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题名基于马尔可夫决策模型的测试向量排序新方法
被引量：1
- 1
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作者
王冠军
王茂励
赵莹
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机构
中国矿业大学计算机学院信息科学系
山东省计算中心
哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院
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出处
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2010年第5期287-290,共4页
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基金
国家自然科学基金(60273081和69973014)资助
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文摘
时延测试向量排序是降低测试功耗的有效技术。提出了基于马尔可夫决策模型的时延测试向量排序新方法。对时延测试向量进行重排序,利用基于转换频度的诱导开关方程和海明距离来定义测试向量序列的转移概率,根据转移概率决定测试向量的顺序,降低测试电路的开关翻转频率,以达到降低峰值功耗和平均功耗的目的。给出了完整的算法TVO-MDP并进行算法最优性和复杂性分析。实验结果证实了本方法的有效性。
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关键词
测试功耗
时延测试向量排序
马尔可夫决策过程
转移概率
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Keywords
Test power Delay test vector ordering Markov decision processes Transfer probability
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分类号
TP391.4
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名降低数字集成电路测试功耗的向量排序方法
被引量：1
- 2
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作者
张超然
李小珉
陈二虎
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机构
海军工程大学电子工程学院
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出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第1期139-142,共4页
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文摘
研究了数字集成电路测试过程中的功耗问题,提出一种新的测试向量重排序方法,有效地减小了测试过程中电路状态的翻转次数。该方法根据电路结构和测试集的特征计算输入的影响度系数,定义加权海明距离,在不影响故障覆盖率的前提下,有效地降低了测试功耗。实验结果显示,经过该方法重排序后的测试集在测试过程中功耗平均降低48.07%,明显优于海明距离法。
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关键词
数字集成电路
测试功耗
测试向量排序
加权海明距离
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Keywords
Digital IC
Power consumption
Test vector ordering
Weighted Hamming distance
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名组合电路桥接故障诊断的测试生成及优化
被引量：2
- 3
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作者
李蕙
竺红卫
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机构
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
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出处
《电路与系统学报》
CSCD
北大核心
2009年第5期1-6,共6页
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基金
芯片测试诊断技术开发及其应用(2007C31011)
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文摘
在利用划分等价类的方法来诊断组合电路中桥接故障的基础上,本文提出了一种基于门特性的IDDQ测试集生成算法及对测试集排序筛选的优化方法。实验结果表明,将此方法应用于组合电路桥接故障的诊断可缩减测试集的大小,提高诊断的故障覆盖率。
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关键词
桥接故障
测试生成
敏感输入
测试向量排序
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Keywords
bridging faults
test generation
sensitive input
test pattern ordering
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分类号
TP306.3
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名一种集成电路测试流程分级动态调整方法
被引量：9
- 4
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作者
詹文法
邵志伟
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机构
安庆师范大学计算机与信息学院
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出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第8期1623-1630,共8页
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基金
安徽省高校协同创新项目(No.GXXT-2019-030)
安徽省技术带头人及后备人选(No.gxbjZD2016075,No.2015H053)
国家自然科学基金(No.61306046,No.61640421)。
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文摘
针对集成电路测试过程中测试时间长,影响测试效率的问题,提出了一种集成电路测试流程分级动态调整方法.通过统计样本集成电路中每种测试类型和每条测试向量的测试故障率来建立贝叶斯概率模型,根据其命中故障点的概率高低分级调整它们的加载顺序.随着测试的进行,不断收集测试数据,动态更新测试类型和测试向量的测试故障率,同步调整测试类型以及测试向量的加载顺序.实验表明,使用动态调整后的测试流程可以更早的发现故障电路,显著减少故障电路的测试时间,提高测试效率.本算法是完全基于软件的,不需要增加硬件开销,可以相容于传统的集成电路测试流程.
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关键词
自适应测试
测试类型排序
测试向量排序
贝叶斯统计
泊松分布
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Keywords
adaptive test
test type reordering
test pattern reordering
Bayesian statistics
Poisson distribution
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于扫描链修改的低功耗测试方案
- 5
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作者
张培明
商进
李晓龙
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机构
黑龙江工程学院电气与信息工程学院
无锡职业技术学院控制技术学院
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出处
《黑龙江工程学院学报》
CAS
2017年第2期45-48,共4页
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基金
黑龙江省教育厅科学技术研究项目(12531565)
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文摘
芯片测试过程中存在的高功耗问题是制约芯片测试发展的难题,针对此问题,提出一种新的低功耗测试方法。该方法通过插入异或门,将扫描链中的部分D触发器用T触发器代替,同时采用遗传算法对测试结构进行修改和测试向量重排序,为了保证故障覆盖率和故障仿真的正确性,对测试数据进行转换,从而降低由于节点电压跳变所导致的电平翻转次数,达到降低测试功耗的目的。根据部分ISCSAS 89基准电路的实验结果表明:该方法符合预期目标,平均功耗相对于未采用该方法前降低51.26%。
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关键词
扫描链
测试向量重排序
遗传算法
低功耗测试
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Keywords
scan chain
test vector reordering
genetic algorithm
low power test
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分类号
TP391.46
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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