太空中的单粒子效应会对电子器件造成损伤,地面模拟是评估器件抗辐射性能的有效途径。现有的模拟方法大多是基于器件的物理底层模型进行电流源脉冲故障注入,不适用于百万门级大规模集成电路(very large scale integration,VLSI)。针对...太空中的单粒子效应会对电子器件造成损伤,地面模拟是评估器件抗辐射性能的有效途径。现有的模拟方法大多是基于器件的物理底层模型进行电流源脉冲故障注入,不适用于百万门级大规模集成电路(very large scale integration,VLSI)。针对该问题,提出了一种从器件高层行为模型注入单粒子翻转故障的方法,并基于8051 IP核进行了单粒子一位翻转和连续两位翻转的仿真和实验比较。研究结果表明,单粒子翻转故障可直接注入到器件的高层来评估系统的抗单粒子性能。展开更多
针对基于Linux的计算机系统,提出了一种软件实现的瞬时故障注入方案.它通过Linux的ptrace()调用,实现故障注入,工作负载选用八皇后算法和Mibench,实验结果验证了所提出的瞬时故障注入方案的有效性.同时也表明,在基于Intel X 86或Pentiu...针对基于Linux的计算机系统,提出了一种软件实现的瞬时故障注入方案.它通过Linux的ptrace()调用,实现故障注入,工作负载选用八皇后算法和Mibench,实验结果验证了所提出的瞬时故障注入方案的有效性.同时也表明,在基于Intel X 86或Pentium的系统设计中,应该对微处理机中EIP,EBP,ESP这三个寄存器予以很好的保护.展开更多
文摘太空中的单粒子效应会对电子器件造成损伤,地面模拟是评估器件抗辐射性能的有效途径。现有的模拟方法大多是基于器件的物理底层模型进行电流源脉冲故障注入,不适用于百万门级大规模集成电路(very large scale integration,VLSI)。针对该问题,提出了一种从器件高层行为模型注入单粒子翻转故障的方法,并基于8051 IP核进行了单粒子一位翻转和连续两位翻转的仿真和实验比较。研究结果表明,单粒子翻转故障可直接注入到器件的高层来评估系统的抗单粒子性能。
文摘针对基于Linux的计算机系统,提出了一种软件实现的瞬时故障注入方案.它通过Linux的ptrace()调用,实现故障注入,工作负载选用八皇后算法和Mibench,实验结果验证了所提出的瞬时故障注入方案的有效性.同时也表明,在基于Intel X 86或Pentium的系统设计中,应该对微处理机中EIP,EBP,ESP这三个寄存器予以很好的保护.