN的吸收边约为0.85 eV,而半极性(11-22)面和非极性(11-20)面InN的吸收边约为0.78 eV,表明极性InN具有更大的斯托克斯位移。 展开更多
关键词 半极性面 非极性面 INN薄膜 外延生长
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大尺寸GaN微波材料范德瓦耳斯外延机理及应力调控研究
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作者 李传皓 李忠辉 +3 位作者 彭大青 张东国 杨乾坤 罗伟科 《人工晶体学报》 CAS 北大核心 2024年第2期252-257,共6页
本文基于金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术,以少层氮化硼(BN)作为插入层在4英寸蓝宝石衬底上开展范德瓦耳斯异质外延GaN微波材料的生长机理及应力调控方面的研究,探讨了AlN成核工艺对GaN缓冲层生长机制的影响,以及与材料晶体质量、应力... 本文基于金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术,以少层氮化硼(BN)作为插入层在4英寸蓝宝石衬底上开展范德瓦耳斯异质外延GaN微波材料的生长机理及应力调控方面的研究,探讨了AlN成核工艺对GaN缓冲层生长机制的影响,以及与材料晶体质量、应力及电学性能等之间的关联。提出了一种基于AlN/AlGaN复合成核技术的应力调控方案,首次实现了大尺寸范德瓦耳斯(vdW)异质外延材料应力的有效管控,研制的GaN微波材料的弯曲度(Bow)为+20.4μm,(002)/(102)面半峰全宽为471.6/933.5 arcsec,表面均方根粗糙度为0.52 nm,电子迁移率达到2000 cm^(2)/(V·s)。最后,基于机械剥离实现了大尺寸晶圆级GaN微波材料与蓝宝石衬底的分离,为高导热衬底转移提供便利,为大功率射频器件的制作创造条件。 展开更多
关键词 范德瓦耳斯异质外延 金属有机化学气相沉积 GaN微波材料 少层BN 应力调控
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200 mm高纯半绝缘SiC衬底AlGaN/GaN HEMT外延材料
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作者 张东国 李忠辉 +5 位作者 魏汝省 杨乾坤 彭大青 李传皓 罗伟科 王克超 《固体电子学研究与进展》 CAS 2024年第1期F0003-F0003,共1页
南京电子器件研究所采用国产200 mm高纯半绝缘SiC衬底,提出衬底高温刻蚀、GaN外延模式调控应力等技术,有效解决了高温下衬底边缘突翘和薄膜异质生长应力大等问题,显著降低了大尺寸外延材料的翘曲度,研制出高质量200 mm SiC衬底AlGaN/GaN... 南京电子器件研究所采用国产200 mm高纯半绝缘SiC衬底,提出衬底高温刻蚀、GaN外延模式调控应力等技术,有效解决了高温下衬底边缘突翘和薄膜异质生长应力大等问题,显著降低了大尺寸外延材料的翘曲度,研制出高质量200 mm SiC衬底AlGaN/GaN HEMT外延材料(图1)。外延材料测试结果表明,二维电子气室温迁移率达到2 231 cm^(2)/(V·s),方块电阻片内不均匀性为2.3%(图2),GaN(0002)和(1012)面XRD摇摆曲线半高宽分别达到143 arcsec和233 arcsec,圆片弯曲度和翘曲度分别达到-18.7μm和27.1μm(图3)。材料显示了优良的结晶质量和电学特性,为GaN微波毫米波功率器件和MMIC应用奠定了良好的技术基础。 展开更多
关键词 ALGAN/GAN 外延材料 二维电子气 半绝缘 微波毫米波 方块电阻 摇摆曲线 迁移率
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不同生长条件对CdTe/GaAs外延薄膜表面形貌和光学性质的影响
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作者 朱辰玮 刘欣扬 +4 位作者 巫艳 左鑫荣 范柳燕 陈平平 秦晓梅 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第1期29-35,共7页
本文利用分子束外延技术在GaAs(211)B衬底上外延CdTe(211)薄膜,系统研究不同工艺条件对CdTe外延薄膜的表面形貌和光学性质的影响。研究表明,在一定的生长温度下,在Te气氛下生长CdTe薄膜,增加CdTe:Te的束流比,可显著降低CdTe表面金字塔... 本文利用分子束外延技术在GaAs(211)B衬底上外延CdTe(211)薄膜,系统研究不同工艺条件对CdTe外延薄膜的表面形貌和光学性质的影响。研究表明,在一定的生长温度下,在Te气氛下生长CdTe薄膜,增加CdTe:Te的束流比,可显著降低CdTe表面金字塔缺陷的尺寸和密度,当CdTe和Te束流比为6.5时,金字塔缺陷几乎消失,材料的表面平整度显著改善,X射线衍射(XRD)也表明CdTe晶体质量显著提高。进一步的拉曼光谱表明,随着CdTe和Te束流比的增加,Te的A1峰减弱,CdTe LO和TO声子峰强度比增强。低温光致发光光谱(PL)研究也表明随着CdTe和Te束流比的增加,Cd空位的减少可以使与杂质能级相关的深能级区域的峰强降低,与此同时和晶体质量相关的自由激子峰半峰全宽减少,材料的光学质量明显改善。该研究为探索CdTe/GaAs外延材料的理想的工艺窗口以及相关机理,并为进一步以此为缓冲层外延高质量HgCdTe材料提供基础。 展开更多
关键词 CDTE 分子束外延 表面缺陷 拉曼光谱 荧光光谱
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GaN外延材料及其自供电紫外光电探测器研究进展
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作者 卜俊飞 郑旭阳 +5 位作者 林正梁 胡星 李屹 刘平安 李国强 王文樑 《金属世界》 CAS 2024年第2期10-20,共11页
近年来,自供电Ga N基紫外光电探测器凭借具有的紫外敏感性、高稳定性及便携应用等特点,在紫外通信、紫外辐射检测以及导弹追踪等领域具有重要的应用前景。但其发展依旧面临着材料位错密度高、器件性能差、器件集成度低等问题。为了解决... 近年来,自供电Ga N基紫外光电探测器凭借具有的紫外敏感性、高稳定性及便携应用等特点,在紫外通信、紫外辐射检测以及导弹追踪等领域具有重要的应用前景。但其发展依旧面临着材料位错密度高、器件性能差、器件集成度低等问题。为了解决上述问题,科研工作者开展系统地研究并取得了重要进展。本文从材料缺陷控制、器件结构设计和器件集成应用三个方面讨论了自供电Ga N基紫外光电探测器的研究进展,并展望了其发展前景。 展开更多
关键词 紫外光电探测器 外延材料 器件性能 紫外通信 自供电 位错密度 器件结构 材料缺陷
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利用脉冲激光沉积外延制备CsSnBr_(3)/Si异质结高性能光电探测器
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作者 王爱伟 祝鲁平 +3 位作者 单衍苏 刘鹏 曹学蕾 曹丙强 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第5期351-359,共9页
钙钛矿半导体具有光吸收系数高、载流子扩散长度大和荧光量子效率高等优异物理特性,已在光电探测器、太阳能电池等领域展现出重要的应用潜力.但卤化铅钙钛矿的环境毒性和稳定性大大限制了该类器件的应用范围.因此,寻找低毒、稳定的非铅... 钙钛矿半导体具有光吸收系数高、载流子扩散长度大和荧光量子效率高等优异物理特性,已在光电探测器、太阳能电池等领域展现出重要的应用潜力.但卤化铅钙钛矿的环境毒性和稳定性大大限制了该类器件的应用范围.因此,寻找低毒、稳定的非铅钙钛矿半导体尤为重要.利用锡元素替代铅元素并生长高质量的锡基钙钛矿薄膜是实现其光电器件应用的可行方案.本文采用脉冲激光沉积方法,在N型单晶硅(100)衬底上外延生长了一层(100)取向的CsSnBr_(3)钙钛矿薄膜.霍尔效应及电学测试结果表明,基于CsSnBr_(3)/Si半导体异质结在暗态下具有明显的异质PN结电流整流特征,在光照下具有显著的光响应行为,并具有可自驱动、高开关比(104)以及毫秒量级响应/恢复时间等优良光电探测器件性能.本文研究结果表明利用脉冲激光沉积方法在制备新型钙钛矿薄膜异质结、实现快速灵敏的光电探测方面具有重要应用前景. 展开更多
关键词 外延 钙钛矿薄膜 异质结 光电探测器
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ZnO(110)衬底上单层黑磷烯的外延生长
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作者 赵程宇 张铭军 +1 位作者 赵宋焘 李震宇 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE EI CAS CSCD 2024年第1期79-86,I0029-I0035,I0118,共16页
二维黑磷烯作为新一代半导体材料,具有可调带隙和高载流子迁移率等优点,具有广阔的应用前景.但二维黑磷烯目前还不能直接大规模制备,限制了其进一步的研究和应用.分子束外延是一种广泛使用的具有较高外延质量的单晶薄膜生长方法,在制备... 二维黑磷烯作为新一代半导体材料,具有可调带隙和高载流子迁移率等优点,具有广阔的应用前景.但二维黑磷烯目前还不能直接大规模制备,限制了其进一步的研究和应用.分子束外延是一种广泛使用的具有较高外延质量的单晶薄膜生长方法,在制备二维黑磷烯方面具有广阔的应用前景.本文基于密度泛函理论计算筛选了ZnO(110)、GaN(110)、BP(110)和SiC(110)四种潜在的衬底,研究了二维黑磷烯在这些衬底上的生长情况.研究表明,ZnO(110)上的黑磷单层及团簇结构是稳定的,且磷在该表面扩散特性也有助于磷团簇的成核生长.本研究为高效制备二维黑磷烯及其他二维材料提供了有益的指导. 展开更多
关键词 黑磷烯 外延生长 密度泛函理论 从头算分子动力学 过渡态理论方法
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基于国产单晶衬底的150 mm 4H-SiC同质外延技术进展
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作者 赵志飞 王翼 +3 位作者 周平 李士颜 陈谷然 李赟 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2023年第2期147-157,共11页
高阻断电压、大功率密度、高转化效率是电力电子器件技术持续追求的目标,基于4H-SiC优异的材料特性,在电力电子器件应用方面具有广阔的发展前景。围绕SiC MOSFET器件对外延材料的需求,介绍了国内外主流的SiC外延设备及国产SiC衬底的发展... 高阻断电压、大功率密度、高转化效率是电力电子器件技术持续追求的目标,基于4H-SiC优异的材料特性,在电力电子器件应用方面具有广阔的发展前景。围绕SiC MOSFET器件对外延材料的需求,介绍了国内外主流的SiC外延设备及国产SiC衬底的发展,并重点介绍了宽禁带半导体电力电子器件国家重点实验室在国产150 mm(6英寸)SiC衬底上的高速外延技术进展。通过关键技术攻关,实现了150 mm SiC外延材料表面缺陷密度≤0.5 cm-2,BPD缺陷密度≤0.1 cm-2,片内掺杂浓度不均匀性≤5%,片内厚度不均匀性≤1%。基于自主外延材料,实现了650~1200 V SiC MOSFET产品商业化以及6.5~15 kV高压SiC MOSFET器件的产品定型。 展开更多
关键词 外延设备 单晶衬底 4H-SIC 同质外延 外延缺陷
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BiFeO_(3)外延薄膜的自极化调控
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作者 沈国阳 梁仁宏 +2 位作者 朱丽雯 王支国 舒龙龙 《宁夏大学学报(自然科学版)》 CAS 2024年第1期25-30,共6页
通过对衬底/底电极界面行为的研究,发现界面效应可以调控BiFeO_(3)外延薄膜的自极化.由于底电极和薄膜均具有钙钛矿类型的结构,通过改变衬底/底电极的界面类型和阴/阳离子层排列方式,可以在BiFeO_(3)/SrRuO_(3)(La_(0.67)Sr_(0.33)MO_(3... 通过对衬底/底电极界面行为的研究,发现界面效应可以调控BiFeO_(3)外延薄膜的自极化.由于底电极和薄膜均具有钙钛矿类型的结构,通过改变衬底/底电极的界面类型和阴/阳离子层排列方式,可以在BiFeO_(3)/SrRuO_(3)(La_(0.67)Sr_(0.33)MO_(3))/SrTiO_(3)异质结构中获得两种不同类型的界面.实验结果表明BFO薄膜在SrTiO_(3)衬底上共格生长,且两种异质结薄膜呈向上/向下的内建电场E_(b)和c-畴180°翻转.这些研究结果揭示了不同底电极选择导致的异质结构界面处的电荷分布与内建电场方向的差异,为调控异质结性能提供了一种可选途径. 展开更多
关键词 外延薄膜 界面效应 自极化
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“非虚构”的概念外延、评价标准与困境出路——李云雷笔谈录
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作者 沈闪 李云雷 《写作》 2024年第1期5-10,共6页
既是青年学者、作家又是刊物编辑的李云雷,对21世纪中国非虚构写作思潮有许多独到思考。在笔谈中,他指出“非虚构”是一个开放性概念,当下诸多对“非虚构”的命名并未真正抓住文学界所关注的问题。他表示一篇优秀的非虚构作品应兼备真... 既是青年学者、作家又是刊物编辑的李云雷,对21世纪中国非虚构写作思潮有许多独到思考。在笔谈中,他指出“非虚构”是一个开放性概念,当下诸多对“非虚构”的命名并未真正抓住文学界所关注的问题。他表示一篇优秀的非虚构作品应兼备真实性、思想性与文学性,构建“非虚构”批评理论体系应从“真实”出发,这也是“非虚构”理论所遇到的最大难题。他认为任何创作者都要有充分自信,围绕自我最真切的生命体验或最关注的社会问题,以自己的方式逐渐发现、体会自己与他人的不同。同时,还提醒“非虚构”写作者应与消费社会、与资本保持适当距离,以破解当下困局。 展开更多
关键词 非虚构 概念外延 评价标准 困境出路
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退火温度对BCZT外延薄膜电学性能的影响及其导电机制分析
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作者 彭倩文 吉祥 《人工晶体学报》 北大核心 2024年第1期82-89,共8页
脉冲激光沉积技术制备Ba_(0.85)Ca_(0.15)Zr_(0.1)Ti_(0.9)O_(3)(BCZT)外延薄膜时通常需要较高的沉积温度,且易含有氧空位缺陷。本文旨在提供一种基于脉冲激光沉积技术接后退火处理工艺,并成功在导电基板上制备了高质量BCZT外延薄膜,探... 脉冲激光沉积技术制备Ba_(0.85)Ca_(0.15)Zr_(0.1)Ti_(0.9)O_(3)(BCZT)外延薄膜时通常需要较高的沉积温度,且易含有氧空位缺陷。本文旨在提供一种基于脉冲激光沉积技术接后退火处理工艺,并成功在导电基板上制备了高质量BCZT外延薄膜,探究了退火温度对BCZT外延薄膜结构和性能的影响。不同温度(750、800、850和900℃)退火后薄膜均呈现纯净物相,且随着退火温度的升高,薄膜的铁电性能逐渐提高,2Pr由4.2μC/cm^(2)提升至17.6μC/cm^(2),但900℃退火温度下薄膜样品的漏电流问题最严重。通过拟合J-E关系表明,低电场下700℃至850℃退火后的薄膜均遵循欧姆导电机制,而900℃退火后的薄膜遵循空间电荷限制电流机制,高电场下所有退火温度下的薄膜均遵循福勒-诺德海姆隧穿机制。 展开更多
关键词 脉冲激光沉积 Ba_(0.85)Ca_(0.15)Zr_(0.1)Ti_(0.9)O_(3)外延薄膜 退火温度 物相结构 电学性能 导电机制
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福建省氮化镓外延专利技术现状与发展建议
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作者 许鲜 《广东化工》 CAS 2024年第5期72-74,共3页
氮化镓作为宽禁带半导体材料的代表之一,在电力电子、微波通信、光伏逆变、照明等应用领域具有硅材料无法企及的优势,有重大战略意义。本文以氮化镓外延技术专利活动情况为研究目标,从专利申请趋势、专利地域分布、主要申请人和技术领... 氮化镓作为宽禁带半导体材料的代表之一,在电力电子、微波通信、光伏逆变、照明等应用领域具有硅材料无法企及的优势,有重大战略意义。本文以氮化镓外延技术专利活动情况为研究目标,从专利申请趋势、专利地域分布、主要申请人和技术领域分布等角度进行对比分析,梳理专利技术现状,并对福建省氮化镓外延技术发展提出相关建议。 展开更多
关键词 氮化镓 氮化镓外延 宽禁带半导体 专利分析 专利布局
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ASM2000外延设备加热系统运行状态的研究
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作者 徐卫东 肖健 +1 位作者 宋占阳 何晶 《轻工科技》 2024年第1期67-69,共3页
本文研究一种关于ASM2000设备加热系统运行状态的方法,针对机台只有加热灯管损坏后才有报警的机制,提出一种基于PLC的灯管电阻监控方法,可以监测灯管的运行趋势。利用灯丝电阻的变化,来反应灯管的运行状态,由于电阻受温度影响较大,所以... 本文研究一种关于ASM2000设备加热系统运行状态的方法,针对机台只有加热灯管损坏后才有报警的机制,提出一种基于PLC的灯管电阻监控方法,可以监测灯管的运行趋势。利用灯丝电阻的变化,来反应灯管的运行状态,由于电阻受温度影响较大,所以选在处理基座的时间采集数据。实验结果表明,同在处理基座的时候,机台间差异最小,且电阻处于整个外延过程的峰值,在灯管更换周期内,具有明显的趋势变化,在极限实验下,灯管损坏的前一周内,电阻有急剧下降趋势直至某一刻损坏。本研究方法可以在保证质量的前提下,最大限度地使用加热备件。 展开更多
关键词 ASM2000外延 加热系统 灯管 电阻 运行状态
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试析工程管理信息化的内涵与外延
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作者 熊威盛 《中国科技期刊数据库 工业A》 2024年第2期0085-0087,共3页
作为当代工程管理应用的主流管理模式,工程管理信息化得以在业内被广泛应用,对工程项目传统的管理模式实施信息化升级,是目前信息技术应用领域中的重大突破之一,其对于工程管理效率和管理水平的提升大有助益。工程管理信息化与传统管理... 作为当代工程管理应用的主流管理模式,工程管理信息化得以在业内被广泛应用,对工程项目传统的管理模式实施信息化升级,是目前信息技术应用领域中的重大突破之一,其对于工程管理效率和管理水平的提升大有助益。工程管理信息化与传统管理模式相比,管理方式更加科学且竟然有序,对于资源的利用配置以及成本控制管理也更加科学,为此,本文重点探索工程管理信息化的内涵与外延,以期不断提升工程管理水平。 展开更多
关键词 工程管理信息化 内涵 外延
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基于ASM E2000外延炉温控系统的电压校准研究
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作者 徐卫东 任凯 +2 位作者 何晶 肖健 冯萍 《电子与封装》 2024年第1期73-77,共5页
ASM E2000外延炉采用可控硅(SCR)来控制加热灯管的输入电压,采用热电偶(TC)监测并反馈温度的方式进行加热。该机型的加热系统中,各项电压的校准精度决定了系统控制的温度精度。研究的温控系统可分为TC电路板和SCR电路板,对于TC信号处理... ASM E2000外延炉采用可控硅(SCR)来控制加热灯管的输入电压,采用热电偶(TC)监测并反馈温度的方式进行加热。该机型的加热系统中,各项电压的校准精度决定了系统控制的温度精度。研究的温控系统可分为TC电路板和SCR电路板,对于TC信号处理板的电压校准,其校准精度应在±0.01 V;对于SCR控制信号的电压校准,其校准精度应在±0.001 V;对于SCR输出的电压校准,应优先测量进电电压,根据负载和进电电压的具体情况做出调整,其校准精度应在±1 V。这样的校准方法可以有效、精准地控制生长温度,并使机台间的差异性达到最小,提升机台的标准化能力。 展开更多
关键词 可控硅 热电偶 温度控制 电压调整 ASM E2000外延
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