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EFPI腔内损耗对干涉条纹可见度的影响 被引量：1
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作者 王文辕 尹汝海 +3 位作者 邸志刚 朱开宇 刘佳宇 安永丽 《光纤与电缆及其应用技术》 2007年第5期6-8,共3页
利用多光束干涉原理和几何光学方法,分析了非本征F-P干涉仪(EFPI)腔内损耗对干涉仪的影响,详细推导了EFPI腔长与反射光干涉条纹可见度之间的关系,确定了在可测条纹可见度的要求下EFPI腔长的范围。
关键词 非本征f—p干涉仪 损耗 条纹可见度
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