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集成电路芯片制造技术与工艺分析
1
作者 李强 《数字技术与应用》 2023年第12期46-48,共3页
当前我国集成电路产业发展迅速,在手机通信、新能源汽车、航空航天、人工智能等领域中发挥着关键作用。同时,各行业对半导体芯片的精确性、可靠性等方面的标准不断提高,推动着芯片行业产生更多的新型需求。基于此,本文主要介绍集成电路... 当前我国集成电路产业发展迅速,在手机通信、新能源汽车、航空航天、人工智能等领域中发挥着关键作用。同时,各行业对半导体芯片的精确性、可靠性等方面的标准不断提高,推动着芯片行业产生更多的新型需求。基于此,本文主要介绍集成电路芯片制造技术与工艺,以期能够为我国集成电路芯片发展提供助力。集成电路芯片是现代高科技产业的核心组成部分,通过大力发展集成电路芯片制造,不仅有利于推动国内各领域产业的升级和转型,还有利于增强国家信息安全与自主可控能力,提高国家的综合实力。 展开更多
关键词 集成电路芯片 半导体芯片 集成电路产业 人工智能 航空航天 手机通信 高科技产业 新能源汽车
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混合式教学模式中《集成电路芯片测试》课程评价指标体系的构建与应用研究
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作者 周娇 张海平 +2 位作者 艾宴清 丘聪 李世国 《中国科技期刊数据库 科研》 2023年第4期0034-0037,共4页
随着网络技术的高速发展,混合式教学模式已经成为高职教育的新模式。依托《集成电路芯片测试》课程,以“知识与技能”、“过程与方法”和“情感态度与价值”三个教学目标为导向,构建基于混合式学习模式的高职专业课程教学评价指标体系... 随着网络技术的高速发展,混合式教学模式已经成为高职教育的新模式。依托《集成电路芯片测试》课程,以“知识与技能”、“过程与方法”和“情感态度与价值”三个教学目标为导向,构建基于混合式学习模式的高职专业课程教学评价指标体系。教学实践后的调查数据显示,该课程评价指标体系能够实现过程性考核和终结性评价的有机结合,获得科学有效的教学反馈。 展开更多
关键词 混合式教学 课程评价 体系改革 集成电路芯片测试 职业教育
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集成电路芯片测试课程的混合式教学实践
3
作者 周娇 张海平 +2 位作者 艾宴清 丘聪 李世国 《中文科技期刊数据库(全文版)教育科学》 2023年第7期0014-0017,共4页
阐述了《集成电路芯片测试》课程教学中,依托“智慧职教云课堂”网络教学平台,从教学设计与建设、组织实施及评价考核等方面研究探索线上线下混合式教学的建设思路与构建方法,总结实践经验与教学反思。《集成电路芯片测试》是高职院校... 阐述了《集成电路芯片测试》课程教学中,依托“智慧职教云课堂”网络教学平台,从教学设计与建设、组织实施及评价考核等方面研究探索线上线下混合式教学的建设思路与构建方法,总结实践经验与教学反思。《集成电路芯片测试》是高职院校微电子学院集成电路专业开设的一门专业基础课,目前国内高职院校关于集成电路测试的课程,内容多偏重于理论。传统的教学过程和教学方法使得高职学生对学习集成电路芯片测试的测试电路设计、测试工程建立以及测试代码开发等内容掌握不强,教学效果差强人意。造成这种结果的原因主要是高职学生的理论基础相对薄弱,而且将理论应用到实践过程的自主意识也不够。因此,需要根据高职教育的特点改进传统教学方法,将传统教学模式与互联网技术深度融合,进行线上线下混合式教学改革,激发学生们的学习兴趣,赋予他们更大的学习自主性和灵活性,最终提高学生对集成电路芯片的综合测试能力。 展开更多
关键词 信息技术 混合式教学 集成电路芯片测试 职业教育
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赵晓辉 勇闯集成电路芯片研制新路
4
作者 高艳飞 《当代贵州》 2023年第40期41-41,共1页
贡献者·事迹赵晓辉,贵州振华风光半导体股份有限公司党委副书记。他带领有50多年历史的三线企业,闯出集成电路芯片研制的新路,承担国家级科研项目100余项,研发多款替代国外封锁的高端集成电路,推出200余款国产化产品,解决了装备配... 贡献者·事迹赵晓辉,贵州振华风光半导体股份有限公司党委副书记。他带领有50多年历史的三线企业,闯出集成电路芯片研制的新路,承担国家级科研项目100余项,研发多款替代国外封锁的高端集成电路,推出200余款国产化产品,解决了装备配套急需。2022年,公司获评国家级专精特新“小巨人”企业。 展开更多
关键词 集成电路芯片 赵晓 三线企业 国家级科研 专精特新 装备配套 贡献者 半导体
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超大规模集成电路芯片的激光缺陷检测技术研究
5
作者 沈智慧 《中文科技期刊数据库(全文版)工程技术》 2023年第9期0044-0046,共3页
超大规模集成电路芯片的激光缺陷检测技术是一种通过使用激光来检测集成电路芯片上的缺陷和欠缺的技术。这项技术可以帮助生产商在生产过程中及时发现并修复芯片上的缺陷,提高芯片的质量和性能。激光缺陷检测技术使用激光器对集成电路... 超大规模集成电路芯片的激光缺陷检测技术是一种通过使用激光来检测集成电路芯片上的缺陷和欠缺的技术。这项技术可以帮助生产商在生产过程中及时发现并修复芯片上的缺陷,提高芯片的质量和性能。激光缺陷检测技术使用激光器对集成电路芯片进行照射,激光的功率和频率可以根据需要进行调节。激光照射后,通过激光反射或透射的特征来检测芯片上的缺陷,对反射或透射光进行分析,可以确定芯片的质量和性能,更好的为芯片的生产制造带来参考。因此,本文在研究中将进一步展开对芯片缺陷以及激光缺陷检测技术的分析,在此基础上,探讨超大规模集成电路芯片的激光缺陷检测技术,更好的确定芯片缺陷的类型和程度,提高集成电路芯片质量。 展开更多
关键词 超大规模 集成电路芯片 激光缺陷检测技术
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集成电路芯片管脚尺寸自动检测的研究与实现 被引量:5
6
作者 左建中 张新荣 +1 位作者 王刚 张钢 《制造业自动化》 2000年第9期28-29,40,共3页
集成电路芯片管脚尺寸是否合格,是芯片自动化安装的关键。本文应用机器视觉和机械自动化技术,研制自动检测设备,实现集成电路芯片管脚尺寸检测自动化。实验测试表明,该设备具有较高的检测精度和检测速度,检测结果满足生产要求。
关键词 集成电路芯片 管脚尺寸自动检测 机器视觉
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自动检测集成电路芯片系统设备的集成研究 被引量:2
7
作者 左建中 李乃华 +2 位作者 王刚 张新荣 张钢 《制造业自动化》 2000年第11期30-33,共4页
在制造业中,加工检测设备功能重复,工序重叠是常见的情况。本文研究将集成电路芯片制造厂的两套自动检测系统设备合并成为一套自动检测设备。实验表明,集成后的系统设备用一个检测工时可完成原来两套检测系统设备用两个检测工时的检... 在制造业中,加工检测设备功能重复,工序重叠是常见的情况。本文研究将集成电路芯片制造厂的两套自动检测系统设备合并成为一套自动检测设备。实验表明,集成后的系统设备用一个检测工时可完成原来两套检测系统设备用两个检测工时的检测项目,检测效率可提高一倍,所用设备数目可减少 1/2,厂房占用面积可节省 1/2,可显著降低芯片生产成本,对制造业提高生产效益有重要参考意义。 展开更多
关键词 管脚尺寸 系统集成 集成电路芯片 自动检测
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试论集成电路芯片生产的职业卫生管理 被引量:2
8
作者 高金平 吴世达 胡天锡 《中国卫生工程学》 CAS 2004年第1期3-6,共4页
目的 探讨集成电路芯片制造中容易导致泄漏和火灾的各项职业病危害要素的管理策略以及应急事故管理策略。方法 对现有的集成电路芯片制造业采取的安全卫生防护措施及管理方法进行收集和分析。结果 提出适当和切实可行的职业安全卫生... 目的 探讨集成电路芯片制造中容易导致泄漏和火灾的各项职业病危害要素的管理策略以及应急事故管理策略。方法 对现有的集成电路芯片制造业采取的安全卫生防护措施及管理方法进行收集和分析。结果 提出适当和切实可行的职业安全卫生防护重点以及如何加强化学物质、特殊气体、物理因素、生产设备、操作人员、废弃物、应急事故、监测监护和教育培训等管理策略。结论 集成电路芯片制造中职业病危害是可以预防和控制的。 展开更多
关键词 集成电路芯片 职业卫生 卫生管理 职业病 芯片制造 集成电路
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集成电路芯片产业分工模式的新演进与模块化研发 被引量:8
9
作者 王一鸣 《科学管理研究》 CSSCI 北大核心 2019年第3期65-69,共5页
集成电路(IC)芯片是工业大脑。在集成电路芯片领域,产业分工模式不断演进,芯片设计与制造模式从早期的全产业链(IDM)模式到代工制造(Foundry)、无工厂设计(Fabless)模式演进到最近的无芯片设计(Chipless)模式。我国当前的芯片核心研发... 集成电路(IC)芯片是工业大脑。在集成电路芯片领域,产业分工模式不断演进,芯片设计与制造模式从早期的全产业链(IDM)模式到代工制造(Foundry)、无工厂设计(Fabless)模式演进到最近的无芯片设计(Chipless)模式。我国当前的芯片核心研发领域薄弱,在面对美国的'贸易战'中处于不利地位。迫切需要借助无芯片设计模式,结合模块化的研发生产方式,形成围绕核心企业的芯片设计的大网络生态,突破芯片研发技术壁垒,从而推动我国的集成电路芯片产业快速提升。 展开更多
关键词 集成电路芯片 模块化研发 网络 战略
原文传递
集成电路芯片信息泄漏旁路分析模型 被引量:2
10
作者 陈开颜 赵强 +1 位作者 张鹏 周开民 《微计算机信息》 北大核心 2006年第06S期74-75,166,共3页
旁路分析可以绕过对加解密算法的繁琐的分析,通过分析泄漏的信号而获取芯片密码信息。其关键问题在于掌握芯片运行过程中泄漏信息的机理,进而建立统计分析泄漏信号的信息泄漏模型。本文研究讨论集成电路芯片物理信息泄漏的机理,并据此... 旁路分析可以绕过对加解密算法的繁琐的分析,通过分析泄漏的信号而获取芯片密码信息。其关键问题在于掌握芯片运行过程中泄漏信息的机理,进而建立统计分析泄漏信号的信息泄漏模型。本文研究讨论集成电路芯片物理信息泄漏的机理,并据此建立了信息泄漏旁路分析模型。 展开更多
关键词 旁路分析 侧信道分析 信息泄漏模型 集成电路芯片
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集成电路芯片引脚外观自动检测系统的研究 被引量:1
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作者 姚兴田 刘建峰 +1 位作者 邱自学 周一丹 《机械设计与制造》 北大核心 2010年第11期205-206,共2页
基于集成电路芯片引脚外观检测的需要,开发了自动检测系统。介绍了系统的组成、硬件结构、软件流程。该系统由芯片自动输送线、芯片拾取吸臂、机器视觉系统、良品与不良品分选臂、良品补给装置等组成,由工控机通过PLC控制技术,实现芯片... 基于集成电路芯片引脚外观检测的需要,开发了自动检测系统。介绍了系统的组成、硬件结构、软件流程。该系统由芯片自动输送线、芯片拾取吸臂、机器视觉系统、良品与不良品分选臂、良品补给装置等组成,由工控机通过PLC控制技术,实现芯片上料、输送、外观检测、分选、卸料等的全自动化。该系统可检测芯片引脚在空间的11个尺寸参数,具有检测精度高、产品更换快速、操作简便等优点,适用于QFP封装集成电路芯片引脚外观的自动检测,可显著提高生产效率及产品质量。 展开更多
关键词 集成电路芯片 引脚外观 视觉检测 自动化
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半导体集成电路芯片质量与可靠性保证方法 被引量:8
12
作者 刘锐 姚世锋 《兵工自动化》 2013年第6期17-19,共3页
针对国内目前没有专门用于保证半导体集成电路芯片质量与可靠性要求的相关标准,相应测试、可靠性研究水平也较为落后的情况,对半导体集成电路芯片质量与可靠性保证方法进行研究。介绍半导体集成电路芯片质量与可靠性保证方面的国际、国... 针对国内目前没有专门用于保证半导体集成电路芯片质量与可靠性要求的相关标准,相应测试、可靠性研究水平也较为落后的情况,对半导体集成电路芯片质量与可靠性保证方法进行研究。介绍半导体集成电路芯片质量与可靠性保证方面的国际、国内标准与技术水平现状,提出在目前技术水平下需从设计、工艺、筛选验证3个方面保证半导体集成电路芯片质量与可靠性,在筛选验证方面提出芯片筛选、封装样品考核相结合的方式。结果表明,该方法能满足混合集成电路、多芯片组件对半导体集成电路芯片的质量与可靠性要求。 展开更多
关键词 半导体集成电路芯片 质量 可靠性
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集成电路芯片管脚尺寸自动检测系统的状态分析 被引量:1
13
作者 张新荣 左建中 张钢 《制造业自动化》 2002年第4期20-22,共3页
机器视觉自动检测系统的稳定性将直接影响产品检测的质量。本文根据随机过程的理论,利 用SAS软件对研究开发的集成用路芯片管脚尺寸检测系统的工作状态进行了分析测试。测试 结果表明,整个系统的测量结果是一个具有各态历经性的平稳随... 机器视觉自动检测系统的稳定性将直接影响产品检测的质量。本文根据随机过程的理论,利 用SAS软件对研究开发的集成用路芯片管脚尺寸检测系统的工作状态进行了分析测试。测试 结果表明,整个系统的测量结果是一个具有各态历经性的平稳随机过程,因此,我们利用一段 样本值就能估计整个过程的均值和标准差,从而获得整个过程的性质。 展开更多
关键词 集成电路芯片管脚尺寸自动检测系统 状态分析 视觉检测 平稳随机过程 各态历经性
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基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的研究设计分析 被引量:5
14
作者 贾应炜 《现代电子技术》 2014年第17期97-99,共3页
基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议,利用RFID集成电路芯片设计了一个系统,从软硬件两个方面进行设计调试,并配合优化方案解决设计问题,最终... 基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议,利用RFID集成电路芯片设计了一个系统,从软硬件两个方面进行设计调试,并配合优化方案解决设计问题,最终结果表明设计系统运行效果佳,稳定性好,对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。 展开更多
关键词 集成电路芯片测试系统 设计 ISO14443A协议 RFID集成电路
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集成电路芯片热机械应力特征研究 被引量:2
15
作者 苏胜新 杜新纲 乔彦彬 《电子产品世界》 2014年第11期26-27,共2页
本文在试验和理论两个方面,系统研究了芯片热机械应力特征。作者利用红外热成像技术研究了芯片内部热机械应力随工作电流的瞬态变化关系,发现芯片热机械应力随工作电流呈对数增长。同时本文利用有限元方法模拟计算了芯片热机械应力在不... 本文在试验和理论两个方面,系统研究了芯片热机械应力特征。作者利用红外热成像技术研究了芯片内部热机械应力随工作电流的瞬态变化关系,发现芯片热机械应力随工作电流呈对数增长。同时本文利用有限元方法模拟计算了芯片热机械应力在不同电流密度下与总工作电流的关系,从而验证了上述实验结论,并发现随着电流密度增加芯片内部热机械应力上升速率变快。 展开更多
关键词 集成电路芯片 热机械应力 红外热成像技术 有限元方法
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废弃电路板双列直插式封装的集成电路芯片回收的经济性分析
16
作者 刘志峰 朱一 +2 位作者 宋守许 王玉琳 刘光复 《环境污染与防治》 CAS CSCD 北大核心 2011年第3期6-10,共5页
废弃电路板电子元件拆除后回收具有较大的利润空间。回收的双列直插式封装(DIP)电子元件多数都保留正常的使用功能,经过适当的处理,检测合格后可以继续使用。提出了基于回收策略的废弃电路板DIP的集成电路(IC)芯片回收工艺,建立了回收... 废弃电路板电子元件拆除后回收具有较大的利润空间。回收的双列直插式封装(DIP)电子元件多数都保留正常的使用功能,经过适当的处理,检测合格后可以继续使用。提出了基于回收策略的废弃电路板DIP的集成电路(IC)芯片回收工艺,建立了回收经济性评估模型,并对2种回收的IC芯片进行经济性定量评价。 展开更多
关键词 集成电路芯片 经济性评价 回收 废弃电路 双列直插式封装
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数字集成电路芯片微机检测法 被引量:1
17
作者 蒋万君 《现代电子技术》 2002年第4期18-20,共3页
用可编程并行接口 82 5 5 A设计一个 PC机的接口电路 ,该电路用来检测数字集成电路芯片的好坏 ,具有成本低、效率高。
关键词 数字集成电路芯片 微机检测法 组合逻辑电路 时序逻辑电路
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GaAs集成电路芯片在片直接故障检测分析
18
作者 田小建 张大明 +1 位作者 孙伟 衣茂斌 《激光杂志》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期23-24,共2页
介绍了一种实用的电光采样测试系统 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 5 2mV/Hz。改进了电子移相扫描法 ,利用倍频移相扫描法对GaAs动态分频器芯片故障进行了在片检测分析。
关键词 集成电路芯片 故障检测 砷化镓
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面向普适医疗的低功耗医学集成电路芯片设计 被引量:3
19
作者 王磊 《中国医疗器械信息》 2010年第6期21-24,共4页
1工作背景——科学含义、研究现状、需求分析等 系统芯片(system—on—chip)设计在国内外得到了越来越多的重视。所谓系统芯片,即将尽可能多的集成电路知识产权(IP)模块集成到一片单硅片上。目前,系统芯片有向两个方面发展的趋... 1工作背景——科学含义、研究现状、需求分析等 系统芯片(system—on—chip)设计在国内外得到了越来越多的重视。所谓系统芯片,即将尽可能多的集成电路知识产权(IP)模块集成到一片单硅片上。目前,系统芯片有向两个方面发展的趋势,一方面,继续遵循Moore’s Law,即利用最新的集成电路加工工艺, 展开更多
关键词 集成电路芯片 设计 低功耗 医学 医疗 需求分析 知识产权 加工工艺
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用于GaAs高速集成电路芯片的电光采样分析仪
20
作者 田小建 孙伟 衣茂斌 《电子测量与仪器学报》 CSCD 2000年第4期45-48,共4页
本文介绍了一种实用的电光采集分析仪 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 52mV/Hz ,空间分辨率 3μm ,测量带宽 2 0GHz。用此分析仪对GaAs高速动态二分频器芯片进行了在片测试 ,其测量波形与理论分析... 本文介绍了一种实用的电光采集分析仪 ,其稳定的光学系统结构可保持精度几年不变 ,单位带宽电压灵敏度为 2 52mV/Hz ,空间分辨率 3μm ,测量带宽 2 0GHz。用此分析仪对GaAs高速动态二分频器芯片进行了在片测试 ,其测量波形与理论分析一致。 展开更多
关键词 电光采样 集成电路芯片 分析仪
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