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基于修正KL散度的复杂会计舞弊行为预警研究
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作者 夏会 邓家泰 程平 《财会通讯》 北大核心 2024年第20期138-143,共6页
近年来随着会计舞弊行为愈发复杂,系统性会计数据造假行为层出不穷,对于数据质量有高要求的机器学习模型在预警时不可避免的会遇到挑战。文章在深入分析当前会计舞弊类型与识别方式的基础上,重点关注会计数据的真实性水平。基于Benford... 近年来随着会计舞弊行为愈发复杂,系统性会计数据造假行为层出不穷,对于数据质量有高要求的机器学习模型在预警时不可避免的会遇到挑战。文章在深入分析当前会计舞弊类型与识别方式的基础上,重点关注会计数据的真实性水平。基于Benford法则和信息熵构建了修正KL散度因子提取会计数据真实性特征,并基于此构建了以数据真实性为核心的会计舞弊预警体系。以2018—2022年中国创业板上市企业为实验对象,对其会计舞弊行为进行预警,结果表明:高成本、更复杂化的手段的确可以帮助企业实现改造特定财务指标数据的目的。 展开更多
关键词 会计舞弊 修正KL BENFORD法则 机器学习
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基于修正的χ~2-散度的不确定投资组合优化
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作者 王炜 包攀 毕天骄 《吉林师范大学学报(自然科学版)》 2020年第1期42-46,共5页
随着我国金融体系的不断完善,投资渠道呈现出多样化的发展.但由于市场变化、政策修改、企业经营等不确定因素,如何选择最优的投资方式以平衡风险和收益的比例要求成为投资者关注的焦点.投资组合的方法选择可以为投资的相关决策提供重要... 随着我国金融体系的不断完善,投资渠道呈现出多样化的发展.但由于市场变化、政策修改、企业经营等不确定因素,如何选择最优的投资方式以平衡风险和收益的比例要求成为投资者关注的焦点.投资组合的方法选择可以为投资的相关决策提供重要依据.首先提出不确定条件下的投资组合问题,利用经验分布和未知分布修正的χ2-散度距离来构造未知分布集合,再利用测度转化将不确定参数对未知分布问题转化为似然比对于经验分布的凸优化问题,然后应用拉格朗日对偶理论得到投资组合问题的等价形式. 展开更多
关键词 投资组合 修正的χ2- 不确定性 转化
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关于Doppler雷达VAD技术的讨论 被引量:21
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作者 陶祖钰 《应用气象学报》 CSCD 北大核心 1995年第1期109-113,共5页
Doppler雷达VAD技术可以从距离圈上的Doppler速度随方位角的分布廓线中提取背景风场的散度。但是,通常Dopplpr雷达观测到的距离圈上的Doppier速度一般都是不完整的,为了计算散度,必须插补上所有缺漏... Doppler雷达VAD技术可以从距离圈上的Doppler速度随方位角的分布廓线中提取背景风场的散度。但是,通常Dopplpr雷达观测到的距离圈上的Doppier速度一般都是不完整的,为了计算散度,必须插补上所有缺漏方位上的Tboppie;速度,这就使应用VAD技术得到的散度带有不客观的成分。该文利用Doppler速度随方位用的分布只有一阶简谐曲线的特点,提出了用对称法计算散度的方法,从而避免了对Dopplter速度厅位廓线进行人为插值,文中还针对用VAD技术计算出的不同高度k不同水平面积的散度量级不同的问题,提出了对散度进行面积修正的方法。 展开更多
关键词 雷达 VAD技术 散度修正 风场
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A Systematic Study of the Forbidden Pitch in the CD Through-Pitch Curve for Beyond 130nm
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作者 赵宇航 朱骏 曹永峰 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期889-892,共4页
The forbidden pitch "dip" in the critical dimension (CD) through the pitch curve is a well-known optical proximity effect. The CD and CD process window near the "dip",usually found near a pitch range of 1.1 to 1... The forbidden pitch "dip" in the critical dimension (CD) through the pitch curve is a well-known optical proximity effect. The CD and CD process window near the "dip",usually found near a pitch range of 1.1 to 1.4 wavelength/ NA (numerical aperture),is smaller when compared with other pitches. This is caused by inadequate imaging contrast for an unequal line and space grating. Although this effect is relatively well-known, its relationship with typical process condition parameters,such as the effective image blur caused by the photo-acid diffusion during the post exposure bake or the aberration in the imaging lens, has not been systematically studied. In this paper, we will examine the correlation between the image blur and the effect on the CD, including the decrease in the CD value (the depth of the "dip") and the CD process window. We find that both the decrease in the CD value and the focus latitude near the forbidden pitch correlate very well with the effective Gaussian image blur. Longer effective diffusion length correlates well with a smaller process window and a deeper CD "dip". We conclude that the dip depth is very sensitive to the change in image contrast. 展开更多
关键词 forbidden pitch effective resist diffusion length OPC OAI deep-UV
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Black Hole Entropy with Modified Dispersion Relations
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作者 WANG Fu-Jun GUI Yuan-Xing ZHANG Yu 《Communications in Theoretical Physics》 SCIE CAS CSCD 2009年第8期261-263,共3页
There is much interest in resolving the quantum corrections to Bekenstein-Hawking entropy with a large length scale limit. The leading correction term & given by the logarithm of black hole area with a model-dependen... There is much interest in resolving the quantum corrections to Bekenstein-Hawking entropy with a large length scale limit. The leading correction term & given by the logarithm of black hole area with a model-dependent coefficient. Recently the research for quantum gravity implies the emergence of a modification of the energy-momentum dispersion relation (MDR), which plays an important role in the modified black hole thermodynamics. In this paper, we investigate the quantum corrections to Bekenstein-Hawking entropy in four-dimensional Sehwarzschild black hole and Reissner-Nordstrom black hole respectively based on MDR. 展开更多
关键词 black hole ENTROPY dispersion relation
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