为了探测从铁磁FM(ferrom agnet)到半导体SM(sem iconductor)的自旋注入效率,可以通过增加另一个铁磁体来形成一个铁磁/半导体/铁磁(FM/SM/FM)的双结,通过直接测量此双结的磁阻效应,从而得到从铁磁(FM)到半导体(SM)节的自旋注入效率。...为了探测从铁磁FM(ferrom agnet)到半导体SM(sem iconductor)的自旋注入效率,可以通过增加另一个铁磁体来形成一个铁磁/半导体/铁磁(FM/SM/FM)的双结,通过直接测量此双结的磁阻效应,从而得到从铁磁(FM)到半导体(SM)节的自旋注入效率。理论分析发现其隧道磁阻TMR(tunnelling m agnetoreresistance)和自旋注入效率SIE(sp in in jection efficiency)之间有个普适关系:隧道磁阻是自旋注入效率的平方。这种平方关系在顺序隧穿区和散射区都成立,除非双结间半导体层厚度很长导致自旋翻转效应的发生或中间的半导体层厚度小于其相位相干长度而导致磁阻中出现量子相干效应。展开更多
利用磁阻效应的非易失性存储器MRAM最近开始复苏,全球很多存储器厂商正在加速开发采用自旋注入反磁化方式的新型MRAM(见图1)。在与磁存储相关的国际会议一第52届磁学与磁性材料年会(52nd Annual Conference on Magnetism and Magnet...利用磁阻效应的非易失性存储器MRAM最近开始复苏,全球很多存储器厂商正在加速开发采用自旋注入反磁化方式的新型MRAM(见图1)。在与磁存储相关的国际会议一第52届磁学与磁性材料年会(52nd Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials,MMM)上,多家厂商相继发布了多种技术方案,可以将自旋注入MRAM的制造工艺提升到45nm-32nm,展开更多
文摘为了探测从铁磁FM(ferrom agnet)到半导体SM(sem iconductor)的自旋注入效率,可以通过增加另一个铁磁体来形成一个铁磁/半导体/铁磁(FM/SM/FM)的双结,通过直接测量此双结的磁阻效应,从而得到从铁磁(FM)到半导体(SM)节的自旋注入效率。理论分析发现其隧道磁阻TMR(tunnelling m agnetoreresistance)和自旋注入效率SIE(sp in in jection efficiency)之间有个普适关系:隧道磁阻是自旋注入效率的平方。这种平方关系在顺序隧穿区和散射区都成立,除非双结间半导体层厚度很长导致自旋翻转效应的发生或中间的半导体层厚度小于其相位相干长度而导致磁阻中出现量子相干效应。
文摘利用磁阻效应的非易失性存储器MRAM最近开始复苏,全球很多存储器厂商正在加速开发采用自旋注入反磁化方式的新型MRAM(见图1)。在与磁存储相关的国际会议一第52届磁学与磁性材料年会(52nd Annual Conference on Magnetism and Magnetic Materials,MMM)上,多家厂商相继发布了多种技术方案,可以将自旋注入MRAM的制造工艺提升到45nm-32nm,