薄层介质干燥过程内部水分扩散 被引量：10

1

作者 肖美添 朱艳 刘华信 《华侨大学学报（自然科学版）》 CAS 2003年第2期184-188,共5页

以海带作为薄层介质的试样 ,进行对流干燥实验 .根据单项指数模型 ,计算干燥过程中介质内部水分的有效扩散系数 .建立物料内水分扩散微分方程及边界条件 ,用有限差分法进行数值求解 ,模拟计算结果与实验结果相吻合 .研究结果有利于深入... 以海带作为薄层介质的试样 ,进行对流干燥实验 .根据单项指数模型 ,计算干燥过程中介质内部水分的有效扩散系数 .建立物料内水分扩散微分方程及边界条件 ,用有限差分法进行数值求解 ,模拟计算结果与实验结果相吻合 .研究结果有利于深入分析和理解物料的干燥特性 。 展开更多

关键词 海带 薄层介质 干燥过程 水分扩散 有效扩散系数 有限差分法 脱水能力

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覆盖薄层介质平面导体上的表面波

2

作者 徐长龙 颜锦奎 徐得名 《上海大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 1997年第5期521-526,共6页

本文根据Ｃｏｌｉｎ提出的等效传输线电路法对薄层介质覆盖平面导体的表面阻抗、表面波传输衰减与介质参数的关系进行分析。

关键词 表面波 等效传输线法 平面导体 薄层介质

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在水平多层薄层介质的电性模型中等效原理的一种普遍形式及其证明

3

作者 杨云飞 陈大元 《地球物理学报》 CSCD 北大核心 1994年第A02期501-510,共10页

在包含薄层的水平多层电性剖面中，存在着一种较普遍的等效公式及其规则的限制条件，对此进行了证明和数值验证．该公式包括了目前已知的Ｓ等效和Ｈ等效两种极端情况，而且其范围更广．

关键词 等效 视电阻率曲线 电法勘探 薄层介质 电性模型

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针对薄层介质的多极漫射模型扩展 被引量：1

4

作者 吴一帆 杨旭波 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2015年第3期228-236,共9页

多极(Multipole)漫射模型能较准确地模拟半透明介质的次表面散射现象,但并不适用于厚度接近或小于一个平均自由程(MFP)的薄层介质。为此,在Multipole漫射模型的基础上扩展该模型使之适用于薄层介质。根据Multipole漫射模型所依赖的假设... 多极(Multipole)漫射模型能较准确地模拟半透明介质的次表面散射现象,但并不适用于厚度接近或小于一个平均自由程(MFP)的薄层介质。为此,在Multipole漫射模型的基础上扩展该模型使之适用于薄层介质。根据Multipole漫射模型所依赖的假设条件,针对薄层介质加以修改,将光线分解为直接透射和漫射部分,并调整Multipole放置点光源的方式,使之更符合薄层介质中光传输的特征。使用修改后的光源计算漫射部分,而直接透射部分则采用狄拉克δ分布来近似。对扩展方法和传统Multipole以及蒙特卡罗方法进行分布数值和实际渲染效果的对比,在处理厚度接近或小于一个MFP的薄层介质时,扩展方法的结果均较传统Multipole更吻合蒙特卡罗方法的结果,可直接和现有Multipole模型实现集成。 展开更多

关键词 次表面散射 半透明 薄层介质 漫射模型 反射分布 平均自由程

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薄层介质视AVA效应

5

作者 Kees Wapenaar 张广娟 《石油物探译丛》 2000年第5期1-15,共15页

地下细密分层引起地震反射资料视振幅随角度的变化(AVA)。反射的视AVA效应与传播的视AVA效应的区别在于:薄层组的反射同与基于角度的子波干涉有关;通过薄层介质的波的传播同基于角度的子波频散有关。显然以上两种视AVA效应都隐藏于视AV... 地下细密分层引起地震反射资料视振幅随角度的变化(AVA)。反射的视AVA效应与传播的视AVA效应的区别在于:薄层组的反射同与基于角度的子波干涉有关;通过薄层介质的波的传播同基于角度的子波频散有关。显然以上两种视AVA效应都隐藏于视AVA对介质弹性参数的反演中。由于地震数据带宽的限制,与反射有关的于涉效应不能被消除。但在与角度有关的偏移方法成像过程中,可运用基于角度的滤波对整个传播角度进行均衡。假设源函数已知,且源的方向效应在偏移前得到补偿。与传播有关的频散效应可通过运用向下外推法中的广义逆一次波传播算子得以补偿。包括上述改进的基于角度的偏移可产生一个与角度有关且薄层视AVA效应被压制的反射率剖面。 展开更多

关键词 薄层介质 视AVA效应 AVA补偿 地震勘探

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基于反射信号时域重构的探地雷达超薄层状介质参数反演方法 被引量：4

6

作者 李奕璇 兰天 +1 位作者 杨小鹏 刘仁杰 《信号处理》 CSCD 北大核心 2021年第10期1952-1960,共9页

探地雷达实际应用场景中介质表面往往存在着其他覆盖物,将会严重影响实际探测效果,如冬季路面表面的冰层、沥青铺路时防止沥青混合物粘在滚筒表面而喷出的水汽层等,且这些覆盖层的厚度较薄,通常小于探地雷达可分辨的最小厚度。因此,本... 探地雷达实际应用场景中介质表面往往存在着其他覆盖物,将会严重影响实际探测效果,如冬季路面表面的冰层、沥青铺路时防止沥青混合物粘在滚筒表面而喷出的水汽层等,且这些覆盖层的厚度较薄,通常小于探地雷达可分辨的最小厚度。因此,本文提出了一种基于反射信号时域重构的层状介质参数反演方法,利用广义反射系数建立雷达发射回波的时域模型,再通过遗传算法对模型的代价函数进行优化进而反演出覆盖物薄层的参数。最后,通过时域差分工具gprMax仿真软件模拟沥青混凝土实施铺路场景,对所提算法的有效性和准确性进行验证分析。 展开更多

关键词 薄层介质反演 广义反射系数 探地雷达 遗传算法

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高k材料用作纳米级MOS晶体管栅介质薄层(下)

7

作者 翁妍 汪辉 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期93-97,共5页

随着45 nm及32 nm技术节点的来临,高介电常数(high-k)材料成为代替SiO2作为栅介质薄层材料的较好选择,但是大多数高k材料是离子金属氧化物,其基本物理性能和材料特性不仅导致了很多不可靠因素,还会造成电学性能的损失。简述了高k材料的... 随着45 nm及32 nm技术节点的来临,高介电常数(high-k)材料成为代替SiO2作为栅介质薄层材料的较好选择,但是大多数高k材料是离子金属氧化物,其基本物理性能和材料特性不仅导致了很多不可靠因素,还会造成电学性能的损失。简述了高k材料的一些电学性能以及频率变化的电荷泵技术在高k栅介质薄层探测到的缺陷深度,总结了高k材料的基本限制及主要问题,并且介绍了未来技术节点的可能解决方案。 展开更多

关键词 栅介质薄层 高介电常数 电学结果

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高k材料用作纳米级MOS晶体管栅介质薄层(上)

8

作者 翁妍 汪辉 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期1-5,共5页

随着45 nm和32 nm技术节点的来临,传统的SiO2作为栅介质薄膜材料的厚度需缩小到1 nm之下,材料的绝缘性、可靠性等受到了极大的挑战,已不能满足技术发展的要求。高k材料成为代替SiO2作为栅介质薄层材料的不错选择,但是大多数高k材料是离... 随着45 nm和32 nm技术节点的来临,传统的SiO2作为栅介质薄膜材料的厚度需缩小到1 nm之下,材料的绝缘性、可靠性等受到了极大的挑战,已不能满足技术发展的要求。高k材料成为代替SiO2作为栅介质薄层材料的不错选择,但是大多数高k材料是离子金属氧化物,其基本物理和材料特性导致产生很多不可靠因素。从高k材料的基本物理和材料特性角度,回顾了高k材料代替SiO2用作纳米级MOS晶体管栅介质薄层时产生的主要不可靠因素及根本原因。 展开更多

关键词 栅介质薄层 高介电常数 可靠性

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节点修正FDTD法计算薄层色散介质涂覆目标的雷达散射截面

9

作者 马亚平 秦卫平 《电子器件》 CAS 北大核心 2013年第4期447-449,共3页

在FDTD计算中,当色散介质薄层厚度小于一个元胞时,利用将电位移矢量和磁感应强度加权平均的方法,求出薄层所在元胞的等效参数,从而在二维FDTD中实现了色散介质薄层的节点修正法。通过与细网格的计算结果比较,证明该方法能处理薄层厚度... 在FDTD计算中,当色散介质薄层厚度小于一个元胞时,利用将电位移矢量和磁感应强度加权平均的方法,求出薄层所在元胞的等效参数,从而在二维FDTD中实现了色散介质薄层的节点修正法。通过与细网格的计算结果比较,证明该方法能处理薄层厚度小于一个元胞的色散介质薄层。计算了金属方柱涂覆薄层洛伦兹介质的雷达散射截面。 展开更多

关键词 时域有限差分法 色散介质薄层 节点修正法 雷达散射截面

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多层介质天线罩的数值分析 被引量：9

10

作者 刘莹 谢拥军 《电波科学学报》 EI CSCD 北大核心 2011年第3期550-555,共6页

针对含有多层薄层介质的电大尺寸多尺度问题计算的难点,提出了多层薄层介质的等效阻抗边界条件,该边界条件计入了薄层介质引起的电磁场幅度和相位的变化,可简化含多层薄层介质电磁结构的计算,解决多层天线罩薄层介质引起的剖分奇异化问... 针对含有多层薄层介质的电大尺寸多尺度问题计算的难点,提出了多层薄层介质的等效阻抗边界条件,该边界条件计入了薄层介质引起的电磁场幅度和相位的变化,可简化含多层薄层介质电磁结构的计算,解决多层天线罩薄层介质引起的剖分奇异化问题,实现多层天线罩对于天线性能影响的数值研究。 展开更多

关键词 多层薄层介质边界条件 天线罩 数值计算

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薄层多孔层内池沸腾液体回流机理分析 被引量：1

11

作者 员盼锋 史琳 +1 位作者 晋中华 杨培军 《发电设备》 2013年第5期307-310,共4页

为探讨薄层多孔层内池沸腾时的液体回流机理,通过光滑平板和不同薄层多孔介质的池沸腾实验,获得了多孔介质表面气泡沸腾特性和池沸腾曲线,结合实验结果计算了薄层多孔介质层内液体的最大回液流速、毛细极限,并分析了多孔介质层内液体回... 为探讨薄层多孔层内池沸腾时的液体回流机理,通过光滑平板和不同薄层多孔介质的池沸腾实验,获得了多孔介质表面气泡沸腾特性和池沸腾曲线,结合实验结果计算了薄层多孔介质层内液体的最大回液流速、毛细极限,并分析了多孔介质层内液体回流机理及毛细极限的形成机理。研究结果表明:多孔介质存在弯液膜,回液流速高,不易出现局部干涸;多孔介质毛细压力和渗透率越大,回液效果越好;单核化点回液不足后,核化密度增大,回液仍不足后出现局部干涸,即出现毛细极限。 展开更多

关键词 薄层多孔介质 池沸腾 液体回流 毛细极限

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基于U型结构的单模光纤SPR折射率传感器 被引量：2

12

作者 薛萌 刘琨 +3 位作者 王涛 常鹏翔 江俊峰 刘铁根 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第10期53-58,共6页

设计了一种基于U型结构的单模光纤表面等离子体共振折射率传感器,采用在移除部分包层并弯曲成U型固定后的单模光纤表面镀金纳米层和TiO2调制层的方式,实现表面等离子体共振的激发.利用有限元仿真软件COMSOL Multiphysics,研究了不同弯... 设计了一种基于U型结构的单模光纤表面等离子体共振折射率传感器,采用在移除部分包层并弯曲成U型固定后的单模光纤表面镀金纳米层和TiO2调制层的方式,实现表面等离子体共振的激发.利用有限元仿真软件COMSOL Multiphysics,研究了不同弯曲半径和TiO2调制层厚度对传感性能的影响.通过对四种弯曲半径(R=0.3cm,0.5cm,0.8cm,1cm)的分析,结果表明随着弯曲半径增大,表面等离子体共振信号强度增大且峰值波长有微小的蓝移.在弯曲半径为0.5cm的条件下,研究了TiO2调制层厚度从0变化到40nm对传感器性能的影响,结果表明随着TiO2调制层厚度增大,表面等离子体共振峰峰值波长红移且对外界折射率变化的灵敏度显著增大.在弯曲半径为0.5cm,TiO2调制层厚度为40nm的条件下,传感器在低折射率区(nd=1.333)灵敏度达到了5 959nm/RIU,高折射率区(nd=1.383)灵敏度达到了11 092nm/RIU.与没有调制层的结果相比,灵敏度提高了一倍左右. 展开更多

关键词 光纤传感器 表面等离子体共振 有限元方法 电介质薄层 多层膜

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IMEC在高k/金属栅上的进展

13

作者 Laura Peters 《集成电路应用》 2008年第3期56-56,共1页

在IEEE国际电子器件会议（IEDM）上,IMEC报告了一项重大进展,即在32nm节点上,利用铪基高k介质和TaC金属栅极可显著提高平面CMOS的性能。通过在栅介质和金属栅之间增加一薄层介质盖可获得较低的阈值电压（Vt）和导带及价带间的有效功函数... 在IEEE国际电子器件会议（IEDM）上,IMEC报告了一项重大进展,即在32nm节点上,利用铪基高k介质和TaC金属栅极可显著提高平面CMOS的性能。通过在栅介质和金属栅之间增加一薄层介质盖可获得较低的阈值电压（Vt）和导带及价带间的有效功函数（WF）。此外,栅叠层的激光退火过程明显降低了最小的可能栅长,增强了对短沟效应的控制能力。 展开更多

关键词 金属栅极 薄层介质 电子器件 IEEE CMOS 阈值电压 退火过程 短沟效应

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基于移位算子时域有限差分的色散薄层节点修正算法 被引量：4

14

作者 魏兵 董宇航 +1 位作者 王飞 李存志 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2010年第4期2443-2450,共8页

提出了一种时域有限差分(FDTD)计算中色散介质薄层问题处理的新算法.对于厚度小于一个元胞尺度的电小尺寸色散介质薄层问题,采用将元胞内电位移矢量和磁感应强度加权平均的方法,求得薄层所在元胞内修正点处的等效介质参数.然后根据常见... 提出了一种时域有限差分(FDTD)计算中色散介质薄层问题处理的新算法.对于厚度小于一个元胞尺度的电小尺寸色散介质薄层问题,采用将元胞内电位移矢量和磁感应强度加权平均的方法,求得薄层所在元胞内修正点处的等效介质参数.然后根据常见色散介质模型,包括Debye模型、Lorenz模型、Drude模型等,介电常数和磁导率可以表示为jω分式多项式的特点,结合频域到时域的转换关系(即用/t代替jω)和移位算子方法得到了修正点处的时域本构关系,进而获得时域递推计算式.数值结果表明,该方法具有通用、节省计算时间、节省内存和计算精度良好等优点. 展开更多

关键词 色散介质薄层 节点修正 移位算子 时域有限差分

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中望发布首款电磁仿真软件:中望Sim-EM,成掌握CAE核心技术软件企业

15

《中国机电工业》 2019年第9期82-83,共2页

“中望Sim-EM采用先进的EIT(Embedded Integral Technique)嵌入式积分技术,克服了传统FDTD算法在模拟弯曲金属界面和介质界面时的梯形误差以及共形FDTD算法稳定性要求导致时间步长降低的效率问题,可以准确模拟薄层无限薄层任意曲面金属... “中望Sim-EM采用先进的EIT(Embedded Integral Technique)嵌入式积分技术,克服了传统FDTD算法在模拟弯曲金属界面和介质界面时的梯形误差以及共形FDTD算法稳定性要求导致时间步长降低的效率问题,可以准确模拟薄层无限薄层任意曲面金属及任意多薄层介质,从而大幅度提高仿真效率,降低内存消耗,带来更精准的仿真结果。” 展开更多

关键词 电磁仿真软件 软件企业 技术 CAE FDTD算法 薄层介质 金属界面 算法稳定性

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