期刊文献+
共找到3篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
漏电低软度大的4500 V FRD设计 被引量:1
1
作者 高东岳 张大华 +3 位作者 叶枫叶 周东海 骆健 陈英毅 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2023年第1期40-45,共6页
为了满足4500 V快恢复二极管(Fast recovery diode,FRD)反向偏置漏电低、反向恢复软度大的应用要求,介绍了一种新的FRD设计方法。该设计通过优化阳极掺杂,采用轻离子辐照和电子辐照相结合的寿命控制方式来增加FRD的反向恢复软度,降低FR... 为了满足4500 V快恢复二极管(Fast recovery diode,FRD)反向偏置漏电低、反向恢复软度大的应用要求,介绍了一种新的FRD设计方法。该设计通过优化阳极掺杂,采用轻离子辐照和电子辐照相结合的寿命控制方式来增加FRD的反向恢复软度,降低FRD的元胞漏电流,并通过台阶形场板保护环结构来降低保护环的漏电流。采用203.2 mm(8英寸)平面栅加工工艺制作芯片并封装成4500 V/3000 A FRD模块,模块在高温125℃下的正向压降为3.1 V,反向偏置漏电流为10 mA,反向恢复能量为5300 mJ,反向恢复软度为1.24,反向恢复电流下降速度为6000 A/μs时,承受的极限功率可达8 MW。 展开更多
关键词 反向偏置漏电流 反向恢复软度 轻离子辐照 电子辐照 台阶形场板
原文传递
高压半导体功率器件的寿命控制工程述评 被引量:6
2
作者 贾云鹏 亢宝位 +1 位作者 吴郁 吴鹤 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 2003年第6期89-91,共3页
对应用于高压功率器件的寿命控制技术进行了述评。着重分析了高能H+辐照、He2+辐照等局域寿命控制技术,利用这种技术有可能实现高压功率器件突破性的进展。
关键词 半导体 半导体元器件/寿命控制技术 轻离子辐照
下载PDF
漏电低软度大的3300V FRD设计
3
作者 高东岳 叶枫叶 +3 位作者 张大华 骆健 周东海 冯会会 《中国集成电路》 2022年第3期61-65,共5页
为了满足3300 V FRD反向漏电低,反向恢复软度大的应用要求,本文介绍了一种新的FRD设计。该设计通过优化阳极掺杂,采用轻离子辐照和电子辐照相结合的寿命控制方式来增加FRD的反向恢复软度,降低FRD的漏电流,通过台阶形场板保护环结构来降... 为了满足3300 V FRD反向漏电低,反向恢复软度大的应用要求,本文介绍了一种新的FRD设计。该设计通过优化阳极掺杂,采用轻离子辐照和电子辐照相结合的寿命控制方式来增加FRD的反向恢复软度,降低FRD的漏电流,通过台阶形场板保护环结构来降低保护环的漏电流。采用8英寸平面栅加工工艺得到的芯片封装成了3300 V/1500 A FRD模块。模块在高温150℃下的V_(F)为2.18 V,漏电流I_(R)为10 mA,反向恢复能量(E_(rec))为1665 mJ,关断软度为3.67,反向恢复极限di/dt为8000A/us时承受的功率可达3210 kW。 展开更多
关键词 反向漏电流 软度 轻离子辐照 电子辐照 台阶形场板
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部