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深空探测超宽光谱定标黑体源研制
1
作者 董惠文 张家平 +3 位作者 练敏隆 肖大舟 王伟刚 鲁越晖 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第2期127-139,共13页
针对深空探测超宽光谱定标黑体源的关键技术问题,构建了一种基于优化微结构和纳米超黑涂层的深空探测星上黑体定标源。基于有限元方法仿真,验证了微锥结构不同宽高比与黑体发射率间的对应关系,确定了周期性线阵V槽结构相对于平面结构在... 针对深空探测超宽光谱定标黑体源的关键技术问题,构建了一种基于优化微结构和纳米超黑涂层的深空探测星上黑体定标源。基于有限元方法仿真,验证了微锥结构不同宽高比与黑体发射率间的对应关系,确定了周期性线阵V槽结构相对于平面结构在黑体发射率方面的提升作用。优化星上黑体源高发射率微结构,优选空间超黑高发射涂层,设计星上黑体源高精度测温系统,进而完成黑体源工程设计。最后,通过星上黑体源发射率计量及实验室辐射定标稳定性测试进行验证。检测结果表明,深空探测超宽光谱定标黑体源具有超宽光谱范围、高发射率、高温度稳定性等特点,其光谱范围为5~50μm,法向平均发射率为0.986,温度稳定性达到0.16 K。该定标黑体源可大幅提升高发射率辐射定标源的光谱范围,为深空探测载荷的在轨高精度星上辐射定标提供支撑。 展开更多
关键词 深空探测 定标 超宽光谱 高发射率 PID控温 高稳定性
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超宽光谱成像系统的实践应用及思考
2
作者 吴春涛 高博 王伟 《警察技术》 2024年第1期68-71,共4页
利用超宽光谱技术搜索、发现、固定和提取各类犯罪现场的手印、足迹等痕迹物证和各类生物物证,已经成为案(事)件现场勘查的一个有力的技术手段,同时也助推了智慧新刑技的建设和发展。研究以CSI-3999型超宽光谱物证搜索摄录系统为例,介... 利用超宽光谱技术搜索、发现、固定和提取各类犯罪现场的手印、足迹等痕迹物证和各类生物物证,已经成为案(事)件现场勘查的一个有力的技术手段,同时也助推了智慧新刑技的建设和发展。研究以CSI-3999型超宽光谱物证搜索摄录系统为例,介绍应用实例,为智慧新刑技的建设和应用提供思路。 展开更多
关键词 超宽光谱 发现能力 应用范围 实践应用
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YbF_(3)和YF_(3)薄膜在0.4~14μm超宽光谱内光学常数反演 被引量：1
3
作者 郑志奇 潘永强 +4 位作者 刘欢 杨伟荣 何子阳 李栋 周泽林 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2021年第11期323-328,共6页
为了获得红外低折射率材料的光学常数,采用电子束热蒸发技术在多光谱硫化锌基底上以不同的基底温度分别制备了单层氟化钇(YF_(3))和氟化镱(YbF_(3))薄膜。通过分光光度计和傅里叶变换红外光谱仪分别测试其在可见至远红外波段的透射率光... 为了获得红外低折射率材料的光学常数,采用电子束热蒸发技术在多光谱硫化锌基底上以不同的基底温度分别制备了单层氟化钇(YF_(3))和氟化镱(YbF_(3))薄膜。通过分光光度计和傅里叶变换红外光谱仪分别测试其在可见至远红外波段的透射率光谱曲线,使用包络法和色散模型拟合相结合的方法对其在可见至红外波段的光学常数进行了反演,得到了其在0.4~14μm波段内的折射率与消光系数。采用椭偏测试结果验证了YF_(3)和YbF_(3)薄膜在0.4~1.6μm波段内的光学常数正确性;将拟合得到的光学常数代入TFCalc膜系设计软件,计算得到的单层薄膜的透射率光谱曲线与实测的光谱曲线吻合较好。实验结果表明,该方法获得的在超宽光谱0.4~14μm范围内的光学常数准确、可靠。 展开更多
关键词 光学常数 超宽光谱 色散模型 包络法 椭圆偏振法
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生物基底材料的超宽频带太赫兹光谱研究 被引量：2
4
作者 张亮亮 张锐 +1 位作者 黄素霞 张存林 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第2期346-349,共4页
作为一种新兴的方式,太赫兹时域光谱和成像已经被广泛应用到研究不同生物组织的光学特性。在空气等离子体处施加偏置电场对太赫兹波脉冲进行外差式相干检测(air-biased-coherent-detection,ABCD)的太赫兹系统具有超宽频带和可以在较远... 作为一种新兴的方式,太赫兹时域光谱和成像已经被广泛应用到研究不同生物组织的光学特性。在空气等离子体处施加偏置电场对太赫兹波脉冲进行外差式相干检测(air-biased-coherent-detection,ABCD)的太赫兹系统具有超宽频带和可以在较远距离进行成像的优点,十分适用于对生物组织进行超宽谱研究,而对生物组织进行光谱测量通常需要基底材料。利用太赫兹ABCD系统对四种典型的基底材料(石英,高密度聚乙烯,聚四氟乙烯和石蜡)的光学参数进行测定,并计算其在1~15THz频率范围内的吸收系数和折射率。结果表明,高密度聚乙烯和石蜡可以很好的被用作生物组织超宽频带太赫兹光谱测量的基底材料。同时,虽然石英和聚四氟乙烯都是窄带(0.1~3THz)太赫兹系统中常用的基底材料,但是由于它们在高于5THz的频率范围内对太赫兹波具有较强的吸收,所以不能用作超宽频带太赫兹光谱测量的基底材料。 展开更多
关键词 超宽频带太赫兹光谱 基底材料 生物应用
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外差式相干探测时域光谱仪对磷化铟(InP)晶片的超宽频带太赫兹光谱的探测 被引量：1
5
作者 张亮亮 张锐 +1 位作者 徐晓燕 张存林 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第2期322-325,共4页
磷化铟（InP）属于Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料,在毫米波的应用中展示出了高性能,在非线性太赫兹器件应用上具有很大的潜力。以前关于InP的研究主要集中于太赫兹频率在0.1~4THz的频率范围内,在4~10THz频率范围内InP的太赫兹光学数据还是空... 磷化铟（InP）属于Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料,在毫米波的应用中展示出了高性能,在非线性太赫兹器件应用上具有很大的潜力。以前关于InP的研究主要集中于太赫兹频率在0.1~4THz的频率范围内,在4~10THz频率范围内InP的太赫兹光学数据还是空白。该研究利用空气等离子体相干探测太赫兹波的时域光谱系统研究了无掺杂的InP晶片在超宽THz频率范围（0.5~18THz）内的光学特性,实验中用电离的空气作为太赫兹的发射器和探测器,利用可以调制的局部偏压诱导二次谐波产生,使在气体中太赫兹波的相干探测成为可能,明显提高了系统的动态范围和灵敏度。产生的太赫兹频谱宽度主要被激光脉冲持续时间所限制,太赫兹脉冲通过InP晶片后相对于参考脉冲会延迟,同时振幅会降低。另外,太赫兹信号的频谱振幅在6.7~12.1THz范围内下降到本底噪声。同时还可以看出InP晶片在6.7~12.1THz频率范围内不透光,在0.8~6.7THz以及12.1~18THz频率范围内InP的吸收系数相对较低,特别是在15~17.5THz范围内吸收系数很低并且保持相对稳定,与此同时它的折射率单调增加。这些发现将有助于基于InP晶片的非线性太赫兹器件设计。 展开更多
关键词 磷化铟 超宽频带太赫兹光谱 光学特性
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超宽波段透射式中继镜头设计
6
作者 范翔 赵森 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2022年第6期905-908,共4页
瞄准镜、高温炉内窥镜、复印镜头、大倍率变焦系统等光学系统中,通常采用中继系统实现系统的延长、转向和系统出入瞳的匹配等等。本文探索了一种实现超宽带宽中继光学系统的像差矫正要求、玻璃选择方法以及设计结果,完成了超宽波段中继... 瞄准镜、高温炉内窥镜、复印镜头、大倍率变焦系统等光学系统中,通常采用中继系统实现系统的延长、转向和系统出入瞳的匹配等等。本文探索了一种实现超宽带宽中继光学系统的像差矫正要求、玻璃选择方法以及设计结果,完成了超宽波段中继光学系统的设计,Zemax的设计结果表明,在工作波段0.4~1.7μm,物方NA=0.2,视场为10 mm的要求内,系统的MTF接近于衍射极限,轴向色差小于40μm,成像质量较好。 展开更多
关键词 超宽光谱范围 中继系统 玻璃选择
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用于产生太赫超宽边带光谱的新型电／光调制器 被引量：4
7
作者 郭凤珍 于长泰 汪伟 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第7期935-938,共4页
报道了利用周期性的极性反转技术制作准速度匹配型电／光调制器，并以这种调制器产生超宽边带光谱的结果。电光晶体ＬｉＴａＯ３的极性分布周期反转之后，在１６．２５ＧＨｚ的调制频率下，实现了微波与光波的准速度匹配，可以不局限于... 报道了利用周期性的极性反转技术制作准速度匹配型电／光调制器，并以这种调制器产生超宽边带光谱的结果。电光晶体ＬｉＴａＯ３的极性分布周期反转之后，在１６．２５ＧＨｚ的调制频率下，实现了微波与光波的准速度匹配，可以不局限于调制频率的高低，从而在增加相互作用长度的前提下充分提高调制效率，调制度已达到５７ｒａｄ，产生的宽边带光谱的半值全宽为１．８５ＴＨｚ。 展开更多
关键词 电/光调制器 超宽边带光谱 超短光脉冲
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ITO薄膜的电阻并联效应研究 被引量：1
8
作者 王松林 杨崇民 +3 位作者 张建付 李缘 米高园 刘青龙 《半导体光电》 CAS 北大核心 2020年第6期850-854,共5页
采用电子束蒸发镀膜方法在K9玻璃基底上分别镀制了ITO/SiO2/ITO,ITO/Ti2O3/ITO和ITO/MgF2/ITO结构的多层薄膜,用四探针方块电阻仪测量薄膜表面的方块电阻,用原子力显微镜观测样品的表面微观形貌。结果显示,当ITO薄膜的粗糙度较大且介质... 采用电子束蒸发镀膜方法在K9玻璃基底上分别镀制了ITO/SiO2/ITO,ITO/Ti2O3/ITO和ITO/MgF2/ITO结构的多层薄膜,用四探针方块电阻仪测量薄膜表面的方块电阻,用原子力显微镜观测样品的表面微观形貌。结果显示,当ITO薄膜的粗糙度较大且介质薄膜的物理厚度小于100nm时,各层ITO薄膜之间通过山峰状的凸起结构相连通,导致样片表面的方块电阻测量值与各层ITO薄膜电阻的并联值相当。这表明,当ITO薄膜的粗糙度较大且介质薄膜厚度较小时,各层ITO薄膜表现出电阻并联效应。利用多层ITO薄膜的电阻并联效应设计并制备了450~1 200nm超宽光谱透明导电薄膜,用四探针方块电阻仪测量了试验样片的表面方块电阻,用紫外-可见-近红外分光光度计测试了样片的光谱透射率。结果显示,在相同表面方块电阻条件下,相比于单层ITO薄膜,利用ITO薄膜电阻并联效应所制备的多层透明导电薄膜具有更高的光谱透射率。 展开更多
关键词 电子束蒸发 ITO薄膜 方块电阻 超宽光谱
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