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X射线荧光光谱法测定低合金生铁中Si、Mn、P、S、Cr、Ni的应用 被引量：1
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作者 姚锦冰 杨玉明 蒋兴元 《中国高新技术企业》 2012年第23期58-60,共3页
X射线荧光光谱法测定低合金生铁中的Si、Mn、P、S、Cr、Ni等元素的含量。通过对比分析,选择适合于低合金生铁的制样方式,建立对应的分析应用程序,达到分析测试目的。经实际生产验证:该分析方法具有分析速度快、精确度高的优点,满足了分... X射线荧光光谱法测定低合金生铁中的Si、Mn、P、S、Cr、Ni等元素的含量。通过对比分析,选择适合于低合金生铁的制样方式,建立对应的分析应用程序,达到分析测试目的。经实际生产验证:该分析方法具有分析速度快、精确度高的优点,满足了分析的需求。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法 直接抛光法 粉末压片法 低合金生铁
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瓷面贴粘结方法对龈上皮损伤的对比研究
2
作者 李先凤 《中外医学研究》 2018年第26期35-36,共2页
目的:比较两种瓷贴面粘结方式,用排龈法和直接抛光法对牙龈上皮损伤的研究。方法:选择于2016年2-7月来笔者所在医院牙科就诊的需要进行瓷面贴患者34例共92颗牙,患者年龄19~46岁。数字随机分组,分为抛光组(46颗)、排龈组(46颗)。对照组... 目的:比较两种瓷贴面粘结方式,用排龈法和直接抛光法对牙龈上皮损伤的研究。方法:选择于2016年2-7月来笔者所在医院牙科就诊的需要进行瓷面贴患者34例共92颗牙,患者年龄19~46岁。数字随机分组,分为抛光组(46颗)、排龈组(46颗)。对照组为修复牙左右两侧远中邻牙的健康牙46颗;抛光组为直接树脂贴面粘结;排龈组为在15 min内,排龈线微创排龈后树脂粘结。操作后2周随访,观察、比较各指标探测深度(probing depth,PD)、Mazza牙龈出血指数(mazza index,MI)、菌斑指数(plaque index,PLI)变化情况。操作后1年,再次复诊观察牙龈外形、着色性。结果:粘结操作后2周,与对照组比较,两种操作方式的Mazza牙龈出血指数、菌斑指数均高,差异有统计学意义(P<0.01),探测深度低,差异有统计学意义(P<0.01);而抛光组及排龈组PD、MI、PLI三项指标比较,差异无统计学意义(P>0.05)。术后1年复诊,所有病例均无显著牙龈缩退、着色。结论:两种操作方式在牙龈出血、炎性反应、探测深度方面,都不同程度损伤了牙龈组织,损害了牙龈的健康程度。而在损伤的程度方面,两种操作方式并无明显差异,临床应用中应个性化选择粘结方法,减少牙龈损伤。 展开更多
关键词 瓷面贴 粘结方法 排龈法 直接抛光法
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