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高效容错可逆的汉明码编码和检测电路 被引量:4
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作者 齐学梅 陈付龙 罗永龙 《量子电子学报》 CAS CSCD 北大核心 2013年第5期586-593,共8页
为了检验传输过程中数据的可靠性,设计了容错可逆的汉明码电路。提出了一种新型的可逆逻辑门(FVG),并且完成了FVG门等价的量子实现。利用FVG门和现有的容错可逆门,实现了汉明码编码电路和检测电路。以(7,4)汉明码设计为实例,... 为了检验传输过程中数据的可靠性,设计了容错可逆的汉明码电路。提出了一种新型的可逆逻辑门(FVG),并且完成了FVG门等价的量子实现。利用FVG门和现有的容错可逆门,实现了汉明码编码电路和检测电路。以(7,4)汉明码设计为实例,根据量子代价和延迟对其进行性能评估,结果证明该电路比现有电路的性能提高10%-20%,仿真实验结果显示,电路逻辑结构正确,性能可靠。 展开更多
关键词 量子信息 可逆逻辑 容错 汉明码 fvg门 编码和检测
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