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高光谱图像辐射位深残差量化及其对地物分类影响分析
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作者 王娟 张爱武 +1 位作者 张希珍 陈云生 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第3期872-882,共11页
目前的研究大多集中在高光谱图像(HSI)的空间和光谱分辨率的提升及应用上,很少关注辐射分辨率的综合运用。辐射分辨率反映传感器接收地物辐射能量动态变化的范围,探测地物辐射能量的微小变化,同样包含着丰富的地物信息。该研究提出了一... 目前的研究大多集中在高光谱图像(HSI)的空间和光谱分辨率的提升及应用上,很少关注辐射分辨率的综合运用。辐射分辨率反映传感器接收地物辐射能量动态变化的范围,探测地物辐射能量的微小变化,同样包含着丰富的地物信息。该研究提出了一种高光谱图像辐射位深残差量化(HSI radiation bit depth residual quantization method)方法,构建出高光谱图像不同辐射位深层级的位深特征图像(LHSI)及其残差图像(RHSI),并通过实验综合运用高光谱不同辐射位深层级的位深特征图像和残差图像及其组合进行地物分类,并分析其对地物分类精度的影响。实验表明,在保证一定分类精度的基础上,辐射位深为9 bit的位深特征图像,保留了原始高光谱图像的主要信息;辐射位深为4 bit的残差图像,比原始高光谱图像更突出地物细节信息;13 bit的位深特征图像与3 bit的残差图像的组合,既能保留原始高光谱图像的主要信息又能突出地物细节。 展开更多
关键词 高光谱图像 辐射分辨率 辐射位深残差量化 地物分类
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