期刊导航
期刊开放获取
重庆大学
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
GaAs/GaAlAs阴极粘结工艺的X射线双晶衍射测量
被引量:
1
1
作者
闫金良
向世明
《红外技术》
EI
CSCD
北大核心
1998年第2期33-37,共5页
分析了GaAs/GaAlAs阴极粘结工艺中应力产生的根源和晶体中应力对X射线双晶衍射峰的宽度和强度的影响。用X射线双晶衍射仪测量了阴极和玻璃热粘结工艺过程中阴极材料外延层和衬底的双晶回摆曲线。实验结果表明,GaAs/...
分析了GaAs/GaAlAs阴极粘结工艺中应力产生的根源和晶体中应力对X射线双晶衍射峰的宽度和强度的影响。用X射线双晶衍射仪测量了阴极和玻璃热粘结工艺过程中阴极材料外延层和衬底的双晶回摆曲线。实验结果表明,GaAs/GaAlAs阴极粘结工艺没有带来明显的附加应力,外延层衍射角度的展宽是由于GaAs阴极组件窗玻璃的非晶态性所致。
展开更多
关键词
砷化镓
阴极
玻璃
X射线双晶衍射
光电子学
下载PDF
职称材料
GaAs/GaAsAl阴极粘结X射线双晶衍射测量
2
作者
阎金良
彭玉田
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第2期119-122,共4页
分析了GaAs/GaAsAl阴极粘结工艺中应力产生的根源和晶体中的应力对X射线双晶衍射峰的宽度和强度的影响。用X射线双晶衍射仪测量了阴极和玻璃热粘结工艺过程中的阴极材料外延层和衬底的双晶回摆曲线。实验结果表明,GaAs/GaAsAl阴极粘...
分析了GaAs/GaAsAl阴极粘结工艺中应力产生的根源和晶体中的应力对X射线双晶衍射峰的宽度和强度的影响。用X射线双晶衍射仪测量了阴极和玻璃热粘结工艺过程中的阴极材料外延层和衬底的双晶回摆曲线。实验结果表明,GaAs/GaAsAl阴极粘结工艺没有带来明显的附加应力,外延层衍射角度的展宽是由于CaAs阴极组件窗玻璃的非晶态性所致。
展开更多
关键词
砷化镓阴极
玻璃
X射线双晶衍射
下载PDF
职称材料
题名
GaAs/GaAlAs阴极粘结工艺的X射线双晶衍射测量
被引量:
1
1
作者
闫金良
向世明
机构
西安应用光学研究所
出处
《红外技术》
EI
CSCD
北大核心
1998年第2期33-37,共5页
文摘
分析了GaAs/GaAlAs阴极粘结工艺中应力产生的根源和晶体中应力对X射线双晶衍射峰的宽度和强度的影响。用X射线双晶衍射仪测量了阴极和玻璃热粘结工艺过程中阴极材料外延层和衬底的双晶回摆曲线。实验结果表明,GaAs/GaAlAs阴极粘结工艺没有带来明显的附加应力,外延层衍射角度的展宽是由于GaAs阴极组件窗玻璃的非晶态性所致。
关键词
砷化镓
阴极
玻璃
X射线双晶衍射
光电子学
Keywords
gaas photocathode x-ray double crystal diffration
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
TN201 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
GaAs/GaAsAl阴极粘结X射线双晶衍射测量
2
作者
阎金良
彭玉田
机构
西安应用光学研究所
出处
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第2期119-122,共4页
基金
兵科院"九五"预研资助
文摘
分析了GaAs/GaAsAl阴极粘结工艺中应力产生的根源和晶体中的应力对X射线双晶衍射峰的宽度和强度的影响。用X射线双晶衍射仪测量了阴极和玻璃热粘结工艺过程中的阴极材料外延层和衬底的双晶回摆曲线。实验结果表明,GaAs/GaAsAl阴极粘结工艺没有带来明显的附加应力,外延层衍射角度的展宽是由于CaAs阴极组件窗玻璃的非晶态性所致。
关键词
砷化镓阴极
玻璃
X射线双晶衍射
Keywords
gaas
photocathode
, Glass,
x-ray
double
crystal
Diffraction
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
TN103 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
GaAs/GaAlAs阴极粘结工艺的X射线双晶衍射测量
闫金良
向世明
《红外技术》
EI
CSCD
北大核心
1998
1
下载PDF
职称材料
2
GaAs/GaAsAl阴极粘结X射线双晶衍射测量
阎金良
彭玉田
《半导体光电》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部