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利用外部电阻法进行瞬态热测试的方法研究 被引量：1
1
作者 赵青 胡家渝 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2018年第7期35-39,共5页
在瞬态热测试方法中,由于T3ster测试仪本机的驱动能力有限,不能直接对大功率半导体器件进行驱动;如果采用小功率半导体器件测量类似模块壳体等大尺寸结构热阻时,由于其散热好,所测得的温差小,信噪比低,瞬态热测试的精度及分辨率均下降... 在瞬态热测试方法中,由于T3ster测试仪本机的驱动能力有限,不能直接对大功率半导体器件进行驱动;如果采用小功率半导体器件测量类似模块壳体等大尺寸结构热阻时,由于其散热好,所测得的温差小,信噪比低,瞬态热测试的精度及分辨率均下降。本文采用外部电阻和热电偶形成加热和温度测试系统,利用电子开关,配合T3ster的控制信号实现了电阻的大功率加热,并完成温度信号采集。实验表明,其测试误差与理论计算值在10%以内,完全满足工程测试需求,且成本低廉。 展开更多
关键词 瞬态热测试方法 热阻 结构函数 热测试 热阻网络 反卷积
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GaN HEMT器件热特性的电学测试法 被引量：7
2
作者 迟雷 茹志芹 +2 位作者 童亮 黄杰 彭浩 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2017年第3期235-240,共6页
基于JEDEC颁布的结到壳热阻瞬态热测试界面法,对测试GaN HEMT器件热特性的电学法进行了研究。通过合理的测试电路设计,有效解决了GaN HEMT器件电学法测试中的栅极保护问题和自激问题,实现了GaN HEMT器件的界面热阻测量。根据测得的热阻... 基于JEDEC颁布的结到壳热阻瞬态热测试界面法,对测试GaN HEMT器件热特性的电学法进行了研究。通过合理的测试电路设计,有效解决了GaN HEMT器件电学法测试中的栅极保护问题和自激问题,实现了GaN HEMT器件的界面热阻测量。根据测得的热阻-热容结构函数曲线可知,GaN HEMT器件结到壳热阻主要由金锡焊接工艺和管壳热特性决定。结合结构函数分析,对金锡焊接部分热阻和管壳热阻进行排序可剔除有工艺缺陷的器件。与红外热成像法的结温测试结果进行对比分析,证实了电学法测试结果的准确性。 展开更多
关键词 GaN HEMT 电学测试法 热特性测试 瞬态热测试界面法 红外热成像法
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高压下碳纳米管阵列与金属接触热阻研究 被引量：2
3
作者 黄正兴 王志刚 张鑫 《大连理工大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第6期638-643,共6页
碳纳米管具有很高的轴向热导率,近年来基于碳纳米管阵列的热界面材料得到了广泛的关注.但碳纳米管阵列与金属间的接触热阻较大,通常在10mm^2·K/W以上,限制了其实际应用.目前通过化学成键等方法可将其界面热阻降至0.6mm^2·K/W... 碳纳米管具有很高的轴向热导率,近年来基于碳纳米管阵列的热界面材料得到了广泛的关注.但碳纳米管阵列与金属间的接触热阻较大,通常在10mm^2·K/W以上,限制了其实际应用.目前通过化学成键等方法可将其界面热阻降至0.6mm^2·K/W,但这些方法都需要牺牲碳纳米管耐高温的特点.为保证其耐高温特性,通过施加压力的方法降低了碳纳米管阵列与金属间的接触热阻.对于高度为800μm的碳纳米管阵列,当压力为1.49 MPa时,测量得到的碳纳米管阵列-Au界面接触热阻为1.90~3.51mm^2·K/W,接近化学成键法的结果并且远小于小压力作用下的热阻,这一结果为进一步减小碳纳米管的接触热阻提供了新的思路. 展开更多
关键词 热界面材料 碳纳米管阵列 接触热阻 瞬态热反射测试
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基于红外热像与电学测试法的OLED热学分析 被引量：3
4
作者 杨连乔 王浪 +2 位作者 陈伟 魏斌 张建华 《光电子．激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第7期1258-1262,共5页
采用红外热成像与瞬态热学测试技术,测试并对比分析了有机电致发光二极管(OLED)的光电热学特性。研究表明,OLED结温的升高会导致输入电压的降低。在输入电流为100 mA时,整个面板上呈现非常明显的温度梯度,最高点与最低点温差可高达30℃... 采用红外热成像与瞬态热学测试技术,测试并对比分析了有机电致发光二极管(OLED)的光电热学特性。研究表明,OLED结温的升高会导致输入电压的降低。在输入电流为100 mA时,整个面板上呈现非常明显的温度梯度,最高点与最低点温差可高达30℃。在相同的工作条件下,采用红外热像测试获得的峰值温度比采用瞬态热学测试获得的温度要高,且温度梯度会随输入电流的大小发生变化。结合红外热像与电学测试法固有特点的分析,指出两者的结合可以为OLED面板的热学设计与分析提供更具有指导意义的信息。 展开更多
关键词 OLED 结温 红外热测试 瞬态热测试
原文传递
桥丝式电火工品无损检测仪的研制 被引量：1
5
作者 黄友锐 胡以华 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2003年第4期63-66,共4页
对桥丝式电火工品的检测 ,一般采用一次性的抽样发火检测 ,这样的破坏性检测耗费极大 ,而且又不十分可靠。本文介绍一种以ADμC81 2单片机为控制核心 ,采用热瞬态测试理论检测桥丝式电火工品的无损检测系统。实践证明 ,该无损检测仪可... 对桥丝式电火工品的检测 ,一般采用一次性的抽样发火检测 ,这样的破坏性检测耗费极大 ,而且又不十分可靠。本文介绍一种以ADμC81 2单片机为控制核心 ,采用热瞬态测试理论检测桥丝式电火工品的无损检测系统。实践证明 ,该无损检测仪可对桥丝式电火工品进行快速、安全、可靠、实时的完全无损检测。 展开更多
关键词 单片机 无损检测 电火工品 热瞬态测试 无损检测仪 研制 桥丝式
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桥丝式电火工品无损检测仪的研制 被引量：1
6
作者 黄友锐 张宏亮 周绩贤 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第z1期142-143,172,共3页
对桥丝式电火工品的检测 ,一般采用一次性的抽样发火检测 ,这样的破坏性检测耗费极大 ,而且又不十分可靠。介绍一种以 ADμC812单片机为控制核心 ,采用热瞬态测试理论检测桥丝式电火工品的无损检测系统。实践证明 ,该无损检测仪可对桥... 对桥丝式电火工品的检测 ,一般采用一次性的抽样发火检测 ,这样的破坏性检测耗费极大 ,而且又不十分可靠。介绍一种以 ADμC812单片机为控制核心 ,采用热瞬态测试理论检测桥丝式电火工品的无损检测系统。实践证明 ,该无损检测仪可对桥丝式电火工品进行快速、安全、可靠。 展开更多
关键词 单片机 无损检测 电火工品 热瞬态测试
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