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“日盲”紫外ICCD的信噪比
被引量:
6
1
作者
周跃
闫丰
+3 位作者
谷勇强
邓博斯
隋永新
杨怀江
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第11期2712-2718,共7页
分析了"日盲"紫外增强型电荷耦合装置(SBUV-ICCD)噪声的来源及特点。考虑SBUV-ICCD工作时系统增益高,单光电子的响应会扩散到CCD邻近像素中去,故将SBUV-ICCD作为线性时不变系统,引入单光电子冲激响应到SBUV-ICCD信噪比计算中...
分析了"日盲"紫外增强型电荷耦合装置(SBUV-ICCD)噪声的来源及特点。考虑SBUV-ICCD工作时系统增益高,单光电子的响应会扩散到CCD邻近像素中去,故将SBUV-ICCD作为线性时不变系统,引入单光电子冲激响应到SBUV-ICCD信噪比计算中,利用傅里叶变换原理推导出其信噪比模型。模型采用了二维高斯函数拟合SBUV-ICCD单光电子冲激响应的方法,较传统间接分析的方法更为简单适用。分析了增益对SBUV-ICCD信噪比的影响,测量了辐照度在10.3~810.6pW/cm2内变化时SBUV-ICCD的信噪比。实验结果表明,该模型的标准差为0.78,可用于SBUV-ICCD的性能分析。
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关键词
紫外iccd
信噪比
光电冲激响应
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职称材料
紫外ICCD的线性测量
被引量:
2
2
作者
赵玉环
闫丰
+3 位作者
娄洪伟
隋永新
杨怀江
曹健林
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第8期88-91,共4页
以辐射度学为理论基础,研究了紫外ICCD(UV-ICCD)的线性测量技术,提出了比较测量方法。参考探测器的光纤端面和UV-ICCD的光敏面置于同一截面内,首先使用线性参考探测器测量辐照度的衰减变化,然后将被测UV-ICCD置于辐照度场中心,记录不同...
以辐射度学为理论基础,研究了紫外ICCD(UV-ICCD)的线性测量技术,提出了比较测量方法。参考探测器的光纤端面和UV-ICCD的光敏面置于同一截面内,首先使用线性参考探测器测量辐照度的衰减变化,然后将被测UV-ICCD置于辐照度场中心,记录不同辐照度下UV-ICCD的输出。最后,直线拟合给出UV-ICCD的灰度输出与输入辐照度关系曲线。参考探测器线性度的好坏直接决定线性测量的精度。为此,采用了非线性度不高于0.2%的科研级光谱仪。测量装置主要由标准氘灯、光学衰减器、积分球、参考探测器、电移台和计算机等组成,测量过程由计算机配套专用软件进行自动控制。实验结果表明,所测UV-ICCD的非线性度不高于3%,比较法测量的不确定度小于5%。
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关键词
紫外iccd
线性
比较测量
参考探测器
不确定度
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职称材料
基于LabVIEW的紫外ICCD相对光谱响应测试
被引量:
3
3
作者
陈雪
周跃
+1 位作者
闫丰
章明朝
《国外电子测量技术》
2014年第4期68-71,共4页
针对传统测试方法自动化程度低、操作复杂的不足,设计了一套基于虚拟仪器的全自动紫外ICCD相对光谱响应测试系统.该系统以高灵敏度的科研级光谱仪QE65000作为参考探测器,以LabVIEW为软件开发平台,将紫外ICCD图像采集、QE65000数据采集...
针对传统测试方法自动化程度低、操作复杂的不足,设计了一套基于虚拟仪器的全自动紫外ICCD相对光谱响应测试系统.该系统以高灵敏度的科研级光谱仪QE65000作为参考探测器,以LabVIEW为软件开发平台,将紫外ICCD图像采集、QE65000数据采集、单色仪控制、位移台控制、试验结果记录和处理等功能融为一体,实现了基于直接比较法的215~400 nm光谱范围的紫外ICCD相对光谱响应的全自动化测量,测量最大不确定度为5.45%.利用该系统对国内、国外ICCD进行了对比测试,为紫外ICCD探测器的甄选、参数性能评价提供了重要参考,也为国内ICCD的改进优化提供了指导.实验证明,该测试系统操作简单、运行稳定、自动化程度高,极大地提高了测试效率.
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关键词
相对光谱响应
LABVIEW
紫外iccd
自动化测试
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职称材料
紫外ICCD面均匀性测试技术研究
被引量:
1
4
作者
赵玉环
闫丰
+3 位作者
周跃
隋永新
杨怀江
曹健林
《光学技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第6期886-888,891,共4页
以辐射度学为理论基础,研究了紫外ICCD(UV-ICCD)面的响应均匀性测试技术。论述了200~300nm UV-IOED面均匀性的测试方案。使用入射口径为100μm的光谱仪对UV-ICCD靶面处的均匀性进行了测试。测试结果表明,靶面处辐照度场的不均匀性不高...
以辐射度学为理论基础,研究了紫外ICCD(UV-ICCD)面的响应均匀性测试技术。论述了200~300nm UV-IOED面均匀性的测试方案。使用入射口径为100μm的光谱仪对UV-ICCD靶面处的均匀性进行了测试。测试结果表明,靶面处辐照度场的不均匀性不高于1.6%。在对靶面处的均匀性进行测试的基础上,对UV-ICCD面的均匀性进行了实际测量,并进行了不确定度分析。结果表明,该方案可应用于UV-ICLD光电探测器件的面均匀性测量。
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关键词
紫外iccd
标准氘灯
面均匀性
原文传递
日盲紫外真空探测器件和组件技术研究
被引量:
2
5
作者
唐家业
方盛江
+2 位作者
颜士飞
徐鹏霄
唐光华
《真空电子技术》
2022年第2期37-44,共8页
日盲紫外探测技术具有增益高、信噪比高、虚警率低、功耗低和体积小等优点,是导弹预警、电晕检测等应用领域的关键核心技术。本文从日盲紫外探测器件的实际应用出发,简述了紫外像增强管、日盲滤光片和日盲紫外ICCD/CMOS组件的结构、技...
日盲紫外探测技术具有增益高、信噪比高、虚警率低、功耗低和体积小等优点,是导弹预警、电晕检测等应用领域的关键核心技术。本文从日盲紫外探测器件的实际应用出发,简述了紫外像增强管、日盲滤光片和日盲紫外ICCD/CMOS组件的结构、技术特点和工艺技术研究进展情况,分析了相关技术的未来发展趋势。
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关键词
日盲
紫外
探测
紫外
像增强管
紫外
滤光片
紫外iccd
/CMOS组件
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职称材料
“日盲”紫外增强型CCD的自动增益控制
被引量:
9
6
作者
章明朝
周跃
+2 位作者
闫丰
隋永新
杨怀江
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第2期496-502,共7页
为使"日盲"紫外增强型电荷耦合器件(SBUV-ICCD)适用于不同辐亮度目标的探测,并避免由于长时间高亮度照射引起的器件损害,提出了适用于SBUV-ICCD的自动增益控制(AGC)算法。应用连续N帧图像直方图求和作为分析对象,将其分为背...
为使"日盲"紫外增强型电荷耦合器件(SBUV-ICCD)适用于不同辐亮度目标的探测,并避免由于长时间高亮度照射引起的器件损害,提出了适用于SBUV-ICCD的自动增益控制(AGC)算法。应用连续N帧图像直方图求和作为分析对象,将其分为背景段、目标段、明亮段及饱和段,使用明亮段与目标段的比例系数及饱和段与明亮段的比例系数为控制参量,完成了AGC算法,并设计实验对其进行了验证。实验结果表明,通过控制饱和系数<0.2,明亮系数在0.4~0.8内,当目标辐亮度突变或缓慢变化时该算法均能够在1~3s内实现增益的调节,在保护相机的同时使图像具有较好的分辨率。
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关键词
日盲
紫外
增强型
iccd
自动增益控制
下载PDF
职称材料
基于像增强器的紫外光谱探测系统中的噪声分析
7
作者
李碧雪
李野
秦旭磊
《应用物理》
CAS
2021年第1期80-93,共14页
为大幅度提升紫外光谱探测的灵敏度,本文将紫外像增强器与CCD器件耦合而成的紫外ICCD与分光组件再次耦合,构成直读式紫外光谱探测系统,并对其进行研究。设计了基于像增强器的紫外光谱探测系统,并分别对紫外像增强器的噪声和CCD相机的噪...
为大幅度提升紫外光谱探测的灵敏度,本文将紫外像增强器与CCD器件耦合而成的紫外ICCD与分光组件再次耦合,构成直读式紫外光谱探测系统,并对其进行研究。设计了基于像增强器的紫外光谱探测系统,并分别对紫外像增强器的噪声和CCD相机的噪声进行了具体分析。研究实验结果表明:曝光时间越长,CCD图像噪声越小,灰度曲线越平滑;反之,曝光时间越短,CCD图像受噪声影响越大,灰度曲线越剧烈。研究发现,帧积分时间的延长,能够有效降低随机噪声,使图像信噪比增高。本文工作为减少噪声对系统的影响从而提高探测效率,极大拓展紫外光谱探测技术的应用领域,同时为微光夜视技术的发展提供依据。
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关键词
紫外
光谱探测
像增强器
紫外iccd
CCD图像
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职称材料
题名
“日盲”紫外ICCD的信噪比
被引量:
6
1
作者
周跃
闫丰
谷勇强
邓博斯
隋永新
杨怀江
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室
中国科学院研究生院
吉林大学电子科学与工程学院
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第11期2712-2718,共7页
基金
吉林省科技发展基金资助项目(No.20080516)
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所三期创新工程资助项目
文摘
分析了"日盲"紫外增强型电荷耦合装置(SBUV-ICCD)噪声的来源及特点。考虑SBUV-ICCD工作时系统增益高,单光电子的响应会扩散到CCD邻近像素中去,故将SBUV-ICCD作为线性时不变系统,引入单光电子冲激响应到SBUV-ICCD信噪比计算中,利用傅里叶变换原理推导出其信噪比模型。模型采用了二维高斯函数拟合SBUV-ICCD单光电子冲激响应的方法,较传统间接分析的方法更为简单适用。分析了增益对SBUV-ICCD信噪比的影响,测量了辐照度在10.3~810.6pW/cm2内变化时SBUV-ICCD的信噪比。实验结果表明,该模型的标准差为0.78,可用于SBUV-ICCD的性能分析。
关键词
紫外iccd
信噪比
光电冲激响应
Keywords
ultraviolet Intensified Charge Coupled Device(
iccd
)
Signal to Noise Ratio(SNR)
photo-electronic pulse response
分类号
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
TN23 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
紫外ICCD的线性测量
被引量:
2
2
作者
赵玉环
闫丰
娄洪伟
隋永新
杨怀江
曹健林
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室
出处
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第8期88-91,共4页
基金
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所三期创新基金资助项目
文摘
以辐射度学为理论基础,研究了紫外ICCD(UV-ICCD)的线性测量技术,提出了比较测量方法。参考探测器的光纤端面和UV-ICCD的光敏面置于同一截面内,首先使用线性参考探测器测量辐照度的衰减变化,然后将被测UV-ICCD置于辐照度场中心,记录不同辐照度下UV-ICCD的输出。最后,直线拟合给出UV-ICCD的灰度输出与输入辐照度关系曲线。参考探测器线性度的好坏直接决定线性测量的精度。为此,采用了非线性度不高于0.2%的科研级光谱仪。测量装置主要由标准氘灯、光学衰减器、积分球、参考探测器、电移台和计算机等组成,测量过程由计算机配套专用软件进行自动控制。实验结果表明,所测UV-ICCD的非线性度不高于3%,比较法测量的不确定度小于5%。
关键词
紫外iccd
线性
比较测量
参考探测器
不确定度
Keywords
UV-
iccd
linearity
comparative measurement
reference detector
uncertainty
分类号
TN23 [电子电信—物理电子学]
O434.12 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
基于LabVIEW的紫外ICCD相对光谱响应测试
被引量:
3
3
作者
陈雪
周跃
闫丰
章明朝
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室
出处
《国外电子测量技术》
2014年第4期68-71,共4页
基金
国家高技术研究发展计划(863计划)(2012AA03A707)资助项目
文摘
针对传统测试方法自动化程度低、操作复杂的不足,设计了一套基于虚拟仪器的全自动紫外ICCD相对光谱响应测试系统.该系统以高灵敏度的科研级光谱仪QE65000作为参考探测器,以LabVIEW为软件开发平台,将紫外ICCD图像采集、QE65000数据采集、单色仪控制、位移台控制、试验结果记录和处理等功能融为一体,实现了基于直接比较法的215~400 nm光谱范围的紫外ICCD相对光谱响应的全自动化测量,测量最大不确定度为5.45%.利用该系统对国内、国外ICCD进行了对比测试,为紫外ICCD探测器的甄选、参数性能评价提供了重要参考,也为国内ICCD的改进优化提供了指导.实验证明,该测试系统操作简单、运行稳定、自动化程度高,极大地提高了测试效率.
关键词
相对光谱响应
LABVIEW
紫外iccd
自动化测试
Keywords
relative spectral responsivity
LabVIEW
UV
iccd
automatic measurement
分类号
TN23 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
紫外ICCD面均匀性测试技术研究
被引量:
1
4
作者
赵玉环
闫丰
周跃
隋永新
杨怀江
曹健林
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室
中国科学院研究生院
出处
《光学技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第6期886-888,891,共4页
基金
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所创新基金资助项目
文摘
以辐射度学为理论基础,研究了紫外ICCD(UV-ICCD)面的响应均匀性测试技术。论述了200~300nm UV-IOED面均匀性的测试方案。使用入射口径为100μm的光谱仪对UV-ICCD靶面处的均匀性进行了测试。测试结果表明,靶面处辐照度场的不均匀性不高于1.6%。在对靶面处的均匀性进行测试的基础上,对UV-ICCD面的均匀性进行了实际测量,并进行了不确定度分析。结果表明,该方案可应用于UV-ICLD光电探测器件的面均匀性测量。
关键词
紫外iccd
标准氘灯
面均匀性
Keywords
ultraviolet
iccd
standard deuterium lamp
surface uniformity
分类号
TN23 [电子电信—物理电子学]
O434.12 [机械工程—光学工程]
原文传递
题名
日盲紫外真空探测器件和组件技术研究
被引量:
2
5
作者
唐家业
方盛江
颜士飞
徐鹏霄
唐光华
机构
中国电子科技集团公司第五十五研究所
出处
《真空电子技术》
2022年第2期37-44,共8页
文摘
日盲紫外探测技术具有增益高、信噪比高、虚警率低、功耗低和体积小等优点,是导弹预警、电晕检测等应用领域的关键核心技术。本文从日盲紫外探测器件的实际应用出发,简述了紫外像增强管、日盲滤光片和日盲紫外ICCD/CMOS组件的结构、技术特点和工艺技术研究进展情况,分析了相关技术的未来发展趋势。
关键词
日盲
紫外
探测
紫外
像增强管
紫外
滤光片
紫外iccd
/CMOS组件
Keywords
Solar-blind
Ultraviolet detection
Ultraviolet image intensifier
Ultraviolet filter
Ultraviolet
iccd
/CMOS assembly
分类号
TN23 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
“日盲”紫外增强型CCD的自动增益控制
被引量:
9
6
作者
章明朝
周跃
闫丰
隋永新
杨怀江
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室
中国科学院研究生院
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第2期496-502,共7页
基金
吉林省科技发展基金资助项目(No.20080516)
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所三期创新工程资助项目
文摘
为使"日盲"紫外增强型电荷耦合器件(SBUV-ICCD)适用于不同辐亮度目标的探测,并避免由于长时间高亮度照射引起的器件损害,提出了适用于SBUV-ICCD的自动增益控制(AGC)算法。应用连续N帧图像直方图求和作为分析对象,将其分为背景段、目标段、明亮段及饱和段,使用明亮段与目标段的比例系数及饱和段与明亮段的比例系数为控制参量,完成了AGC算法,并设计实验对其进行了验证。实验结果表明,通过控制饱和系数<0.2,明亮系数在0.4~0.8内,当目标辐亮度突变或缓慢变化时该算法均能够在1~3s内实现增益的调节,在保护相机的同时使图像具有较好的分辨率。
关键词
日盲
紫外
增强型
iccd
自动增益控制
Keywords
Solar Blind Ultraviolet Enhamed(SBUV)
iccd
Automatic Gain Control(AGC)
分类号
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
TP391.4 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
基于像增强器的紫外光谱探测系统中的噪声分析
7
作者
李碧雪
李野
秦旭磊
机构
长春理工大学理学院
出处
《应用物理》
CAS
2021年第1期80-93,共14页
文摘
为大幅度提升紫外光谱探测的灵敏度,本文将紫外像增强器与CCD器件耦合而成的紫外ICCD与分光组件再次耦合,构成直读式紫外光谱探测系统,并对其进行研究。设计了基于像增强器的紫外光谱探测系统,并分别对紫外像增强器的噪声和CCD相机的噪声进行了具体分析。研究实验结果表明:曝光时间越长,CCD图像噪声越小,灰度曲线越平滑;反之,曝光时间越短,CCD图像受噪声影响越大,灰度曲线越剧烈。研究发现,帧积分时间的延长,能够有效降低随机噪声,使图像信噪比增高。本文工作为减少噪声对系统的影响从而提高探测效率,极大拓展紫外光谱探测技术的应用领域,同时为微光夜视技术的发展提供依据。
关键词
紫外
光谱探测
像增强器
紫外iccd
CCD图像
分类号
TP3 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
“日盲”紫外ICCD的信噪比
周跃
闫丰
谷勇强
邓博斯
隋永新
杨怀江
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009
6
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职称材料
2
紫外ICCD的线性测量
赵玉环
闫丰
娄洪伟
隋永新
杨怀江
曹健林
《光电工程》
CAS
CSCD
北大核心
2008
2
下载PDF
职称材料
3
基于LabVIEW的紫外ICCD相对光谱响应测试
陈雪
周跃
闫丰
章明朝
《国外电子测量技术》
2014
3
下载PDF
职称材料
4
紫外ICCD面均匀性测试技术研究
赵玉环
闫丰
周跃
隋永新
杨怀江
曹健林
《光学技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008
1
原文传递
5
日盲紫外真空探测器件和组件技术研究
唐家业
方盛江
颜士飞
徐鹏霄
唐光华
《真空电子技术》
2022
2
下载PDF
职称材料
6
“日盲”紫外增强型CCD的自动增益控制
章明朝
周跃
闫丰
隋永新
杨怀江
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
9
下载PDF
职称材料
7
基于像增强器的紫外光谱探测系统中的噪声分析
李碧雪
李野
秦旭磊
《应用物理》
CAS
2021
0
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职称材料
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