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迈克耳孙干涉仪测薄透明体厚度和折射率 被引量：3
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作者 邓晓颖 《西安工业学院学报》 2004年第4期383-385,共3页
　提出用迈克耳孙干涉仪同时测量薄透明体厚度和折射率的新方法.根据本方法,当插入迈克耳孙干涉仪光路中的被测透明体与光路呈不同夹角时,对应光程变化可通过等倾干涉圆环的变化定量测量.推导出圆环数、薄透明体与光路夹角、厚度、折射... 　提出用迈克耳孙干涉仪同时测量薄透明体厚度和折射率的新方法.根据本方法,当插入迈克耳孙干涉仪光路中的被测透明体与光路呈不同夹角时,对应光程变化可通过等倾干涉圆环的变化定量测量.推导出圆环数、薄透明体与光路夹角、厚度、折射率关系,据此可测得薄透明体厚度和折射率.使用此方法,光学系统只需在测量前校准,测量中不再变动,可进一步降低系统误差. 展开更多
关键词 迈克耳孙干涉仪 单色光 折射率 薄透明体厚度
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