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椭圆偏振谱学法研究Ni(OH)_2/NiOOH电极的性质(英文)
1
作者
李念兵
罗红群
+2 位作者
向斌
张胜涛
丁培道
《西南师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第5期721-724,共4页
应用现场椭圆偏振光谱技术并结合循环伏安法,研究了镍电极表面Ni(OH)2与NiOOH的相互转化,以均匀膜模型拟合实验数据获得表面膜厚度的变化规律,采用以光学参量变化速率(Vop)为参数的椭圆偏振光谱方法能直接反映出体系的特征.Vop参量与表...
应用现场椭圆偏振光谱技术并结合循环伏安法,研究了镍电极表面Ni(OH)2与NiOOH的相互转化,以均匀膜模型拟合实验数据获得表面膜厚度的变化规律,采用以光学参量变化速率(Vop)为参数的椭圆偏振光谱方法能直接反映出体系的特征.Vop参量与表面膜厚度的变化率间存在密切关系,Vop反映了电极表面表面膜厚度的变化率.
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关键词
Ni(OH)2/NiOOH电极
椭圆偏振谱学法
循环伏安
法
镍电极
光
学
参量变化速率
表面膜厚度
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职称材料
题名
椭圆偏振谱学法研究Ni(OH)_2/NiOOH电极的性质(英文)
1
作者
李念兵
罗红群
向斌
张胜涛
丁培道
机构
西南师范大学化学化工学院
中国科学院海洋研究所
重庆大学化学化工学院
重庆大学材料科学与工程学院
出处
《西南师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第5期721-724,共4页
文摘
应用现场椭圆偏振光谱技术并结合循环伏安法,研究了镍电极表面Ni(OH)2与NiOOH的相互转化,以均匀膜模型拟合实验数据获得表面膜厚度的变化规律,采用以光学参量变化速率(Vop)为参数的椭圆偏振光谱方法能直接反映出体系的特征.Vop参量与表面膜厚度的变化率间存在密切关系,Vop反映了电极表面表面膜厚度的变化率.
关键词
Ni(OH)2/NiOOH电极
椭圆偏振谱学法
循环伏安
法
镍电极
光
学
参量变化速率
表面膜厚度
Keywords
Ni(OH)_2/NiOOH system
ellipsometry
optical tracking rate
thickness
分类号
O657.1 [理学—分析化学]
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1
椭圆偏振谱学法研究Ni(OH)_2/NiOOH电极的性质(英文)
李念兵
罗红群
向斌
张胜涛
丁培道
《西南师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2003
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