期刊导航
期刊开放获取
重庆大学
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于C8051F500微控制器的逻辑门电路验证系统设计
被引量:
1
1
作者
蔡玉辉
《微处理机》
2023年第1期6-9,共4页
为进一步优化逻辑门电路产品的验证与测试流程,基于C8051F500微控制器,提出一种逻辑门电路验证系统。系统综合运用微控制器技术、通信技术、计算机技术,可输出多路不同频率、相位的信号用作逻辑门电路激励,通过微控制器实时采集逻辑门...
为进一步优化逻辑门电路产品的验证与测试流程,基于C8051F500微控制器,提出一种逻辑门电路验证系统。系统综合运用微控制器技术、通信技术、计算机技术,可输出多路不同频率、相位的信号用作逻辑门电路激励,通过微控制器实时采集逻辑门电路的输出信号,也可在示波器上直接监测输出信号,准确验证与测试电路功能与性能。系统可用于测量与、或、非逻辑门电路及由其构成的其他逻辑门电路,适应性强,操作灵活方便,有助于简化实验人员操作流程。
展开更多
关键词
C8051F500微控制器
逻辑门电路
芯片验证系统
下载PDF
职称材料
基于UVM的可重用SoC功能验证环境
被引量:
9
2
作者
吕毓达
谢雪松
张小玲
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期234-238,共5页
现在系统级芯片(So C)系统集成度和复杂度不断提高,验证环节消耗时间占用了芯片研发时间的70%,芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节。目前业界验证方法大多有覆盖率低和通用性差等缺点,基于上述原因提出了一种新的验证方法。与传统...
现在系统级芯片(So C)系统集成度和复杂度不断提高,验证环节消耗时间占用了芯片研发时间的70%,芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节。目前业界验证方法大多有覆盖率低和通用性差等缺点,基于上述原因提出了一种新的验证方法。与传统验证方法和单纯的通用验证方法学(UVM)不同,该方法结合系统级芯片验证和模块级验证的特点,并且融合UVM和知识产权验证核(VIP)模块验证的验证技术,且使用了So C系统功能仿真模型以提高验证覆盖率和准确性。验证结果表明,同一架构系列So C芯片可以移植于该验证平台中,并且可大幅缩短平台维护与开发时间,采用该验证方法的代码覆盖率为98.9%,功能覆盖率为100%。
展开更多
关键词
通用
验证
方法学(UVM)
CPU功能模型
随机测试向量
系统
级
芯片
验证
系统
级
芯片
(SoC)
原文传递
题名
基于C8051F500微控制器的逻辑门电路验证系统设计
被引量:
1
1
作者
蔡玉辉
机构
中国电子科技集团公司第四十七研究所
出处
《微处理机》
2023年第1期6-9,共4页
文摘
为进一步优化逻辑门电路产品的验证与测试流程,基于C8051F500微控制器,提出一种逻辑门电路验证系统。系统综合运用微控制器技术、通信技术、计算机技术,可输出多路不同频率、相位的信号用作逻辑门电路激励,通过微控制器实时采集逻辑门电路的输出信号,也可在示波器上直接监测输出信号,准确验证与测试电路功能与性能。系统可用于测量与、或、非逻辑门电路及由其构成的其他逻辑门电路,适应性强,操作灵活方便,有助于简化实验人员操作流程。
关键词
C8051F500微控制器
逻辑门电路
芯片验证系统
Keywords
C8051F500 microcontroller
Logic gate circuit
Chip verification system
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
基于UVM的可重用SoC功能验证环境
被引量:
9
2
作者
吕毓达
谢雪松
张小玲
机构
北京工业大学电子信息与控制工程学院
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期234-238,共5页
文摘
现在系统级芯片(So C)系统集成度和复杂度不断提高,验证环节消耗时间占用了芯片研发时间的70%,芯片验证已经成为芯片研发中最关键的环节。目前业界验证方法大多有覆盖率低和通用性差等缺点,基于上述原因提出了一种新的验证方法。与传统验证方法和单纯的通用验证方法学(UVM)不同,该方法结合系统级芯片验证和模块级验证的特点,并且融合UVM和知识产权验证核(VIP)模块验证的验证技术,且使用了So C系统功能仿真模型以提高验证覆盖率和准确性。验证结果表明,同一架构系列So C芯片可以移植于该验证平台中,并且可大幅缩短平台维护与开发时间,采用该验证方法的代码覆盖率为98.9%,功能覆盖率为100%。
关键词
通用
验证
方法学(UVM)
CPU功能模型
随机测试向量
系统
级
芯片
验证
系统
级
芯片
(SoC)
Keywords
universal verification methodology(UVM)
CPU function model
random test vectors
system chip verification
system on chip(So C)
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于C8051F500微控制器的逻辑门电路验证系统设计
蔡玉辉
《微处理机》
2023
1
下载PDF
职称材料
2
基于UVM的可重用SoC功能验证环境
吕毓达
谢雪松
张小玲
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015
9
原文传递
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部