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LDO芯片CP通用测试方法研究 被引量：1
1
作者 唐彩彬 张凯虹 《电子与封装》 2017年第11期15-18,共4页
介绍了LDO(线性稳压器)的通用测试方法。基于长川CTA8280测试系统,通过对芯片CP(圆测试)要求进行分析,设计了某款LDO芯片的测试外围,实现了对该LDO芯片功能与性能的测试。该方案能够作为通用测试方法供LDO芯片测试设计参考。
关键词 LDO cta8280 CP 熔丝
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基于ATE的电源芯片Multi-Site测试设计与实现 被引量：3
2
作者 唐彩彬 《电子与封装》 2016年第11期14-17,26,共5页
介绍了电源芯片的多Site测试设计与实现。基于CTA8280测试系统,通过对芯片CP(晶圆测试)要求进行分析,设计了8 Site测试电路外围,能够实现对晶圆进行8 Die并行测试。测试结果显示,该方案能够有效提升该电源芯片的测试效率,降低测试成本。
关键词 cta8280 CP测试 MULTI-SITE 测试效率
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