期刊导航
期刊开放获取
重庆大学
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
焊缝缺陷的电子散斑现场检测技术研究
被引量:
4
1
作者
李喜德
刘兴福
陈志
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1998年第10期911-918,共8页
本文用电子散斑干涉及剪切电子散斑干涉技术(ESPI/SESPI)实现了薄壁旋转壳及球形压力容器焊缝缺陷的现场实时检测,给出了实际压力容器焊缝缺陷的无损检测结果与理论分析;将ESPI系统与旋转椭球曲面反射镜检测装置结合...
本文用电子散斑干涉及剪切电子散斑干涉技术(ESPI/SESPI)实现了薄壁旋转壳及球形压力容器焊缝缺陷的现场实时检测,给出了实际压力容器焊缝缺陷的无损检测结果与理论分析;将ESPI系统与旋转椭球曲面反射镜检测装置结合,获得了被测容器焊缝360°全方位准确成象及ESPI全场缺陷检测;通过预制缺陷的ESPI、SESPI无损检测与理论计算,完成了孔洞型缺陷与裂纹型缺陷的变形与梯度分析.
展开更多
关键词
压力容器
焊缝缺陷
电子散斑干涉
无损探测
下载PDF
职称材料
错位相移技术研究
被引量:
6
2
作者
史红民
陆耀东
方竟
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
1998年第2期124-126,共3页
本文在充分总结错位技术与相移技术的基础上,提出了一种基于偏振的错位技术和相移技术,并将二者结合起来,实现了错位与相移的结合,制作出了错位相移器。最后将错位相移器应用于集成电路硅片薄膜应力分布测试仪及错位电子散斑干涉仪...
本文在充分总结错位技术与相移技术的基础上,提出了一种基于偏振的错位技术和相移技术,并将二者结合起来,实现了错位与相移的结合,制作出了错位相移器。最后将错位相移器应用于集成电路硅片薄膜应力分布测试仪及错位电子散斑干涉仪之中。
展开更多
关键词
错位相移
错位电子散斑
干涉仪
下载PDF
职称材料
题名
焊缝缺陷的电子散斑现场检测技术研究
被引量:
4
1
作者
李喜德
刘兴福
陈志
机构
中国科学技术大学
中国工程物理研究院结构力学研究所
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1998年第10期911-918,共8页
基金
中国工程物理研究院院外科学技术基金
文摘
本文用电子散斑干涉及剪切电子散斑干涉技术(ESPI/SESPI)实现了薄壁旋转壳及球形压力容器焊缝缺陷的现场实时检测,给出了实际压力容器焊缝缺陷的无损检测结果与理论分析;将ESPI系统与旋转椭球曲面反射镜检测装置结合,获得了被测容器焊缝360°全方位准确成象及ESPI全场缺陷检测;通过预制缺陷的ESPI、SESPI无损检测与理论计算,完成了孔洞型缺陷与裂纹型缺陷的变形与梯度分析.
关键词
压力容器
焊缝缺陷
电子散斑干涉
无损探测
Keywords
Pressure vessels
Seam weld defects
ESPI
sespi
Nondestructive evaluation
分类号
TH490.66 [机械工程—机械制造及自动化]
下载PDF
职称材料
题名
错位相移技术研究
被引量:
6
2
作者
史红民
陆耀东
方竟
机构
北京光电技术研究所
出处
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
1998年第2期124-126,共3页
基金
北京市自然科学基金
文摘
本文在充分总结错位技术与相移技术的基础上,提出了一种基于偏振的错位技术和相移技术,并将二者结合起来,实现了错位与相移的结合,制作出了错位相移器。最后将错位相移器应用于集成电路硅片薄膜应力分布测试仪及错位电子散斑干涉仪之中。
关键词
错位相移
错位电子散斑
干涉仪
Keywords
Phase shift
Sheargraphy
Phase shearography
sespi
分类号
TH744.3 [机械工程—光学工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
焊缝缺陷的电子散斑现场检测技术研究
李喜德
刘兴福
陈志
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1998
4
下载PDF
职称材料
2
错位相移技术研究
史红民
陆耀东
方竟
《光电子.激光》
EI
CAS
CSCD
1998
6
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部