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激光共聚焦显微法测定面团面筋网络结构的影响因素
1
作者 姜继凯 张影全 +4 位作者 郭波莉 杨静洁 黄璐瑶 李明 钟耕 《中国农业科学》 CAS CSCD 北大核心 2023年第14期2787-2797,共11页
【目的】面团样品切片、混合染色剂浓度以及染色时间是激光共聚焦显微镜测定面团面筋网络结构的关键影响因素。本研究旨在分析这些因素对面团面筋网络结构测定结果的影响规律,进而优化出最佳的切片厚度和染色条件,为面团面筋网络结构及... 【目的】面团样品切片、混合染色剂浓度以及染色时间是激光共聚焦显微镜测定面团面筋网络结构的关键影响因素。本研究旨在分析这些因素对面团面筋网络结构测定结果的影响规律,进而优化出最佳的切片厚度和染色条件,为面团面筋网络结构及面制品品质高质量研究提供技术支撑。【方法】选取面筋筋力不同的两个小麦品种郑麦366(Z366)和小偃22(X22)为试验材料,磨粉制作成面团,并分别冷冻0 d和1 d;用冷冻切片机将面团分别切成10、14和20μm厚度的薄片,并配制不同浓度罗丹明B(RDB)和异硫氰酸荧光素(FITC)混合染液,分别染色1、10和20 min,分析这些因素对激光共聚焦显微法(CLSM)测定面团面筋网络结构的影响。【结果】切片厚度为10μm时,郑麦366(Z366)和小偃22(X22)面团的面筋网络结构均最清晰,且在此切片厚度下,两个品种冷冻0 d和冷冻1 d的面团面筋网络结构之间的差异均最显著(P<0.01)。染色条件研究结果表明,低浓度染色剂(0.001%+0.01%)染色时间越长,面筋蛋白网络结构呈现越清晰;高浓度染色剂(0.025%+0.25%)在染色1 min时,面筋网络结构呈现最佳,染色10 min时,面筋网络结构最差。【结论】面团切片厚度10μm,不同筋力和不同冷冻处理的面团网络结构差异最大,即面筋网络结构区分效果最明显;在此切片厚度条件下,当不考虑时间成本时,运用低浓度混合染色剂染色20 min面筋网络结构呈现效果最佳;当需要节省时间并观察淀粉颗粒细微结构时,使用高浓度染色剂染色1 min效果最好。 展开更多
关键词 激光共聚焦显微法 面筋网络结构 切片厚度 混合染色剂 染色条件
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时间因素对显微法判定打(复)印文件朱墨时序的影响研究 被引量：2
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作者 王长亮 吕晨 +2 位作者 陆延 周光磊 李彪 《中国司法鉴定》 2021年第3期65-70,共6页
目的朱墨时序鉴别是文件检验领域的难题之一,其判定受色料组合等多种因素影响。通过用显微法判定打(复)印文件与印文形成交叉后时间因素对检验鉴定结果存在的影响进行研究,为朱墨时序鉴别提供理论支撑。方法用显微法前后间隔30个月对光... 目的朱墨时序鉴别是文件检验领域的难题之一,其判定受色料组合等多种因素影响。通过用显微法判定打(复)印文件与印文形成交叉后时间因素对检验鉴定结果存在的影响进行研究,为朱墨时序鉴别提供理论支撑。方法用显微法前后间隔30个月对光敏印文、原子印文、印泥印文与打(复)印文件形成不同组合的朱墨时序同一个交叉部位进行两次检验,研究前后两次检验图片间的变化。结果光敏印文、原子印文与打(复)印文件形成不同组合的朱墨时序,两次检验图片无较明显变化;而印泥印文与打(复)印文件形成不同组合的朱墨时序,后一次检验较第一次检验时显微图片有较明显的变化。结论虽然印泥印文与打(复)印文件形成不同组合的朱墨时序前后两次显微检验图片有较明显的变化,但只要能够准确把握朱墨时序判定的依据,仍可以正确地对印泥印文的朱墨时序进行判定。因此30个月的检验间隔对显微法判定打(复)印文件的朱墨时序无显著影响,此研究为朱墨时序鉴别提供了一定的参考依据。 展开更多
关键词 显微法 时间因素 打(复)印文件 朱墨时序
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合理使用划痕法及显微法测定TiN薄膜与基体结合力 被引量：3
3
作者 肖娜 杜菲菲 《理化检验（物理分册）》 CAS 2015年第9期619-622,625,共5页
采用反应磁控溅射的方法在TC4钛合金基板上制备了TiN薄膜,利用划痕法测试了TiN薄膜与基体之间的结合力,并结合薄膜硬度与显微法判断的临界载荷进行了对比分析。结果表明:单纯依靠划痕法判断临界载荷较为局限,结合显微法同时考虑硬度等... 采用反应磁控溅射的方法在TC4钛合金基板上制备了TiN薄膜,利用划痕法测试了TiN薄膜与基体之间的结合力,并结合薄膜硬度与显微法判断的临界载荷进行了对比分析。结果表明:单纯依靠划痕法判断临界载荷较为局限,结合显微法同时考虑硬度等力学性能共同判断临界载荷,是更为科学合理的办法。 展开更多
关键词 划痕法 显微法 TiN薄膜/基体结合力 硬度
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视频显微法在联轴器同轴度调整中的应用 被引量：1
4
作者 武明 成铁芸 《水电能源科学》 北大核心 2021年第5期176-179,共4页
在水泵或水轮发电机等机械设备的安装与检修中,联轴器同轴度的检测调整是一道细致而又费时的工序,该道工序的质量直接影响机械设备之间动力传递的质量和效率。针对传统同轴度检测装置存在狭窄空间难以安装、人员识读数据困难等缺点,研... 在水泵或水轮发电机等机械设备的安装与检修中,联轴器同轴度的检测调整是一道细致而又费时的工序,该道工序的质量直接影响机械设备之间动力传递的质量和效率。针对传统同轴度检测装置存在狭窄空间难以安装、人员识读数据困难等缺点,研制了一种新的测量装置视频显微法,该装置采用电子显微镜、手持终端及无线传输、显微测量、数字计算等新技术和设备。实例应用结果表明,该装置方便、高效,易于在联轴器类机械的同轴度检测与调整中推广应用,可显著提高设备安装与检修工作质量与效率。 展开更多
关键词 联轴器 同轴度 径向偏差 倾斜度 视频显微法
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偏光显微法在颜料研究中的发展现状与趋势 被引量：2
5
作者 夏寅 《文物保护与考古科学》 2008年第S1期131-135,共5页
对偏光显微法在颜料分析研究中国内外的发展概况和发展趋势进行了论述,并对偏光显微法和拉曼光谱分析的结合进行了探讨。对该方法在文物研究中的地位给予了较高的评价。
关键词 偏光显微法 颜料 拉曼 发展
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时间因素对显微法判定书写字迹朱墨时序影响的研究
6
作者 王长亮 吕晨 +4 位作者 陆延 刘笑影 顾瑜卿 周光磊 李彪 《中国司法鉴定》 2022年第3期63-69,共7页
目的朱墨时序鉴别是文件检验领域的难题之一,其判定受色料组合等多种因素影响。本文旨在研究书写字迹与印文形成交叉后,时间因素对显微法检验结果存在的影响,为朱墨时序鉴别提供理论支撑。方法对光敏印文、原子印文、印泥印文与书写字... 目的朱墨时序鉴别是文件检验领域的难题之一,其判定受色料组合等多种因素影响。本文旨在研究书写字迹与印文形成交叉后,时间因素对显微法检验结果存在的影响,为朱墨时序鉴别提供理论支撑。方法对光敏印文、原子印文、印泥印文与书写字迹形成不同组合的朱墨时序上的同一个交叉部位进行两次显微检验,前后间隔30个月,研究前后两次检验图片间的变化。结果光敏印文、原子印文、印泥印文与黑色签字笔、蓝色圆珠笔、蓝黑钢笔、衬垫式复写纸书写字迹形成不同组合的朱墨时序,除蓝黑钢笔书写字迹的颜色加深、变黑以及印泥印文常伴有极少部分脱落外,两次检验图片无较明显变化;光敏印文、原子印文、印泥印文与无碳复写纸书写字迹形成不同组合的朱墨时序,两次检验图片发生较大变化,无碳复写字迹变淡或消失。结论光敏印文、原子印文、印泥印文与黑色签字笔、蓝色圆珠笔、蓝黑钢笔、衬垫式复写纸、无碳复写纸书写字迹形成不同组合的朱墨时序样本中,除无碳复写字迹与印泥油形成不同组合的朱墨时序有显著变化外,其他组合均无明显变化,对朱墨时序判定影响较小;无碳复写字迹与印泥油形成不同组合的朱墨时序前后两次检验变化显著,在无碳复写字迹变淡或消失的第二次检验时更无法判定其先后顺序,对朱墨时序的判定影响较大。 展开更多
关键词 显微法 时间因素 书写字迹 朱墨时序
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基于截面显微法的光学材料亚表面损伤检测
7
作者 汉语 刘成有 +2 位作者 张勇 崔舒 徐井华 《通化师范学院学报》 2013年第4期19-20,共2页
针对光学材料亚表面损伤的截面显微法检测进行了深入研究.介绍了截面显微法的基本原理以及样品制备和检测工艺流程,并对检测结果进行了分析,得出了亚表面裂纹深度与磨料粒度之间的比例关系.
关键词 光学材料 研磨 亚表面损伤 截面显微法
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偏光显微法测定含蜡原油析蜡点的影响因素研究 被引量：4
8
作者 伍鸿飞 郑强 +3 位作者 靳文博 田震 杨蕾 肖飞 《广州化工》 CAS 2013年第20期61-63,91,共4页
在含蜡原油析蜡点测定和蜡晶特性分析等研究中,偏光显微法以其灵敏度高、接近实际、直观等优点而得到广泛应用。但该方法受测试条件和人为因素的影响较大。以阿赛线某站原油为研究对象,探讨不同热处理温度、偏光显微镜放大倍数和试样盖... 在含蜡原油析蜡点测定和蜡晶特性分析等研究中,偏光显微法以其灵敏度高、接近实际、直观等优点而得到广泛应用。但该方法受测试条件和人为因素的影响较大。以阿赛线某站原油为研究对象,探讨不同热处理温度、偏光显微镜放大倍数和试样盖玻片自身缺陷等因素对含蜡原油析蜡点偏光显微测定的影响。结果表明:热处理温度对原油的析蜡点和蜡晶结构有较大的影响,盖玻片自身缺陷在一定程度上将干扰析蜡点的准确判断。 展开更多
关键词 偏光显微法 析蜡点 盖玻片质量 热处理温度 放大倍数 蜡晶结构
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用于确定表面特性的扫描探针显微法
9
作者 Briggs Christie 蔡少英 《电子产品可靠性与环境试验》 1995年第2期56-58,共3页
扫描探针显微法(SPM)常用于半导体和磁盘驱动行业的成象和计量。SPM可在简单如环境空气、复杂如温度控制样品及真空载物台等各种环境下提供定量的3维数据。它和扫描电子显微法(SEM)不同,其样品准备工作极少,在几分钟内就可把圆片放置在... 扫描探针显微法(SPM)常用于半导体和磁盘驱动行业的成象和计量。SPM可在简单如环境空气、复杂如温度控制样品及真空载物台等各种环境下提供定量的3维数据。它和扫描电子显微法(SEM)不同,其样品准备工作极少,在几分钟内就可把圆片放置在SPM载物台上进行扫描。新的扫描尖端使SPM已经不仅仅是获取表面信息的高倍率工具。同样的仪器可用于测量埃等级的表面粗糙度。SPM还能获得和显示诸如摩擦力、磁力、电势能以及表面一致性等表面性质。有极高纵横比的探针还可在斜槽内成像。 展开更多
关键词 扫描探针显微法 SPM 电子显微术
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观察球孢白僵菌侵染烟粉虱若虫过程的新方法——荧光显微法 被引量：3
10
作者 王登杰 雷仲仁 +1 位作者 王帅宇 王海鸿 《应用昆虫学报》 CAS CSCD 北大核心 2015年第1期267-271,共5页
【目的】介绍一种观察白僵菌Beauveria bassiana侵染烟粉虱Bemisia tabaci（Gennadius）若虫的荧光显微方法。【方法】将被白僵菌侵染的烟粉虱若虫用荧光素二乙酸酯（FDA）染色,并于波长为450~490 nm的蓝光下显微观察。【结果】在接种... 【目的】介绍一种观察白僵菌Beauveria bassiana侵染烟粉虱Bemisia tabaci（Gennadius）若虫的荧光显微方法。【方法】将被白僵菌侵染的烟粉虱若虫用荧光素二乙酸酯（FDA）染色,并于波长为450~490 nm的蓝光下显微观察。【结果】在接种白僵菌12 h和24 h的烟粉虱若虫上分别观察到昆虫表皮上分生孢子的萌发和芽管穿透表皮。结合裸眼和荧光显微观察结果证实了被真菌侵染的烟粉虱若虫体色变红和菌体在虫体内增殖是同时发生的。【结论】应用荧光显微方法能观察到白僵菌在烟粉虱若虫体表和体内的侵染。 展开更多
关键词 烟粉虱 若虫 白僵菌 荧光显微法
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过焦扫描光学显微测量技术综述
11
作者 石俊凯 李冠楠 +3 位作者 霍树春 姜行健 陈晓梅 周维虎 《计测技术》 2023年第1期18-29,共12页
随着半导体产业的发展和器件性能的不断提升,半导体器件的特征尺寸越来越小,器件结构越来越复杂,对检测仪器的性能提出了更高的要求。首先介绍过焦扫描光学显微法(Through-focus Scanning Optical Microscope,TSOM)的测量装置及测量原理... 随着半导体产业的发展和器件性能的不断提升,半导体器件的特征尺寸越来越小,器件结构越来越复杂,对检测仪器的性能提出了更高的要求。首先介绍过焦扫描光学显微法(Through-focus Scanning Optical Microscope,TSOM)的测量装置及测量原理,该方法可实现三维几何参数的无损测量,因其具有精度高、速度快、成本低等优点,可以满足在线测量的需求;然后从TSOM图构建和待测参数提取两个方面对TSOM方法的研究进展进行了梳理和归纳;最后对TSOM方法未来的研究重点和发展方向进行了展望。该方法有望为我国半导体制造产业提供新的检测手段,为优化和提升我国半导体制造工艺提供重要的技术支撑。 展开更多
关键词 光学微纳测量 过焦扫描光学显微法 深度学习 无损测量
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固结磨料研磨SiC晶片亚表面损伤截面显微检测技术 被引量：11
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作者 张银霞 杨乐乐 +1 位作者 郜伟 苏建修 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第5期906-910,共5页
本文对采用截面显微检测法检测SiC晶片亚表面损伤时样品的制备、腐蚀液配方及腐蚀环境进行了系统地研究,并重点分析了固结磨料研磨SiC晶片(0001)Si面和(0001)C面亚表面损伤的深度及微裂纹构型。结果表明,采用腐蚀液配方为KOH∶K2CO3=20 ... 本文对采用截面显微检测法检测SiC晶片亚表面损伤时样品的制备、腐蚀液配方及腐蚀环境进行了系统地研究,并重点分析了固结磨料研磨SiC晶片(0001)Si面和(0001)C面亚表面损伤的深度及微裂纹构型。结果表明,采用腐蚀液配方为KOH∶K2CO3=20 g∶1 g,在420℃下腐蚀3 min时亚表面损伤观测效果较好。在研磨压力为2 psi、金刚石磨粒粒径14μm时,固结磨料研磨SiC晶片的亚表面损伤层深度约为2.6μm,亚表面微裂纹构型有垂线状、斜线状、钩状、叉状、树枝状、人字状以及横线状。在相同的加工条件下,SiC晶片的(0001)Si面和(0001)C面的损伤深度基本相同。 展开更多
关键词 SiC晶片 截面显微法 亚表面损伤 固结磨料研磨
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基于偏光显微的双组分复合纤维定量分析 被引量：3
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作者 巫莹柱 谢晓波 +2 位作者 李慧 张宇萍 张晓利 《棉纺织技术》 CAS 北大核心 2017年第12期28-31,共4页
探讨PET/PBT、PET/PTT双组分复合纤维的定量检测方法。以PET/PBT双组分复合纤维为例,先采用熔点法和偏光显微法定性鉴别两组分种类,再制作纤维横截面切片,在偏光显微镜下确定双组分横截面中各组分对应的纤维种类,采用图像处理方法测量... 探讨PET/PBT、PET/PTT双组分复合纤维的定量检测方法。以PET/PBT双组分复合纤维为例,先采用熔点法和偏光显微法定性鉴别两组分种类,再制作纤维横截面切片,在偏光显微镜下确定双组分横截面中各组分对应的纤维种类,采用图像处理方法测量各组分横截面积,最后分别根据各组分面积及体积质量计算质量百分比。结果显示:结合熔点法、偏光显微法和图像处理法可以准确测定PET/PBT双组分复合纤维中各组分含量。认为:该定量检测方法设备通用、准确有效、操作简单。 展开更多
关键词 聚酯纤维 双组分复合纤维 定量分析 偏光显微法 图像处理
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粉末样品的X射线显微定量分析
14
作者 朱绫 杨业智 刘涛 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1989年第1期74-76,共3页
本文介绍一种能用于球形或近似球形微粒的X射线显微定量分析方法。对多元素钴基合金、黄铁矿等微粒样品进行了实际分析,获得了比较好的结果。
关键词 X线 显微法 粉末样品
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三种不同点蚀深度测量方法的比对分析
15
作者 宁文涛 《实验室检测》 2024年第7期141-144,共4页
目的本文主要介绍三种测量点蚀深度的方法:金相法、测微计法和显微法,并探讨它们在不同点蚀情况下的差异及其对测量结果的影响。方法本文针对碳钢和不锈钢表面的腐蚀坑,利用这三种测量方法分别对这两种典型材质表面的点蚀坑进行测量,并... 目的本文主要介绍三种测量点蚀深度的方法:金相法、测微计法和显微法,并探讨它们在不同点蚀情况下的差异及其对测量结果的影响。方法本文针对碳钢和不锈钢表面的腐蚀坑,利用这三种测量方法分别对这两种典型材质表面的点蚀坑进行测量,并对测量结果进行了分析和讨论。结果通过对比测量结果可知:金相法较为精确,但该方法属于破坏性测量;测微计法仅适用于宽浅型的点蚀坑;显微镜法不仅适用于宽浅型的点蚀坑,也适用于点蚀坑底部较为窄小的情况。结论(1)针对宽浅的点蚀坑,金相法、测微计法和显微法三种方法均适用且结果一致;(2)针对底部窄小的点蚀坑,金相法和显微镜法较为适用且结果一致;(3)金相法、显微镜法和测微计法测量腐蚀深度时,应考虑均匀腐蚀造成的厚度减少量并对结果进行修正,尤其是在均匀腐蚀较为明显的情况下。 展开更多
关键词 金相法 测微计法 显微法 点蚀深度
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三维轮廓测量系统设计与试验分析
16
作者 孙云龙 史立凯 《造纸装备及材料》 2024年第6期18-20,共3页
针对微纳结构表面轮廓快速精准测量问题,文章设计了一套基于干涉显微法原理的三维轮廓测量系统。系统包括光学系统装置,精密扫描驱动装置和采集图像数据装置。以标准单刻线样板和标准台阶为测试对象,进行了测量能力和示值重复性试验,数... 针对微纳结构表面轮廓快速精准测量问题,文章设计了一套基于干涉显微法原理的三维轮廓测量系统。系统包括光学系统装置,精密扫描驱动装置和采集图像数据装置。以标准单刻线样板和标准台阶为测试对象,进行了测量能力和示值重复性试验,数据表明,系统垂直测量精度可达1nm,测量绝对误差范围在0.001~0.007μm,示值重复性为0.0966%。结果说明系统具有测量面积大、可靠性高和非接触等特点,可实现微纳结构表面轮廓的非破坏性、快速精准测量。 展开更多
关键词 三维轮廓测量系统 非接触 干涉显微法
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去滞散的显微与薄层色谱鉴别 被引量：2
17
作者 张宏 封士兰 +7 位作者 李建喜 王磊 王旭荣 张康 杨志强 王学智 边亚彬 张景艳 《黑龙江畜牧兽医》 CAS 北大核心 2016年第12期164-166,299,共4页
为了建立去滞散的质量标准,试验分别采用显微法和薄层色谱法(TLC)对制剂中山楂、黄芪、当归、枳壳进行定性鉴别。结果表明:去滞散中山楂、黄芪、当归、枳壳的显微组织特征明显,易于鉴别;供试品在与4味中药材的对照品、对照药材色谱相应... 为了建立去滞散的质量标准,试验分别采用显微法和薄层色谱法(TLC)对制剂中山楂、黄芪、当归、枳壳进行定性鉴别。结果表明:去滞散中山楂、黄芪、当归、枳壳的显微组织特征明显,易于鉴别;供试品在与4味中药材的对照品、对照药材色谱相应的位置上显示出相同颜色的斑点,阴性样品无干扰。说明该鉴别方法简便、可靠,可用于去滞散的质量标准控制。 展开更多
关键词 去滞散 显微法 薄层色谱法(TLC) 中药材 鉴别 质量标准
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基于机器学习的过焦扫描显微测量方法研究 被引量：3
18
作者 李冠楠 石俊凯 +6 位作者 陈晓梅 高超 姜行健 崔成君 朱强 霍树春 周维虎 《中国光学（中英文）》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第4期703-711,共9页
微电子机械系统(Micro-Electro-Mechanical System,MEMS)具有小型化、高集成度的特点,随着MEMS结构深宽比的不断增大,对MEMS结构尺寸的测量提出更高的要求。过焦扫描光学显微技术(Through-focus Scanning Optical Microscopy,TSOM)是一... 微电子机械系统(Micro-Electro-Mechanical System,MEMS)具有小型化、高集成度的特点,随着MEMS结构深宽比的不断增大,对MEMS结构尺寸的测量提出更高的要求。过焦扫描光学显微技术(Through-focus Scanning Optical Microscopy,TSOM)是一种高精度无损的光学测量方法,通过采集一组离焦图并沿扫描方向截取TSOM图像,利用库匹配的方法从中提取待测结构的尺寸信息。该方法对于纳米级结构测量有着极高的灵敏度,然而对于微米级特征尺寸存在建库困难且易受环境干扰的问题。本文针对微米级MEMS沟槽结构,在传统的光学显微镜基础上进行改造,建立了TSOM光学系统采集离焦图像,利用图像特征提取方法生成TSOM特征向量集,结合机器学习的方法建立不同槽宽尺寸的回归预测模型,对微米级MEMS槽宽尺寸实现纳米级测量精度,单点重复性测量2μm槽宽的相对标准差(Relative Standard Deviation,RSD)在1%左右,10μm和30μm槽宽RSD分别低于0.2%和0.35%,结果表明该方法对于微米级MEMS沟槽测量具有极高的应用前景。 展开更多
关键词 MEMS 机器学习 过焦扫描光学显微法 微纳测量
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全息干涉显微术测量光纤折射率分布
19
作者 陈志清 吕如寿 《光学工程》 CSCD 1989年第5期21-23,共3页
本文介绍用双曝光全息干涉显微法测量自聚焦棒透镜折射率分布的测量原理。通过实验测试,表明这种方法具有测量精度高、视场大、放大倍数连续可调和数据处理简单等优点。
关键词 光纤 折射率 全息干涉 显微法 测量
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利用原子力显微镜研究KTiOAsO4晶体的铁电畴
20
作者 胡秀琴 李可 +6 位作者 彭祖建 官文栎 程传福 路庆明 马长勤 王绪宁 牟其善 《Beijing Synchrotron Radiation Facility》 2001年第2期149-152,共4页
利用原于力显微镜研究了KTiOAsO4晶体的铁电畴，发现了这一实验方法的诸多特点。如放大倍数高，可以得到晶体表面的定量信息等，得到了KTiAsO4晶体铁电畴的原于力显微镜照片，并结合化学腐蚀光学显微法的实验结果进行了研究。最后对铁... 利用原于力显微镜研究了KTiOAsO4晶体的铁电畴，发现了这一实验方法的诸多特点。如放大倍数高，可以得到晶体表面的定量信息等，得到了KTiAsO4晶体铁电畴的原于力显微镜照片，并结合化学腐蚀光学显微法的实验结果进行了研究。最后对铁电畴的机制与消除进行了理论讨论。 展开更多
关键词 原子力显微镜 KTiOAsO4晶体 铁电畴 铁电晶体 化学腐蚀光学显微法
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