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孔形对基于硅微通道阵列的CsI:Tl闪烁屏性能影响的模拟
1
作者 赵子锋 王国政 +3 位作者 郝子恒 张妮 戈钧 杨继凯 《强激光与粒子束》 CAS CSCD 北大核心 2024年第6期112-119,共8页
使用Geant4程序模拟了微孔形状对基于硅微通道阵列的CsI:Tl像素化X射线闪烁屏性能的影响。模拟的闪烁屏性能参数包括:闪烁光子数、底光输出、传输效率、n次全反射占比、调制传递函数(MTF)与空间分辨率的关系。模拟过程中设定微孔的形状... 使用Geant4程序模拟了微孔形状对基于硅微通道阵列的CsI:Tl像素化X射线闪烁屏性能的影响。模拟的闪烁屏性能参数包括:闪烁光子数、底光输出、传输效率、n次全反射占比、调制传递函数(MTF)与空间分辨率的关系。模拟过程中设定微孔的形状分别为方形和圆形,两种孔形的微通道阵列周期相同,均为10μm。模拟结果显示:方形微孔的闪烁光子数优于圆形微孔,闪烁光子数正比于微孔横截面积;闪烁屏厚度小于400μm时,方形微孔的底光输出优于圆形微孔,厚度大于400μm时,圆形微孔的底光输出优于方形微孔;圆形微孔的传输效率优于方形微孔;厚度为40和200μm的方形微孔闪烁屏空间分辨率优于相同厚度的圆形微孔闪烁屏。制备了方形微孔的CsI:Tl闪烁屏样品,测量了其MTF与空间分辨率的关系,当MTF为0.1时,空间分辨率为22.6 lp/mm。 展开更多
关键词 GEANT4 闪烁屏 csi:Tl 调制传递函数 硅微通道阵列
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微柱状CsI闪烁转换屏的制备和表征
2
作者 胡亚华 张敏 +1 位作者 刘思 黄世明 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2024年第1期124-130,共7页
闪烁转换屏是X射线成像探测器的重要组成部分,微柱状的闪烁转换屏可以提高X射线成像探测器的空间分辨率。采用周期为4μm、孔深为100μm的微孔硅阵列作为基底模板,热氧化得到二氧化硅反射层后,再通过真空熔融压力注入法填充CsI获得了具... 闪烁转换屏是X射线成像探测器的重要组成部分,微柱状的闪烁转换屏可以提高X射线成像探测器的空间分辨率。采用周期为4μm、孔深为100μm的微孔硅阵列作为基底模板,热氧化得到二氧化硅反射层后,再通过真空熔融压力注入法填充CsI获得了具有周期结构的微柱状闪烁转换屏,研究了真空度、注入压力、加压时间对硅孔内CsI微柱形貌的影响。结果表明:真空度10^(-2)Pa、注入压力6 MPa、加压时间30 min时,可以有效消除CsI微柱中存在的气泡,得到均匀、连续、致密的微柱状闪烁转换屏。X射线衍射和激发发射谱展示了制备的微柱状像素化CsI闪烁转换屏具有优异的结晶性和发光性能。刃边法测得制备的微柱状CsI闪烁转换屏空间分辨率可达97 lp/mm。 展开更多
关键词 csi闪烁转换屏 真空熔融压力注入 X射线成像 空间分辨率
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CsI(TI)与GAGG(Ce)闪烁屏高分辨X射线成像对比研究 被引量：1
3
作者 吴石琳 刘兴鹏 +1 位作者 安康 王珏 《机械》 2021年第S01期50-55,共6页
作为平板探测器的核心构件,闪烁屏的选型和参数设计直接影响X射线辐射成像系统的成像质量。本文应用光纤耦合全帧CCD型X射线辐射成像测试平台,对不同规格的GAGG(Ce)闪烁屏和碘化铯(Cs I(TI))闪烁屏进行实验对比。结果表明,在高分辨探测... 作为平板探测器的核心构件,闪烁屏的选型和参数设计直接影响X射线辐射成像系统的成像质量。本文应用光纤耦合全帧CCD型X射线辐射成像测试平台,对不同规格的GAGG(Ce)闪烁屏和碘化铯(Cs I(TI))闪烁屏进行实验对比。结果表明,在高分辨探测应用中,GAGG(Ce)闪烁屏比同等厚度Cs I(TI)闪烁屏具有更高的探测效率与空间分辨率,有望替代Cs I(TI)闪烁屏广泛应用于平板探测器。 展开更多
关键词 GAGG(Ce)闪烁屏 csi(ti)闪烁屏 平板探测器 探测效率 空间分辨率
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2000～2800 eV软X光入射CsI(TI)闪烁体的探测效率标定 被引量：2
4
作者 王静 张文海 +2 位作者 杨国洪 韦敏习 郑雷 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2018年第9期240-245,共6页
CsI(Tl)闪烁体是X光转换为可见光的一个比较重要的部件,其转换效率对惯性约束聚变中的X光诊断发挥关键作用。利用北京同步辐射装置4B7A中能束线,针对2000~2800eV能段的软X光入射不同厚度CsI(Tl)闪烁体后转换为可见光的探测效率进行了标... CsI(Tl)闪烁体是X光转换为可见光的一个比较重要的部件,其转换效率对惯性约束聚变中的X光诊断发挥关键作用。利用北京同步辐射装置4B7A中能束线,针对2000~2800eV能段的软X光入射不同厚度CsI(Tl)闪烁体后转换为可见光的探测效率进行了标定。文章详细分析了CsI(Tl)闪烁体在X光激发下的能量沉积和出射可见光的效率。整个探测系统包括入射兼容光源、标准探测器、快门、CsI(TI)闪烁体块、黑腔盒,SI1000可见光CCD等。用曲线拟合的方法归一化入射兼容光,利用SI1000可见光CCD相机作接收系统记录出射可见光,在CCD线性工作范围内,得到CCD上记录的出射可见光计数。标定实验获得2000~2800eV能区标定探测器电流,CCD计数,得到了同一曝光时间下CCD计数和入射光子数的比值,即探测效率。实验结果表明,随着CsI(Tl)闪烁体厚度的增加,探测效率也随之提高。实验方法为后续选择合适厚度闪烁体做软X光探测做基础。 展开更多
关键词 惯性约束聚变 csi(ti)闪烁体 软X光 标定 探测效率
原文传递
X射线闪烁屏针孔相机
5
作者 詹夏宇 唐琦 +5 位作者 陈家斌 宋仔峰 刘中杰 陈黎 梅雨 刘慎业 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第8期968-971,共4页
研制了用于ICF实验激光焦斑监测的X射线闪烁屏针孔相机,通过使用Cs I闪烁屏,能够有效的减小焦斑成像中硬X射线份额,图像的信噪比有了很大提高。使用蒙卡方法对Cs I的能量沉积进行了模拟,计算出适合于针孔相机的闪烁屏厚度。由于针状Cs ... 研制了用于ICF实验激光焦斑监测的X射线闪烁屏针孔相机,通过使用Cs I闪烁屏,能够有效的减小焦斑成像中硬X射线份额,图像的信噪比有了很大提高。使用蒙卡方法对Cs I的能量沉积进行了模拟,计算出适合于针孔相机的闪烁屏厚度。由于针状Cs I闪烁屏的分辨力优于一般闪烁体,制造了针状Cs I闪烁屏作为针孔相机的成像元件。在X射线管上做了Cs I闪烁屏的成像实验,实验表明闪烁屏具有较好的分辨力,最小分辨达到15 lp/mm,整个X射线闪烁屏针孔相机的分辨力好于24μm,和普通针孔相机的分辨力基本相当。 展开更多
关键词 X射线成像 闪烁探测器 针孔成像 针状csi闪烁屏
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X射线能量对基于宏孔硅的X射线CsI(Tl)闪烁屏的影响 被引量：1
6
作者 王双双 刘春阳 +1 位作者 王国政 秦旭磊 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2022年第17期419-424,共6页
建立了基于宏孔硅的X射线CsI(Tl)闪烁屏模型,模拟分析了X射线能量对X射线CsI(Tl)闪烁屏光输出的影响。制备了周期为10μm、方孔边长为8μm的X射线闪烁屏,搭建了X射线成像装置,测量了不同X射线源管电压的X射线成像图,采用Matlab软件分析... 建立了基于宏孔硅的X射线CsI(Tl)闪烁屏模型,模拟分析了X射线能量对X射线CsI(Tl)闪烁屏光输出的影响。制备了周期为10μm、方孔边长为8μm的X射线闪烁屏,搭建了X射线成像装置,测量了不同X射线源管电压的X射线成像图,采用Matlab软件分析了X射线闪烁屏的光输出情况。研究结果表明,闪烁屏厚度越大,闪烁屏平均灰度值越大,与模拟结果一致。 展开更多
关键词 X射线光学 X射线闪烁屏 GEANT4 csi(Tl) 宏孔硅
原文传递
工业X-CT新型探测器技术 被引量：3
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作者 魏彪 潘银松 先武 《重庆大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期1-3,31,共4页
探测器及其技术是工业X CT系统中的关键技术之一。文中提出了基于光纤面板光耦合及传输 ,采用闪烁晶体和自扫描光电二极管列阵器件的X射线新型探测器技术方案 ,并对此方案进行了实验研究。结果表明 ,该新型探测器技术方案具有结构紧凑... 探测器及其技术是工业X CT系统中的关键技术之一。文中提出了基于光纤面板光耦合及传输 ,采用闪烁晶体和自扫描光电二极管列阵器件的X射线新型探测器技术方案 ,并对此方案进行了实验研究。结果表明 ,该新型探测器技术方案具有结构紧凑、性能可靠且分辨率高等特点 ,可以实际应用于工业X CT系统中。 展开更多
关键词 工业X-CT csi(ti)闪烁晶体 光纤面板 自扫描光电二极管列阵器件 探测器
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