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基于主动学习和U-Net++分割的芯片封装空洞率的研究
1
作者
齐选龙
陈弘扬
+2 位作者
赵文兵
赵地
高敬阳
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2023年第S01期332-337,共6页
内焊球空洞是BGA封装芯片的主要缺陷,可能会导致电气故障。目前,常用的检测方法是人工对照芯片X光影像检查,此类方法检测准确率低且时间、人力资源消耗大。因此,基于深度学习的自动化芯片缺陷检测方法越来越受到关注。芯片空洞检测与语...
内焊球空洞是BGA封装芯片的主要缺陷,可能会导致电气故障。目前,常用的检测方法是人工对照芯片X光影像检查,此类方法检测准确率低且时间、人力资源消耗大。因此,基于深度学习的自动化芯片缺陷检测方法越来越受到关注。芯片空洞检测与语义分割任务对应,但受限于数据缺乏高质量标注,模型准确率通常偏低,主动学习框架是潜在的解决方案。文中基于主动学习和U-Net++构建了芯片空洞率检测模型,通过等距划分将数据集分为多个子集,每个子集采用训练-预测-标注-扩展的框架循环优化U-Net++模型。在BGA封装芯片数据集上进行实验,模型分割平均Dice系数达到了80.99%,总体准确率达到了94.89%,达到了预定目标。首次将主动学习引入芯片检测领域,经实验验证可以有效提升芯片数据的标注水平,使得模型的分割准确率有所提高。
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关键词
内焊球空洞
主动学习
图像分割
目标检测
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职称材料
微尺寸SnAg凸点的制备技术及其互连可靠性
被引量:
5
2
作者
林小芹
朱大鹏
罗乐
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第1期168-173,共6页
用电镀法制备了尺寸小于100μm的面阵列Sn-3.0Ag凸点.芯片内凸点的高度一致性约1.42%,Φ100mm硅圆片内的高度一致性约3.57%,Ag元素在凸点中分布均匀.研究了不同回流次数下SnAg/Cu的界面反应和孔洞形成机理,及其对凸点连接可靠性的影响....
用电镀法制备了尺寸小于100μm的面阵列Sn-3.0Ag凸点.芯片内凸点的高度一致性约1.42%,Φ100mm硅圆片内的高度一致性约3.57%,Ag元素在凸点中分布均匀.研究了不同回流次数下SnAg/Cu的界面反应和孔洞形成机理,及其对凸点连接可靠性的影响.回流过程中SnAg与Cu之间Cu6Sn5相的生长与奥氏熟化过程相似.SnAg/Cu6Sn5界面中孔洞形成的主要原因是相转变过程中发生的体积缩减.凸点的剪切强度随着回流次数的增多而增大,且多次回流后SnAg/Cu界面仍然结合牢固.Cu6Sn5/Cu平直界面中形成的孔洞对凸点的长期可靠性构成威胁.
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关键词
SNAG
凸点
金属间化合物
孔洞
可靠性
多次回流
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职称材料
探测出隐藏各种缺陷的空洞检测系统
3
作者
杨建生
陈建军
《国外电子测量技术》
2005年第11期33-34,共2页
本文主要介绍了专用于探查晶圆片凸点空洞的装置———德国FeinFocus公司的WBIFOX型自动化X射线检查系统。并简要叙述了此装置的主要特征和应用前景。
关键词
晶圆片凸点空洞
检查系统
特征
应用
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职称材料
探测出隐藏各种缺陷的空洞检测系统
4
作者
杨建生
陈建军
《电子质量》
2005年第2期21-21,9,共2页
本文主要介绍了专用于探查晶圆片凸点空洞的装置——德国FeinFocus公司的WBI-FOX型自动化X射线检查系统。并简要叙述了此装置的主要特征和应用前景。
关键词
inFocus公司
凸点
晶圆
空洞
探测
X射线检查
缺陷
隐藏
检测系统
自动化
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职称材料
压浆技术在市政桥头处理中的应用
5
作者
王新辉
《交通科技与经济》
2011年第4期41-43,共3页
江苏省某市跨线桥桥头由于填筑和工期的影响,通车后出现桥头挡墙不均匀沉降、桥头搭板脱空的现象,桥头跳车严重。通过对挡墙基础和桥头搭板采用压浆处理,然后对局部路面进行铣刨加铺,有效地解决桥头跳车的发生。
关键词
压浆处理
桥头跳车
搭板脱空
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职称材料
BGA焊点气孔缺陷的特殊结构光质量检测
被引量:
1
6
作者
袁肇飞
曹其新
杨扬
《微型电脑应用》
2008年第10期32-33,26,共3页
为了解决球栅阵列(BGA)焊点气孔缺陷的在线检测问题,开发了一种特殊的结构光检测技术。同时用环形红光和十字形绿光发射二极管(LED)照明BGA芯片,通过环形和十字形的中心,布置一个带有远心透镜的电荷耦合器(CCD)摄像机记录小球上红色圆...
为了解决球栅阵列(BGA)焊点气孔缺陷的在线检测问题,开发了一种特殊的结构光检测技术。同时用环形红光和十字形绿光发射二极管(LED)照明BGA芯片,通过环形和十字形的中心,布置一个带有远心透镜的电荷耦合器(CCD)摄像机记录小球上红色圆环和绿色十字的图像。根据图像半径方向上的纹理频谱分布特征,引入人工神经网络(ANN)算法对BGA芯片的气孔缺陷进行检测。采用真实的BGA焊点进行实验,结果验证了方法的精度和可行性。
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关键词
球栅阵列(BGA)
焊点
气孔
反光表面
检测
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职称材料
压力注浆在某桥头处理中的应用
7
作者
王新辉
《河北交通职业技术学院学报》
2010年第2期54-56,共3页
江苏省某市立交桥桥头由于填筑和工期的影响,通车一年后出现桥头挡墙不均匀沉降、桥头搭板脱空的现象,桥头跳车严重。通过对挡墙基础和桥头搭板采用压浆处理,然后对局部路面进行铣刨加铺,有效地解决了桥头跳车的发生。
关键词
压浆处理
桥头跳车
搭板脱空
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职称材料
题名
基于主动学习和U-Net++分割的芯片封装空洞率的研究
1
作者
齐选龙
陈弘扬
赵文兵
赵地
高敬阳
机构
北京工业大学
北京化工大学
中国科学院计算技术研究所
中国科学院大学
出处
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2023年第S01期332-337,共6页
基金
中国科学院计算技术研究所-华为联合实验室项目(YBN2020055088)。
文摘
内焊球空洞是BGA封装芯片的主要缺陷,可能会导致电气故障。目前,常用的检测方法是人工对照芯片X光影像检查,此类方法检测准确率低且时间、人力资源消耗大。因此,基于深度学习的自动化芯片缺陷检测方法越来越受到关注。芯片空洞检测与语义分割任务对应,但受限于数据缺乏高质量标注,模型准确率通常偏低,主动学习框架是潜在的解决方案。文中基于主动学习和U-Net++构建了芯片空洞率检测模型,通过等距划分将数据集分为多个子集,每个子集采用训练-预测-标注-扩展的框架循环优化U-Net++模型。在BGA封装芯片数据集上进行实验,模型分割平均Dice系数达到了80.99%,总体准确率达到了94.89%,达到了预定目标。首次将主动学习引入芯片检测领域,经实验验证可以有效提升芯片数据的标注水平,使得模型的分割准确率有所提高。
关键词
内焊球空洞
主动学习
图像分割
目标检测
Keywords
bump void
Active learning
Image segmentation
Object Detection
分类号
TP399 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
微尺寸SnAg凸点的制备技术及其互连可靠性
被引量:
5
2
作者
林小芹
朱大鹏
罗乐
机构
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第1期168-173,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(批准号:60676061)~~
文摘
用电镀法制备了尺寸小于100μm的面阵列Sn-3.0Ag凸点.芯片内凸点的高度一致性约1.42%,Φ100mm硅圆片内的高度一致性约3.57%,Ag元素在凸点中分布均匀.研究了不同回流次数下SnAg/Cu的界面反应和孔洞形成机理,及其对凸点连接可靠性的影响.回流过程中SnAg与Cu之间Cu6Sn5相的生长与奥氏熟化过程相似.SnAg/Cu6Sn5界面中孔洞形成的主要原因是相转变过程中发生的体积缩减.凸点的剪切强度随着回流次数的增多而增大,且多次回流后SnAg/Cu界面仍然结合牢固.Cu6Sn5/Cu平直界面中形成的孔洞对凸点的长期可靠性构成威胁.
关键词
SNAG
凸点
金属间化合物
孔洞
可靠性
多次回流
Keywords
SnAg
solder
bump
intermetallic compound
void
s
reliability
multi-reflow
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
探测出隐藏各种缺陷的空洞检测系统
3
作者
杨建生
陈建军
机构
天水华天微电子有限公司
出处
《国外电子测量技术》
2005年第11期33-34,共2页
文摘
本文主要介绍了专用于探查晶圆片凸点空洞的装置———德国FeinFocus公司的WBIFOX型自动化X射线检查系统。并简要叙述了此装置的主要特征和应用前景。
关键词
晶圆片凸点空洞
检查系统
特征
应用
Keywords
Wafer
bump void
s, inspection system, features, applications.
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
P421.33 [天文地球—大气科学及气象学]
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职称材料
题名
探测出隐藏各种缺陷的空洞检测系统
4
作者
杨建生
陈建军
机构
天水华天微电子有限公司
出处
《电子质量》
2005年第2期21-21,9,共2页
文摘
本文主要介绍了专用于探查晶圆片凸点空洞的装置——德国FeinFocus公司的WBI-FOX型自动化X射线检查系统。并简要叙述了此装置的主要特征和应用前景。
关键词
inFocus公司
凸点
晶圆
空洞
探测
X射线检查
缺陷
隐藏
检测系统
自动化
Keywords
Wafer
bump void
s
inspection system
features
applications.
分类号
TP274.4 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
压浆技术在市政桥头处理中的应用
5
作者
王新辉
机构
东南大学建筑设计研究院交通分院
出处
《交通科技与经济》
2011年第4期41-43,共3页
文摘
江苏省某市跨线桥桥头由于填筑和工期的影响,通车后出现桥头挡墙不均匀沉降、桥头搭板脱空的现象,桥头跳车严重。通过对挡墙基础和桥头搭板采用压浆处理,然后对局部路面进行铣刨加铺,有效地解决桥头跳车的发生。
关键词
压浆处理
桥头跳车
搭板脱空
Keywords
grouting treatment
bump
ing at bridge head
void
under bridge end plate
分类号
U445.7 [建筑科学—桥梁与隧道工程]
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职称材料
题名
BGA焊点气孔缺陷的特殊结构光质量检测
被引量:
1
6
作者
袁肇飞
曹其新
杨扬
机构
上海交通大学机器人研究所
出处
《微型电脑应用》
2008年第10期32-33,26,共3页
文摘
为了解决球栅阵列(BGA)焊点气孔缺陷的在线检测问题,开发了一种特殊的结构光检测技术。同时用环形红光和十字形绿光发射二极管(LED)照明BGA芯片,通过环形和十字形的中心,布置一个带有远心透镜的电荷耦合器(CCD)摄像机记录小球上红色圆环和绿色十字的图像。根据图像半径方向上的纹理频谱分布特征,引入人工神经网络(ANN)算法对BGA芯片的气孔缺陷进行检测。采用真实的BGA焊点进行实验,结果验证了方法的精度和可行性。
关键词
球栅阵列(BGA)
焊点
气孔
反光表面
检测
Keywords
Ball grid array (BGA)
bump
void
Specular surface
Inspection
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
压力注浆在某桥头处理中的应用
7
作者
王新辉
机构
东南大学建筑设计研究院交通分院
出处
《河北交通职业技术学院学报》
2010年第2期54-56,共3页
文摘
江苏省某市立交桥桥头由于填筑和工期的影响,通车一年后出现桥头挡墙不均匀沉降、桥头搭板脱空的现象,桥头跳车严重。通过对挡墙基础和桥头搭板采用压浆处理,然后对局部路面进行铣刨加铺,有效地解决了桥头跳车的发生。
关键词
压浆处理
桥头跳车
搭板脱空
Keywords
grouting treatment
bump
ing at bridge head
void
under bridge end plate
分类号
U416.1 [交通运输工程—道路与铁道工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于主动学习和U-Net++分割的芯片封装空洞率的研究
齐选龙
陈弘扬
赵文兵
赵地
高敬阳
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2023
0
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职称材料
2
微尺寸SnAg凸点的制备技术及其互连可靠性
林小芹
朱大鹏
罗乐
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
5
下载PDF
职称材料
3
探测出隐藏各种缺陷的空洞检测系统
杨建生
陈建军
《国外电子测量技术》
2005
0
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职称材料
4
探测出隐藏各种缺陷的空洞检测系统
杨建生
陈建军
《电子质量》
2005
0
下载PDF
职称材料
5
压浆技术在市政桥头处理中的应用
王新辉
《交通科技与经济》
2011
0
下载PDF
职称材料
6
BGA焊点气孔缺陷的特殊结构光质量检测
袁肇飞
曹其新
杨扬
《微型电脑应用》
2008
1
下载PDF
职称材料
7
压力注浆在某桥头处理中的应用
王新辉
《河北交通职业技术学院学报》
2010
0
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职称材料
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